用于校准齿轮切割机中的测量探针的方法技术

本申请公开一种用于通过使用在齿轮切割机的工件保持器中所接收的工件来校准所述齿轮切割机中的测量探针的方法，其中所述测量探针包括可移动地布置在测量探针基座上的测量探针尖端，其中可以经由所述测量探针的至少一个传感器来确定所述测量探针尖端相对于所述测量探针基座的偏转，并且其中所述测量探针可经由所述齿轮切割机的至少两个运动轴线相对于所述工件保持器横穿。所述方法包括经由所述工件保持器的旋转轴线使所述工件旋转，以及经由所述齿轮切割机的所述至少两个运动轴线使所述测量探针横穿，以使得在完美校准的情况下，所述测量探针尖端在所述齿面上的所述接触点将保持不变。

【技术实现步骤摘要】
用于校准齿轮切割机中的测量探针的方法
本专利技术涉及用于借助于工件，特别是大齿轮来校准齿轮切割机中的测量探针的方法。
技术介绍
在其中安装测量探针以能够检查机器中生产的工件(例如：齿厚检查、节距检查、轮廓检查、侧面衬里检查)的齿轮切割机中，外部影响(诸如温度波动)可能导致机器中的变形最小，这使得这些检查不精确。因此，测量探针相对于齿的位置(以下仅称为测量探针的位置)的变化结果必须定期确定，并通过校准补偿，以能够始终确保良好的测试结果。测量探针的假定位置与实际位置之差在此称为位置误差。当位置误差为零时，完美地校准测量探针。通过所描述的本专利技术的方法确定的测量探针的位置的校正称为位置校正。校准所需的测量探针的位置的确定可以在测量对象上，例如在测量块上进行。然而，直接在夹持在机器中的工件上，特别是在大齿轮上的确定具有某些优点。特别地，消除了工人将测量块合并到机器中并在校准之后再次移除测量块的支出。在用于生产大工件的齿轮切割机中，测量探针的横穿路径也可能不足以能够到达测量块。也通过在工件上进行测量来避免这种情况。从文献EP2554938B1中已知用于借助于工件来校准齿轮切割机中的测量探针的方法，其中通过不同的测量步骤两次确定工件的轮廓。在第一测量步骤中，在工件旋转的同时，测量探针在切线方向上横穿，但在第二测量步骤中，测量探针在非切线方向上或径向上横穿。参考在相应的测量步骤中确定的齿形梯度误差之间的差，测量头的位置误差被确定并用于校准。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供用于借助于工件来校准齿轮切割机中的测量探针的改进方法。在第一方面，本专利技术包括用于通过使用在齿轮切割机的工件保持器中所接收的工件来校准所述齿轮切割机中的测量探针的方法，其中所述测量探针包括可移动地布置在测量探针基座上的测量探针尖端，其中能够经由所述测量探针的至少一个传感器来确定所述测量探针尖端相对于所述测量探针基座的偏转，并且其中所述测量探针能够经由所述齿轮切割机的至少两个运动轴线相对于所述工件保持器横穿，所述方法包括以下步骤：使测量探针和/或工件横穿到相对位置中，在所述相对位置中，所述测量探针尖端接触所述工件的齿面；经由所述工件保持器的旋转轴线使所述工件旋转，并且经由所述齿轮切割机的所述至少两个运动轴线使所述测量探针横穿，以使得：在完美校准的情况下，所述测量探针尖端在所述齿面上的所述接触点将保持不变，并且在完美校准的情况下，所述测量探针尖端的所述偏转或所述偏转的量将采用和/或维持至少一个指定值；确定在至少一个测量点处所述测量探针尖端的所述偏转与所述至少一个指定值的偏差；基于所述偏差确定所述校准的至少一个校正值。根据第二方面，本专利技术包括用于通过使用在齿轮切割机的工件保持器中所接收的工件来校准所述齿轮切割机中的测量探针的方法，其中所述测量探针具有可移动地布置在测量探针基座上的测量探针尖端，其中能够经由所述测量探针的至少一个传感器来确定所述测量探针尖端相对于所述测量探针基座的偏转和/或所述测量探针尖端相对于所述测量探针基座的偏转的实现，并且其中所述测量探针能够经由所述齿轮切割机的至少两个运动轴线相对于所述工件保持器横穿，所述方法包括以下步骤：使测量探针和/或工件横穿到相对位置中，在所述相对位置中，所述测量探针尖端接触所述工件的所述齿面；经由所述工件保持器的旋转轴线使所述工件旋转，并且经由所述齿轮切割机的所述至少两个运动轴线使所述测量探针横穿，以使得：在完美校准的情况下，所述测量探针尖端在所述齿面上的所述接触点将保持不变，并且所述测量探针尖端的所述偏转或所述偏转的量采用和/或维持至少一个指定值；确定在至少一个测量点处所述工件保持器的所述旋转轴线和/或所述齿轮切割机的所述至少两个运动轴线的实际位置与其在完美校准的情况下具有的位置之间的偏差；以及基于所述偏差确定所述校准的至少一个校正值。在根据本专利技术的两个方面中，除了在EP2554938B1中，未测量轮廓角和/或轮廓角偏差。此外，未执行测量探针尖端切向于基圆的运动。而是，测量探针尖端的中心(可能所测量的偏差除外)在圆形路径上移动。因此，提供相当简单的方法，所述方法还允许更全面的校准。下面将详细描述根据第一方面和根据第二方面的方法的优选实施例。除非另有说明，否则优选实施例可以用于发展两方面。优选地，本专利技术可以在没有诸如基准测量块的基准对象的情况下进行，即，仅经由有齿工件进行校准。工件的齿可以任意选择。具体地，工件的齿可以是直的或螺旋齿形的内齿或外齿，其可以具有圆柱形设计和圆锥形设计(斜面齿)。齿可以是对称的也可以是非对称的，即，左侧面和右侧面的轮廓角可以但不必不同。齿的轮廓可以任意选择，特别地也可以选择为渐开线。优选地，根据本专利技术的校准方法在生产周期中完全自动地执行。在根据第一方面的方法中，使用能够向控制单元提供测量探针尖端的偏转的测量探针，即，适合于扫描测量的测量探针。另一方面，为了进行根据第二方面的方法，还可以使用仅可以输出测量探针尖端相对于测量探针基座的特定偏转的实现的测量探针，即，仅适合于开关测量的测量探针。根据本专利技术，可以使用可以仅输出偏转的量的测量探针(在开关探针中：开关探针仅可以输出是否存在接触)。然而，还可以使用另外还可以输出倾斜方向的测量探针。然而，该信息不是绝对必要的。根据本专利技术的可能实施例，针对多个测量点确定偏差，并且基于多个偏差确定至少一个校正值。特别地，可以在多个测量点上确定偏差的曲线。根据本专利技术的可能实施例，将偏差和/或偏差的曲线与针对不同的校准误差和/或偏差的理论曲线确定的多个理论偏差进行比较，以确定校准的至少一个校正值。根据本专利技术的可能实施例，在至少一个第一测量行程中，确定与工件的第一侧面接触的偏差，并且在至少一个第二测量行程中，确定与工件的第二侧面、优选相对的侧面接触的偏差。优选地，在若干测量点上分别为两个侧面确定偏差。由于在两个侧面上进行测量，因此附加信息可用于校准。根据本专利技术的可能实施例，针对至少两个运动方向和/或运动轴线确定校正值，其中运动方向和/或运动轴线优选地允许在垂直于工件保持器的旋转轴线的平面中运动。优选地，为此进行至少两次测量行程，在每次测量行程中确定偏差。与现有技术相比，获得的优点在于，通过两次测量，不仅可以校正第一方向上的误差，而且可以校正第二方向上的误差。优选地，两个校准路径布置在两个不同的侧面上。根据本专利技术的可能实施例，同时和/或连续地经由工件保持器的旋转轴线实现使工件旋转，并且经由齿轮切割机的至少两个运动轴线实现使测量探针横穿。具体地，当测量探针可以输出测量探针尖端相对于测量探针基座的偏转时，可以采用这种过程。根据本专利技术的另一种可能实施例，交替地和/或间歇地经由工件保持器的旋转轴线实现使工件旋转，并且经由齿轮切割机的至少两个运动轴线实现使测量探针横穿。当测量探针仅可以输出测量探针尖端相对于测量探针基座的偏转的实现时，即本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于通过使用在齿轮切割机的工件保持器中所接收的工件来校准所述齿轮切割机中的测量探针的方法，其中所述测量探针包括可移动地布置在测量探针基座上的测量探针尖端，其中能够经由所述测量探针的至少一个传感器来确定所述测量探针尖端相对于所述测量探针基座的偏转，并且其中所述测量探针能够经由所述齿轮切割机的至少两个运动轴线相对于所述工件保持器横穿，/n所述方法包括以下步骤：/n-使测量探针和/或工件横穿到相对位置中，在所述相对位置中，所述测量探针尖端接触所述工件的齿面；/n-经由所述工件保持器的旋转轴线使所述工件旋转，并且经由所述齿轮切割机的所述至少两个运动轴线使所述测量探针横穿，以使得：/n-在完美校准的情况下，所述测量探针尖端在所述齿面上的接触点将保持不变，并且/n-在完美校准的情况下，所述测量探针尖端的所述偏转或所述偏转的量将采用和/或维持至少一个指定值；/n-确定在至少一个测量点处所述测量探针尖端的所述偏转与所述至少一个指定值的偏差；/n-基于所述偏差确定所述校准的至少一个校正值。/n

【技术特征摘要】
20190226 DE 102019104891.51.一种用于通过使用在齿轮切割机的工件保持器中所接收的工件来校准所述齿轮切割机中的测量探针的方法，其中所述测量探针包括可移动地布置在测量探针基座上的测量探针尖端，其中能够经由所述测量探针的至少一个传感器来确定所述测量探针尖端相对于所述测量探针基座的偏转，并且其中所述测量探针能够经由所述齿轮切割机的至少两个运动轴线相对于所述工件保持器横穿，
所述方法包括以下步骤：
-使测量探针和/或工件横穿到相对位置中，在所述相对位置中，所述测量探针尖端接触所述工件的齿面；
-经由所述工件保持器的旋转轴线使所述工件旋转，并且经由所述齿轮切割机的所述至少两个运动轴线使所述测量探针横穿，以使得：
-在完美校准的情况下，所述测量探针尖端在所述齿面上的接触点将保持不变，并且
-在完美校准的情况下，所述测量探针尖端的所述偏转或所述偏转的量将采用和/或维持至少一个指定值；
-确定在至少一个测量点处所述测量探针尖端的所述偏转与所述至少一个指定值的偏差；
-基于所述偏差确定所述校准的至少一个校正值。


2.一种用于通过使用在齿轮切割机的工件保持器中所接收的工件来校准所述齿轮切割机中的测量探针的方法，其中所述测量探针包括可移动地布置在测量探针基座上的测量探针尖端，其中能够经由所述测量探针的至少一个传感器来确定所述测量探针尖端相对于所述测量探针基座的偏转和/或所述测量探针尖端相对于所述测量探针基座的偏转的实现，并且其中所述测量探针能够经由所述齿轮切割机的至少两个运动轴线相对于所述工件保持器横穿，
所述方法包括以下步骤：
-使测量探针和/或工件横穿到相对位置中，在所述相对位置中，所述测量探针尖端接触所述工件的所述齿面；
-经由所述工件保持器的旋转轴线使所述工件旋转，并且经由所述齿轮切割机的所述至少两个运动轴线使所述测量探针横穿，以使得：
-在完美校准的情况下，所述测量探针尖端在所述齿面上的接触点将保持不变，并且
-所述测量探针尖端的所述偏转或所述偏转的量采用和/或维持至少一个指定值；
-确定在至少一个测量点处所述工件保持器的所述旋转轴线和/或所述齿轮切割机的所述至少两个运动轴线的实际位置与其在完美校准的情况下具有的位置之间的偏差；以及
-基于所述偏差确定所述校准的至少一个校正值。


3.根据权利要求1或2所述的方法，其中针对多个测量点确定所述偏差，并且基于多个所述偏差确定所述至少一个校正值，其中优选地，在多个测量点上确定所述偏差的曲线。


4.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中将所述偏差和/或所述偏差的所述曲线与针对不同的校准误差和/或所述偏差的理论曲线确定的...

【专利技术属性】
技术研发人员：J·V·豪斯，
申请(专利权)人：利勃海尔齿轮技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：德国;DE