电子天平制造技术

技术编号:2547278 阅读:185 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种电子天平(1),具有:顺序存储测定重量的测定重量存储控制部(33);测定模式存储部(42),存储分别预先设定有不同的平均处理参数的多个测定模式;测定模式用输入部(72),进行从多个测定模式中选择一个测定模式的输入操作;以及平均重量显示控制部(31),根据测定模式的平均处理参数,对多个测定重量进行平均而计算平均重量,将平均重量显示在显示部(60)上,其特征在于,还具有追加变更用输入部(71),用于进行对选择出的测定模式的平均处理参数实施变更的输入操作,平均重量显示控制部(31)根据被实施了变更的平均处理参数,对多个测定重量进行平均而计算平均重量,将平均重量显示在显示部(60)上。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种电子天平,更加具体地讲,涉及能够根据被计量物、计量作业、作业环境的状况选择合适的测定模式(显示条件)进行测定的电子天平。
技术介绍
一般,在电子天平中,检测被计量物的重量而得到的测定重量往往包含被计量物放置在计量器皿上时的振动、以及气流和地面振动等来自外部周围环境的振动。例如,在受到从空调吹出的气流的影响的状态下计量被计量物时,由于产生空调气流引起的天平的摇动,无论经过多久测定重量都在变动。因此,公开了一种具有用于防止气流影响的防风结构的电子天平(例如参照专利文献l)。另一方面,也已开始采用通过平均处理来消除被计量物的测定重量的变动的电子天平。S卩,已开发出一种具有平均处理功能的电子天平,通过陆续地重复检测被计量物的重量,将测定重量顺序存储在缓冲器中,将存储在缓冲器中的测定重量中预先设定的样本数量的测定重量平均化,由此计算平均重量,并在显示画面上显示平均重量。在具有平均处理功能的电子天平中,需要从平均处理的样本数据中去除从计量器皿中增减被计量物后马上产生的振动状态下的测定重量。为此,设定用于判定是否是振动状态的测定重量的变动幅度的阈值(以下称为平均开始解除重量变动量)、和测定重量的变动幅度达到平均开始解除重量变动量以下的状态的持续时间的阈值(以下称为稳定持续时间),根据陆续检测的测定重量与这些阈值的关系来判定是否是振动状态。5艮口,判定为表示陆续检测的测定重量的时间性变化的重量变动量(重量变动幅度)达到平均开始解除重量变动量以下、并且判定为达到平均开始解除重量变动量以下后的持续时间持续了比稳定持续时间长的期间时,判定是"稳定状态",并判定为处于可进行平均处理的状态。并且,在判定是"稳定状态"时,开始测定重量的取样,在取样预先设定的样本数量的测定重量后,计算它们的平均重量,把该计算出的平均重量作为被计量物的"重量"的测试结果显示在显示画面上。这样,在测定重量中包含各种振动干扰时,它们的影响被降低,在处于"稳定状态"后得到平均重量。但是,在具有平均处理功能的电子天平中,为了收集预先设定的样本数量的测定重量并计算平均重量,在所设定的样本数量较大时,截止到在显示画面上显示平均重量需要时间,结果,测定者需要花费时间来得到被计量物的平均重量。相反,在所设定的样本数量较小时,平均化的效果减小,不易得到稳定的平均重量。并且,在少量地逐次追加(或去除)被计量物(例如粉末和液体等)来量取期望的量时,如果不将增减动作前后的测定重量从平均处理中去除,将导致显示对增减前后的测定重量进行平均处理而得到的值。但是,如果追加或去除被计量物引起的重量变动量较小,将导致该重量变动量达到预先设定的平均开始解除重量变动量以下,而且持续稳定持续时间以上,使得显示基于不合适样本的平均重量。因此,期望根据被计量物的轻重、计量作业(单纯的重量测试、量取测试等)以及作业环境,将平均处理的内容调整为适合状况的内容。因此,开发出一种具有平均处理功能的电子天平,可以选择"测定模式",以便与被计量物、计量作业以及作业环境对应地将平均处理的内容调整为合适的内容。例如,对于适合普通测定的平均处理设定"标准测定模式",对于量取测定用途设定"量取测定模式",以便一面陆续地追加(或去除)少量的被计量物一面量取期望的量。当需要在地面振动等外部振动较多的环境下测定时,还设定"抗外界干扰模式"。另外,也可以追加上述之外的测定模式。并且,把进行平均处理时需要设定的样本数量、平均开始解除重量变动量、稳定持续时间等参数作为"平均处理参数",按照测定模式赋予合适的值,在选择各个测定模式时,在各自的样本数量、平均开始解除重量变动量、稳定持续时间等条件下进行平均处理。结果,如果把对标准测定模式设定的样本数量作为基准,在选择设定了比其更小的样本数量的测定模式时,计算平均重量的时间将短于标准测定模式,即加快所显示的平均重量的应答性,所以能够快速地进行放置或去除被计量物。并且,把对标准测定模式设定的平均开始解除重量变动量作为基准,在选择设定了比其更小的平均开始解除重量变动量的测定模式时,在陆续地追加(去除)少量的被计量物(例如粉末和液体等)时,追加或去除被计量物引起的重量变动量容易大于平均开始解除重量变动量,不容易在增减动作中开始平均处理。以下为了简化说明,说明具有以下平均处理功能的电子天平,艮P,可以选择分别预先设定了不同样本数量的"标准测定模式"和"量取测定模式"这两个测定模式。如上所述,在具有平均处理功能的电子天平中,把通过平均处理计算出的平均重量作为被计量物的"重量"的测定结果显示在显示画面上。此时,要求电子天平处于"稳定状态",并且要求获得测定结果的应答性的速度。在此,说明处于"稳定状态"的电子天平的"平均重量的稳定性"及"平均重量的应答性"。将计算平均重量时的样本数量设定得越大,"平均重量的稳定性"越能得到改善。但是,在样本数量变大时,截止到在显示画面上显示平均重量所需的时间变长。另一方面,为了加快"平均重量的应答性",将计算平均重量的样本数量设定得越小越能得到改善。但是,在样本数量变小时,不能降低各种振动干扰的影响,平均重量容易变动。艮P,"平均重量的稳定性"和"平均重量的应答性"具有相反的性质。因此,在以往的电子天平中,考虑到"平均重量的稳定性"与"平 均重量的应答性"的平衡,预先存储样本数量被设定得较大的"标准测 定模式"、和样本数量被设定得较小的"量取测定模式"这两种测定模式(显示条件)。由此,电子天平的使用者为了应对各种用途和使用环境, 可以选择"标准测定模式"和"量取测定模式"任意一方来计量被计量 物。专利文献1:日本特开平9一43041号公报在以往的电子天平中,电子天平的使用者选择"标准测定模式"和 "量取测定模式"任意一方来计量被计量物。但是,并不是根据用途和使用环境来确定是"标准测定模式"还是 "量取测定模式",在利用"标准测定模式"测定的过程中,存在相比当 前的"标准测定模式""想要再稍微加快应答性"的情况、和"由于使用 环境恶劣而想要再稍微提高稳定性"的情况。S卩,有时并不希望进行调 整对电子天平自身客观设定的稳定性和应答性的"测定模式"的变更, 而是希望使用者以当前测定中的主观上的稳定性和应答性为基准,根据 感觉实施稳定性和应答性的变更。
技术实现思路
本专利技术的目的在于,提供一种能够根据感觉自由设定"平均重量的 稳定性"和"平均重量的应答性"等的平衡的电子天平。为了解决上述问题而完成的本专利技术的电子天平具有测定重量存储控制部,其通过陆续地检测被计量物的重量,把检测到的测定重量顺序存储在测定重量存储部中;测定模式存储部,其存储分别预先设定有不 同的平均处理参数的多个测定模式;测定模式用输入部,其进行从存储 在所述测定模式存储部中的多个测定模式中选择一个测定模式的输入操 作;以及平均重量显示控制部,其根据选择出的测定模式的平均处理参 数,对存储在所述测定重量存储部中的多个测定重量进行平均而计算平 均重量,将该平均重量显示在显示部上,所述电子天平还具有追加变更 用输入部,该追加变更用输入部用于进行对选择出的测定模式的平均处理参数实施变更的输入操作,所述平均重量显示控制部根据被实施了变 更的平均处理参数,对多个测定重量进行平均而计算平均重量本文档来自技高网
...

【技术保护点】
一种电子天平,该电子天平具有: 测定重量存储控制部,其通过陆续地检测被计量物的重量,把检测到的测定重量顺序存储在测定重量存储部中; 测定模式存储部,其存储分别预先设定有不同的平均处理参数的多个测定模式; 测定模式用输入部, 其进行从存储在所述测定模式存储部中的多个测定模式中选择一个测定模式的输入操作;以及 平均重量显示控制部,其根据选择出的测定模式的平均处理参数,对存储在所述测定重量存储部中的多个测定重量进行平均而计算平均重量,将该平均重量显示在显示部上 , 其特征在于, 所述电子天平还具有追加变更用输入部,该追加变更用输入部用于进行对选择出的测定模式的平均处理参数实施变更的输入操作, 所述平均重量显示控制部根据被实施了变更的平均处理参数,对多个测定重量进行平均而计算平均重 量,将该平均重量显示在显示部上。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员:浜本弘
申请(专利权)人:株式会社岛津制作所
类型:发明
国别省市:JP[日本]

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1
相关领域技术
  • 暂无相关专利