一种根据海水折射反射率影响进行水下成像方法及装置制造方法及图纸

技术编号:25406928 阅读:28 留言:0更新日期:2020-08-25 23:09
本发明专利技术公开了一种一种根据海水折射反射率影响进行水下成像方法及装置。其中,该方法包括:获取图像数据;根据海水折射率和反射率,对所述图像数据进行预设调整;输出调整后的图像数据。本发明专利技术解决了目前现有技术中在采集水下图像数据的时候不考虑海水的折射反射率的影响,导致图像数据采集不精确的技术问题。

【技术实现步骤摘要】
一种根据海水折射反射率影响进行水下成像方法及装置
本专利技术涉及水下拍摄领域,具体而言,涉及一种一种根据海水折射反射率影响进行水下成像方法及装置。
技术介绍
随着智能化水下拍摄设备的不断发展,人们对水下成像系统所成像的质量和智能化程度要求越来越高。目前,针对海洋水下成像的设备在进行水下作业时,往往采用直接图像数据采集并进行图像输出,即所得到的图像数据为摄像头采集到的原始图像数据。但是,现有技术中的水下成像设备进行拍摄成像时,经常对原始图像数据进行直接地水下摄像头拍照采集,而不会考虑海水环境本身对图像的影响,例如,海水的折射反射率对采集到的图像进行影响的情况,那么这样直接采集到的图像数据其反映的图像精准度就会有所偏差,进而导致后续对图像进行分析时的分析不准确。针对上述的问题,目前尚未提出有效的解决方案。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种一种根据海水折射反射率影响进行水下成像方法及装置,以至少解决目前现有技术中在采集水下图像数据的时候不考虑海水的折射反射率的影响,导致图像数据采集不精确的技术问题。根据本专利技术实施例的一个方面,提供了一种根据海水折射率和反射率影响进行水下成像的方法,包括:获取图像数据;根据海水折射率和反射率,对所述图像数据进行预设调整;输出调整后的图像数据。可选的,所述获取图像数据之后,所述方法还包括:获取环境海水样本;根据所述环境海水样本,计算所述海水折射率和反射率。可选的,所述根据海水折射率和反射率,对所述图像数据进行预设调整包括:根据所述海水折射率和反射率,生成补偿值;根据所述补偿值,调整所述图像数据的像素坐标。可选的,所述补偿值为所述海水折射率和反射率的加权平均值。可选的,所述调整所述图像数据的像素坐标的公式为:调整后的像素坐标=调整前的像素坐标+(补偿值*k),其中,k为补偿因子。可选的,在所述输出调整后的图像数据之前,所述方法还包括:将所述海水折射率和反射率标记在所述图像数据之上。根据本专利技术实施例的另一方面,还提供了一种根据海水折射率和反射率影响进行水下成像的装置,包括:获取模块,用于获取图像数据;调整模块,用于根据海水折射率和反射率,对所述图像数据进行预设调整;输出模块,用于输出调整后的图像数据。根据本专利技术实施例的另一方面,还提供了一种非易失性存储介质,所述非易失性存储介质包括存储的程序,其中,所述程序运行时控制非易失性存储介质所在的设备执行所述的方法。根据本专利技术实施例的另一方面,还提供了一种电子装置,包含处理器和存储器;所述存储器中存储有计算机可读指令,所述处理器用于运行所述计算机可读指令,其中,所述计算机可读指令运行时执行所述的方法。在本专利技术实施例中,采用获取图像数据;根据海水折射率和反射率,对所述图像数据进行预设调整;输出调整后的图像数据的方式,通过增加对折射反射率的补偿计算,达到了优化图像数据的目的,进而解决了目前现有技术中在采集水下图像数据的时候不考虑海水的折射反射率的影响,导致图像数据采集不精确的技术问题。附图说明此处所说明的附图用来提供对本专利技术的进一步理解,构成本申请的一部分,本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术,并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中:图1是根据本专利技术实施例的一种根据海水折射率和反射率影响进行水下成像方法的流程图;图2是根据本专利技术实施例的一种根据海水折射率和反射率影响进行水下成像装置的结构框图。具体实施方式为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案,下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分的实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都应当属于本专利技术保护的范围。需要说明的是,本专利技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象,而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换,以便这里描述的本专利技术的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外,术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形,意图在于覆盖不排他的包含,例如,包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元,而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。实施例一根据本专利技术实施例,提供了一种根据海水折射率和反射率影响进行水下成像的方法的实施例,需要说明的是,在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行,并且,虽然在流程图中示出了逻辑顺序,但是在某些情况下,可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。图1是根据本专利技术实施例的一种根据海水折射率和反射率影响进行水下成像方法的流程图,如图1所示,该方法包括如下步骤:步骤S102,获取图像数据。具体的,在海洋水下拍摄作业环境中,海水作为液体介质存在于被拍摄的物体与水下摄像机镜头之间,因此本专利技术实施例为了通过参考海水折射率和反射率值的影响达到精确和优化图像的目的,首先要进行图像的采集,该图像采集到的图像数据时水下摄像头对需要拍摄的物体直接进行拍照得到的原始图像数据,即未经过任何加工的图像数据。可选的,所述获取图像数据之后,所述方法还包括:获取环境海水样本;根据所述环境海水样本,计算所述海水折射率和反射率。具体的,在水下摄像头采集了需要进行水下拍摄物体的时候,由于拍摄物体与拍摄设备的摄像头之间存在海水介质,因此需要对海水的折射率和反射率值进行计算和考量,以便增加图像生成的精度。那么为了采集海水的折射率和反射率值,首先要采集水下摄像头周围的环境海水样本,然后通过采集到的环境海水样本来计算海水折射率和反射率值。需要说明的是,海水折射率指光波在真空中的传播速度与在海水中的传播速度之比。不同波长的光折射率是不相等的。海水折射率还随温度的升高而减小,随盐度的增大而增大。不同波长的光折射率是不相等的。海水折射率还随温度的升高而减小,随盐度的增大而增大。反射率指的是的辐射能量占总辐射能量的百分比,称为反射率。不同物体的反射率也不同,这主要取决于物体本身的性质(表面状况),以及入射电磁波的波长和入射角度,反射率的范围总是反射率小于等于1,利用反射率可以判断物体的性质。还需要说明的是,本专利技术实施例中的折射率可以是通过自准直法进行测量,在测角仪上也可采用自准直法测量材料的折射率。光线在棱镜前表面的入射角为i,如果折射光线OC刚好垂直于棱镜后表面BD,则反射后的光路COS与入射光路SOC重合,称为自准直光路。此时光线在前表面的折射角i┡与棱镜顶角θ相等,因此根据折射定律n=sini/sinθ,测出i和θ,即可求得n。在测角仪上通过观察和调整来建立最小偏向角光路或者自准直光路,不仅麻烦,且有主观误差,近年来,中国在数字式测角仪的基础上本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种根据海水折射率和反射率影响进行水下成像的方法,其特征在于,包括:/n获取图像数据;/n根据海水折射率和反射率,对所述图像数据进行预设调整;/n输出调整后的图像数据。/n

【技术特征摘要】
1.一种根据海水折射率和反射率影响进行水下成像的方法,其特征在于,包括:
获取图像数据;
根据海水折射率和反射率,对所述图像数据进行预设调整;
输出调整后的图像数据。


2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取图像数据之后,所述方法还包括:
获取环境海水样本;
根据所述环境海水样本,计算所述海水折射率和反射率。


3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据海水折射率和反射率,对所述图像数据进行预设调整包括:
根据所述海水折射率和反射率,生成补偿值;
根据所述补偿值,调整所述图像数据的像素坐标。


4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述补偿值为所述海水折射率和反射率的加权平均值。


5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述调整所述图像数据的像素坐标的公式为:调整后的像素坐标=调整前的像素坐标...

【专利技术属性】
技术研发人员:孙超君葛磊王海博
申请(专利权)人:山东易华录信息技术有限公司
类型:发明
国别省市:山东;37

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