一种光模块测试工装制造技术

本发明专利技术公开了一种光模块测试工装，包括下夹块、配合连接在下夹块上端的夹块主体、配合连接在夹块主体上的上夹块以及通过锁扣组件连接在夹块主体上且用于盖合夹块主体的压盖；所述夹块主体内开设有用于放置光模块的方形槽，所述方形槽中部设置有导热块，所述导热块四周均布有高频探针；该工装结构可靠，操作性能好，使用性能高，产品测试前后装卸方便，省时省力，有效的提高测试的工作效率和测试安装精度。

【技术实现步骤摘要】
一种光模块测试工装
本专利技术涉及光通讯系统
，具体涉及一种光模块测试工装。
技术介绍
随着光通讯系统运用越来越广泛，相应的光模块需求也在扩大，加上客户对产品性能提出更高的要求，所以为保障产品质量，都会对其大量的测试验证，这就迫切的需要有测试简单，工作效率高的测试工装，但目前测试夹具都是厂商自行设计，没有固定结构模型，且产品在工装中的装夹并不可靠，导致后续测试的准确性低，不能为产品质量的测试提供可靠依据。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种光模块测试工装，以解决现有测试工装安装精度低、测试效率低的问题。本专利技术解决上述技术问题的技术方案如下：一种光模块测试工装，包括下夹块、配合连接在下夹块上端的夹块主体、配合连接在夹块主体上的上夹块以及通过锁扣组件连接在夹块主体上且用于盖合夹块主体的压盖；所述夹块主体内开设有用于放置光模块的方形槽，所述方形槽中部设置有导热块，所述导热块四周均布有高频探针。采用上述技术方案的有益效果为：该工装结构可靠，操作性能好，使用性能高，产品测试前后装卸方便，省时省力，有效的提高测试的工作效率和测试安装精度；通过下夹块、夹块主体以及上夹块之间的配合连接，为被测件提供可靠的安装基础，安装可靠稳定；通过锁扣组件及压盖提高可靠的锁紧基础，提高测试过程中的稳定性，只需拉动锁扣组件即可完成测试件的安装固定或拆卸，使用方便，操作便捷。进一步，下夹块与所述夹块主体上分别设置有相对应的中心通孔，中心通孔的四周均布有高频探针沉孔，导热块配合连接在中心通孔内，高频探针配合连接在高频探针沉孔内。采用上述技术方案的有益效果为：通过中心通孔为导热块提供安装定位基础，高频探针沉孔为高频探针提供安装基础，安装可靠稳定。进一步，下夹块的中心通孔直径大于夹块主体的中心通孔直径。采用上述技术方案的有益效果为：通过对中心通孔的直径限定，形成下大上下结构，有效的对导热块起到限位作用，提高安装的稳定性。进一步，夹块主体的四周边角处设置有下凸台，下凸台的相邻侧面上分别设置有半圆形凹槽，且两个半圆形凹槽位于同一高度，下凸台上设置有定位孔。采用上述技术方案的有益效果为：通过四周的下凸台设置使得夹块主体形成四周高中部低的结构形状，且该结构形状结构与压盖的形状结构相适配，便于压盖可靠的配合在夹块主体上，同时通过半圆形凹槽便于锁扣组件和压板轴的可靠放置。进一步，上夹块包括与下凸台相配合的上凸台，上凸台的相邻侧面上分别设置有与半圆形凹槽相配合的上定位槽，上凸台上设置有与下凸台上的定位孔相配合的定位柱。采用上述技术方案的有益效果为：上凸台与下凸台配合，且上定位槽与半圆形凹槽配合形成孔状结构便于锁扣组件及压盖的配合连接，通过定位柱保证上夹块与夹块主体的可靠装配定位。进一步，导热块为具有台阶的圆柱体结构，导热块的上端直径小于所述下端直径，导热块的上端贴合在光模块上，导热块的下端贴合在所述下夹块上。采用上述技术方案的有益效果为：由于PLCC上的散热区域有限，通过设计成上小下大的结构，可以高效的把热量散发出去，避免损坏模具。进一步，压盖包括盖体以及与盖体连接为一体式结构的连接板，连接板通过压板轴连接在夹块主体的两个下凸台之间，盖体两侧面分别轴向贯穿有通孔，锁扣组件插合在所述通孔内，盖体上设置有用于避让光模块的避让槽。采用上述技术方案的有益效果为：通过压盖盖合在夹块主体上，保证被测件的可靠定位，避免测试过程中的移动，通过压板轴实现压盖与夹块主体之间的转动，便于盖合操作；通过避让槽，保证避让被测件的光缆线等部件，提高盖合的严密性，提高定位安装可靠性。进一步，锁扣组件包括锁杆、分别连接在锁杆两端的锁扣以及垂直连接在锁杆与所述锁扣之间的把手，锁扣的端部贯穿夹块主体的半圆形凹槽并延伸至压盖的通孔内。采用上述技术方案的有益效果为：锁杆和锁扣分别与把手之间呈现角度设置，便于光装模块后锁紧和拆卸时员工把持，同时也可以在工装打开状态时为压盖提供支撑，结构可靠，性能好。进一步，锁扣的端部设置有倒角结构。采用上述技术方案的有益效果为：通过倒角设置，方便与压盖锁紧的导正，提高连接性能。进一步，压板轴的长度小于所述盖体两侧的通孔之间的间距。采用上述技术方案的有益效果为：通过长度及间距的限定，使得在工装整体装配好后，锁扣将起到阻挡压板轴轴向滑出的作用；同时，该工装在组装压盖的时候，不需要考虑方向问题，设计均为方形和对称设计，四周方向均可安装，使用性能好。本专利技术具有以下有益效果：本专利技术所提供的一种光模块测试工装，该工装结构可靠，操作性能好，使用性能高，产品测试前后装卸方便，省时省力，有效的提高测试的工作效率和测试安装精度，通过下夹块、夹块主体以及上夹块之间的配合连接，为被测件提供可靠的安装基础，安装可靠稳定；通过锁扣组件及压盖提高可靠的锁紧基础，提高测试过程中的稳定性，只需拉动锁扣组件即可完成测试件的安装固定或拆卸，使用方便，操作便捷。附图说明图1为该测试工装结构示意图；图2为该测试工装装配截面示意图；图3为该测试工装使用示意图；图4为该测试工装的下夹块结构示意图；图5为该测试工装的夹块主体结构示意图；图6为该测试工装的上夹块结构示意图；图7为该测试工装的压盖结构示意图；图8为该测试工装的锁扣组件结构示意图；图1至图8中所示附图标记分别表示为：1-下夹块，2-夹块主体，3-上夹块，100-锁扣组件，4-压盖，5-方形槽，6-导热块，7-高频探针，8-中心通孔，9-高频探针沉孔，10-下凸台，11-半圆形凹槽，12-定位孔，30-上凸台，31-定位槽，32-定位柱，40-盖体，41-连接板，42-通孔，43-压板轴，44-避让槽，101-锁杆，102-锁扣，103-把手，104-倒角结构。具体实施方式以下结合附图对本专利技术的原理和特征进行描述，所举实例只用于解释本专利技术，并非用于限定本专利技术的范围。如图1至图3所示，一种光模块测试工装，包括下夹块1、配合连接在下夹块1上端的夹块主体2、配合连接在夹块主体2上的上夹块3以及通过锁扣组件100连接在夹块主体2上且用于盖合夹块主体2的压盖4；夹块主体2内开设有用于放置光模块的方形槽5，方形槽5中部设置有导热块6，导热块6四周均布有高频探针7。高频探针7选择现有中间大两头小，一端为锥形，另一端为四周凸中心凹的齿形结构，从而保证高频探针7在PCB与光模块之间的电气连接。该工装结构可靠，操作性能好，使用性能高，产品测试前后装卸方便，省时省力，有效的提高测试的工作效率和测试安装精度，通过下夹块1、夹块主体2以及上夹块3之间的配合连接，为被测件提供可靠的安装基础，安装可靠稳定。通过锁扣组件100及压盖4提高可靠的锁紧基础，提高测试过程中的稳定性。只需拉动锁扣组件100即可完成测试件的安装固定或拆卸，使用方便，操作便捷。在操作装配时，依次装配下夹块1、高频探针7、导热块6及夹块本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光模块测试工装，其特征在于，包括下夹块(1)、配合连接在所述下夹块(1)上端的夹块主体(2)、配合连接在所述夹块主体(2)上的上夹块(3)以及通过锁扣组件(100)连接在所述夹块主体(2)上且用于盖合所述夹块主体(2)的压盖(4)；/n所述夹块主体(2)内开设有用于放置光模块的方形槽(5)，所述方形槽(5)中部设置有导热块(6)，所述导热块(6)四周均布有高频探针(7)。/n

【技术特征摘要】
1.一种光模块测试工装，其特征在于，包括下夹块(1)、配合连接在所述下夹块(1)上端的夹块主体(2)、配合连接在所述夹块主体(2)上的上夹块(3)以及通过锁扣组件(100)连接在所述夹块主体(2)上且用于盖合所述夹块主体(2)的压盖(4)；
所述夹块主体(2)内开设有用于放置光模块的方形槽(5)，所述方形槽(5)中部设置有导热块(6)，所述导热块(6)四周均布有高频探针(7)。


2.根据权利要求1所述的光模块测试工装，其特征在于，所述下夹块(1)与所述夹块主体(2)上分别设置有相对应的中心通孔(8)，所述中心通孔(8)的四周均布有高频探针沉孔(9)，所述导热块(6)配合连接在所述中心通孔(8)内，所述高频探针(7)配合连接在所述高频探针沉孔(9)内。


3.根据权利要求1所述的光模块测试工装，其特征在于，所述夹块主体(2)的四周边角处设置有下凸台(10)，所述下凸台(10)的相邻侧面上分别设置有半圆形凹槽(11)，且两个所述半圆形凹槽(11)位于同一高度，所述下凸台(10)上设置有定位孔(12)。


4.根据权利要求3所述的光模块测试工装，其特征在于，所述上夹块(3)包括与所述下凸台(10)相配合的上凸台(30)，所述上凸台(30)的相邻侧面上分别设置有与所述半圆形凹槽(11)相配合的上定位槽(31)，所述上凸台(30)上设置有与所述下凸台(10)上的定位孔(12)相配合的定位柱(32)。


5.根据权利要求4所述的光模块测试工装，其特征在于，所述下夹块(1...

【专利技术属性】
技术研发人员：蒲江，韩刚，肖泽智，李晨，
申请(专利权)人：四川华丰企业集团有限公司，
类型：发明
国别省市：四川;51