一种光模块测试工装制造技术

技术编号:25376923 阅读:35 留言:0更新日期:2020-08-25 22:46
本发明专利技术公开了一种光模块测试工装,包括下夹块、配合连接在下夹块上端的夹块主体、配合连接在夹块主体上的上夹块以及通过锁扣组件连接在夹块主体上且用于盖合夹块主体的压盖;所述夹块主体内开设有用于放置光模块的方形槽,所述方形槽中部设置有导热块,所述导热块四周均布有高频探针;该工装结构可靠,操作性能好,使用性能高,产品测试前后装卸方便,省时省力,有效的提高测试的工作效率和测试安装精度。

【技术实现步骤摘要】
一种光模块测试工装
本专利技术涉及光通讯系统
,具体涉及一种光模块测试工装。
技术介绍
随着光通讯系统运用越来越广泛,相应的光模块需求也在扩大,加上客户对产品性能提出更高的要求,所以为保障产品质量,都会对其大量的测试验证,这就迫切的需要有测试简单,工作效率高的测试工装,但目前测试夹具都是厂商自行设计,没有固定结构模型,且产品在工装中的装夹并不可靠,导致后续测试的准确性低,不能为产品质量的测试提供可靠依据。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种光模块测试工装,以解决现有测试工装安装精度低、测试效率低的问题。本专利技术解决上述技术问题的技术方案如下:一种光模块测试工装,包括下夹块、配合连接在下夹块上端的夹块主体、配合连接在夹块主体上的上夹块以及通过锁扣组件连接在夹块主体上且用于盖合夹块主体的压盖;所述夹块主体内开设有用于放置光模块的方形槽,所述方形槽中部设置有导热块,所述导热块四周均布有高频探针。采用上述技术方案的有益效果为:该工装结构可靠,操作性能好,使用性能高,产品测试前后装卸方便,省时省本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光模块测试工装,其特征在于,包括下夹块(1)、配合连接在所述下夹块(1)上端的夹块主体(2)、配合连接在所述夹块主体(2)上的上夹块(3)以及通过锁扣组件(100)连接在所述夹块主体(2)上且用于盖合所述夹块主体(2)的压盖(4);/n所述夹块主体(2)内开设有用于放置光模块的方形槽(5),所述方形槽(5)中部设置有导热块(6),所述导热块(6)四周均布有高频探针(7)。/n

【技术特征摘要】
1.一种光模块测试工装,其特征在于,包括下夹块(1)、配合连接在所述下夹块(1)上端的夹块主体(2)、配合连接在所述夹块主体(2)上的上夹块(3)以及通过锁扣组件(100)连接在所述夹块主体(2)上且用于盖合所述夹块主体(2)的压盖(4);
所述夹块主体(2)内开设有用于放置光模块的方形槽(5),所述方形槽(5)中部设置有导热块(6),所述导热块(6)四周均布有高频探针(7)。


2.根据权利要求1所述的光模块测试工装,其特征在于,所述下夹块(1)与所述夹块主体(2)上分别设置有相对应的中心通孔(8),所述中心通孔(8)的四周均布有高频探针沉孔(9),所述导热块(6)配合连接在所述中心通孔(8)内,所述高频探针(7)配合连接在所述高频探针沉孔(9)内。


3.根据权利要求1所述的光模块测试工装,其特征在于,所述夹块主体(2)的四周边角处设置有下凸台(10),所述下凸台(10)的相邻侧面上分别设置有半圆形凹槽(11),且两个所述半圆形凹槽(11)位于同一高度,所述下凸台(10)上设置有定位孔(12)。


4.根据权利要求3所述的光模块测试工装,其特征在于,所述上夹块(3)包括与所述下凸台(10)相配合的上凸台(30),所述上凸台(30)的相邻侧面上分别设置有与所述半圆形凹槽(11)相配合的上定位槽(31),所述上凸台(30)上设置有与所述下凸台(10)上的定位孔(12)相配合的定位柱(32)。


5.根据权利要求4所述的光模块测试工装,其特征在于,所述下夹块(1...

【专利技术属性】
技术研发人员:蒲江韩刚肖泽智李晨
申请(专利权)人:四川华丰企业集团有限公司
类型:发明
国别省市:四川;51

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