一种高稳定高通量的偏振干涉仪及干涉方法技术

技术编号:25344308 阅读:31 留言:0更新日期:2020-08-21 17:02
本发明专利技术属于光谱成像领域,涉及一种高稳定高通量的偏振干涉仪及干涉方法。解决上述迈克尔逊干涉仪不稳定以及基于双折射晶体偏振干涉仪的分辨率以及能量利用率的问题,偏振干涉仪,包括沿光路依次设置的一个偏振分束器、三个平面反射镜和一个非偏分束器;还包括设置在偏振分束器光路中的半波片和光程差标准具;半波片将偏振分束器输出两路光的振动方向调节一致;光程差标准具将偏振分束器输出的两路光之间产生固定的光程差;三个平面反射镜将偏振分束器输出的两路光反射至非偏分束器;非偏分束器将两路光均反射和透射,形成干涉条纹。本发明专利技术干涉仪具有高灵敏度、高能量利用率及高光谱分辨率。

【技术实现步骤摘要】
一种高稳定高通量的偏振干涉仪及干涉方法
本专利技术属于光谱成像领域,涉及一种高稳定性高通量的偏振干涉仪。
技术介绍
成像光谱技术能够同时获得目标的图像信息和光谱特征,目前已在科学研究、环境监测、生物医学、食品安全等领域得到了广泛的应用。成像光谱技术主要分为色散型和干涉型。由于色散型在空间分辨率、光谱分辨率和弱信号监测方面不占优势,因此该类光谱仪在应用方面受到了很大的限制,不过干涉型在原理上能够克服这些问题。干涉仪是干涉成像光谱仪中的核心,干涉仪的种类很多,主要包括迈克尔逊干涉仪,Sagnac干涉仪以及基于双折射晶体的偏振干涉仪。其中迈克尔逊干涉仪属于非共光路干涉仪,光程差是通过调节两臂的长度产生,但两臂在空间上不重合,因此在测量过程中产生的干涉条纹很容易受外界因素的影响,从而影响探测精度;Sagnac干涉仪和基于双折射晶体的偏振干涉仪属于共光路干涉仪,这种干涉仪由于两束光在干涉仪中的光程在空间上基本是重合的,因此相对于非共光路型可大大减小外界因素的影响。对于以双折射晶体为分光元件的干涉仪,具有共光路和无动静扫描的特点,因此具有稳定性强、本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种高稳定高通量的偏振干涉仪,其特征在于:包括沿光路依次设置的偏振分束器(4)、三个平面反射镜(5)和一个非偏分束器(6);还包括设置在偏振分束器(4)至非偏分束器(6)传播光路中的半波片(7)和光程差标准具(8);所述半波片(7)位于的偏振分束器(4)的任一出射光路中;所述光程差标准具(8)位于偏振分束器(4)的任一出射光路或两路出射光路中;/n所述偏振分束器(4)用于将目标光源分成两路振动方向相互垂直的S光和P光;所述半波片(7)用于调节S光或P光的振动方向,使得S光和P光具有相同的振动方向;所述光程差标准具(8)用于调节S光和/或P光的光程,使得S光和P光之间产生固定的光程差;所述三...

【技术特征摘要】
1.一种高稳定高通量的偏振干涉仪,其特征在于:包括沿光路依次设置的偏振分束器(4)、三个平面反射镜(5)和一个非偏分束器(6);还包括设置在偏振分束器(4)至非偏分束器(6)传播光路中的半波片(7)和光程差标准具(8);所述半波片(7)位于的偏振分束器(4)的任一出射光路中;所述光程差标准具(8)位于偏振分束器(4)的任一出射光路或两路出射光路中;
所述偏振分束器(4)用于将目标光源分成两路振动方向相互垂直的S光和P光;所述半波片(7)用于调节S光或P光的振动方向,使得S光和P光具有相同的振动方向;所述光程差标准具(8)用于调节S光和/或P光的光程,使得S光和P光之间产生固定的光程差;所述三个平面反射镜(5)用于将S光和P光反射,并最终将具有相同振动方向、固定光程差的S光和P光反射至非偏分束器(6);所述非偏分束器(6)用于将具有相同振动方向、固定光程差的S光和P光均反射和透射,形成干涉条纹。


2.根据权利要求1所述的高稳定高通量的偏振干涉仪,其特征在于:所述半波片(7)的快轴方向与入射光的振动方向之间的夹角为45o。


3.根据权利要求2所述的高稳定高通量的偏振干涉仪,其特征在于:所述光程差标准具(8)的材料为单轴晶体或非晶体材料;光垂直入射至光程差标准具(8)的表面。


4.根据权利要求3所述的高稳定高通量的偏振干涉仪,其特征在于:若偏振分束器(4)的两路出射光路中均设置单轴晶体材料的光程...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈莎莎魏儒义王鹏冲谢正茂刘宏刘斌狄腊梅严强强
申请(专利权)人:中国科学院西安光学精密机械研究所
类型:发明
国别省市:陕西;61

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