一种基于相干色散技术的消零干涉光谱仪制造技术

技术编号:25344305 阅读:25 留言:0更新日期:2020-08-21 17:02
本发明专利技术公开了一种基于相干色散技术的消零干涉光谱仪,旨在解决现有技术中存在的难以得到更为清晰的行星光谱,导致不能对微弱的行星进行光谱表征的技术问题,本发明专利技术包括沿光路依次设置的光源单元、干涉仪、色散单元以及光电探测器;光源单元出射准直的入射光线;干涉仪将入射光线分为第一出射光线和第二出射光线;色散单元为两个,且分别将第一出射光线和第二出射光线分解为光谱形成两个干涉条纹;光电探测器为两个,且分别接受两个干涉条纹,得到两个干涉条纹图像。本发明专利技术基于相干色散技术的消零干涉光谱仪,不仅可以用于探测行星,而且还可以得到更为清晰的行星光谱,对微弱的行星进行光谱表征。

【技术实现步骤摘要】
一种基于相干色散技术的消零干涉光谱仪
本专利技术涉及一种光谱成像装置,具体涉及一种基于相干色散技术的消零干涉光谱仪。
技术介绍
光谱成像技术融合了光谱技术和成像技术,目前已广泛应用于农业、医学、航空航天、环境监测、大气探测、天文观测等领域。干涉和色散技术是光谱成像领域应用最主要的技术,但通常情况下两种技术都是分开使用的,只有在测风、测量恒星或者行星运行的视向速度等情况下,才会将这两种技术结合起来,以达到较为理想的测量精度。在系外行星探测领域,尽管间接探测技术(如视向速度法)是当今最成功的方法。但是间接探测方法无法获取行星光子,更无法对行星大气进行光谱分析,因此无法对行星上的生命信号做出判断。直接成像技术有望最终实现类地行星的探测,同时能够准确观测该行星的位置而不存在视向角的问题。尽管如此,系外行星与其宿主恒星之间的光度强烈反差、两个星体之间的极小分辨率,以及最终使从地面拍摄的图像变得模糊的大气湍流,这三者是直接成像技术需要解决的主要问题。针对这些困难,消零干涉法是处理直接成像的强大工具。消零干涉法通过增加望远镜之间的基线来增加光学系统的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于相干色散技术的消零干涉光谱仪,其特征在于:包括沿光路依次设置的光源单元、干涉仪(7)、色散单元以及光电探测器(12);/n所述光源单元出射准直的入射光线;/n所述干涉仪(7)将入射光线分为第一出射光线和第二出射光线;/n所述色散单元为两个,且分别将第一出射光线和第二出射光线分解为光谱形成两个干涉条纹;/n所述光电探测器(12)为两个,且分别接受两个干涉条纹,得到两个干涉条纹图像。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于相干色散技术的消零干涉光谱仪,其特征在于:包括沿光路依次设置的光源单元、干涉仪(7)、色散单元以及光电探测器(12);
所述光源单元出射准直的入射光线;
所述干涉仪(7)将入射光线分为第一出射光线和第二出射光线;
所述色散单元为两个,且分别将第一出射光线和第二出射光线分解为光谱形成两个干涉条纹;
所述光电探测器(12)为两个,且分别接受两个干涉条纹,得到两个干涉条纹图像。


2.根据权利要求1所述的基于相干色散技术的消零干涉光谱仪,其特征在于:第一出射光线的干涉条纹与第二出射光线的干涉条纹之间的相位差为π。


3.根据权利要求2所述的基于相干色散技术的消零干涉光谱仪,其特征在于:所述光源单元为两个,分别出射准直的第一入射光线IN1和第二入射光线IN2;
第一入射光线IN1和第二入射光线IN2经干涉仪(7)后形成第一出射光线C1、第一出射光线C2、第二出射光线C3以及第二出射光线C4;所述第一出射光线C1和第一出射光线C2完全对称且满足干涉条件,从而产生消零干涉条纹;所述第二出射光线C3和第二出射光线C4不完全对称但满足干涉条件,从而产生相长干涉条纹;
两个所述色散单元分别将消零干涉条纹和相长干涉条纹的分辨率提高后入射至光电探测器(12)分别形成消零干涉条纹图像和相长干涉条纹图像。


4.根据权利要求1或2或3所述的基于相干色散技术的消零干涉光谱仪,其特征在于:两个所述色散单元结构相同;位于第一出射光线上的色散单元包括沿光路依次设置的第二准直镜(8)、狭缝(9)、第三准直镜(10)以及光栅(11);
所述第二准直镜(8)将第一出射光线准直后投射至狭缝(9)内,并沿狭缝(9)的长度方向...

【专利技术属性】
技术研发人员:胡柄樑狄腊梅魏儒义乔念祖陈莎莎王鹏冲
申请(专利权)人:中国科学院西安光学精密机械研究所
类型:发明
国别省市:陕西;61

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