一种偏光轴位测量装置及偏光轴位的自校正测量方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及光学镜片检测技术领域，特别涉及偏光轴位测量装置及偏光轴位的自校正测量方法，包括机架，通过在机架上设置发光机构、转动机构、待测镜片和标准偏光组件，转动机构转动带动在标准偏光组件转动，在标准偏光组件转动过程中，发光机构产生的光线依次透过标准偏光组件和待测镜片，且光线的亮度在强弱之间变化，通过设置检测组件检测依次透过标准偏光组件和待测镜片的光线的亮度，根据转动机构的转动角度即可计算出待测镜片的偏光轴位；通过采用检测组件检测透过偏振片的光线的亮度，能够排除人工观察带来的误差，从而提高检测精确度。

【技术实现步骤摘要】
一种偏光轴位测量装置及偏光轴位的自校正测量方法
本专利技术涉及光学镜片检测
，特别涉及偏光轴位测量装置及偏光轴位的自校正测量方法。
技术介绍
偏光太阳镜属于个体眼面部防护用品的范畴，衡量其质量的技术指标主要体现在偏光度、防紫外线、抗机械冲击力、透射比、复合强度等几个方面，其中，偏光度是重要指标之一。根据相关国际标准，偏光太阳镜产品的偏光度数一般需控制在±5度的范围内。不合格的偏光太阳镜不仅会损害使用者的用眼健康，而且也会影响消费者的利益。因此，偏光太阳镜生产单位通常要求产品出产之前必须经过严格的偏光轴位(偏光度)测量。申请号为201721156103.2的专利文件公开了一种偏光角偏差检测装置，由LED光源与毛玻璃形成均匀的散射光，通过转动检偏器，并观察检偏器视窗至二个半圆明暗分明，角度盘上角度指针的偏移角即为被检偏光镜片的偏差角度。这种人工观察检偏器明暗程度的方式效率低下，且精确度不高。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是：提供一种能够提高检测精准度的偏光轴位测量装置及偏光轴位的自校正测量方法。...

【技术保护点】
1.一种偏光轴位测量装置，其特征在于，包括机架，所述机架上设有发光机构、转动机构、待测镜片和标准偏光组件，所述转动机构和标准偏光组件均位于发光机构和待测镜片之间且与发光机构和待测镜片之间均设有间距，所述转动机构与标准偏光组件固定连接；/n所述标准偏光组件包括基准片和偏振片，所述偏振片设置在基准片远离待测镜片的一侧面且均与基准片相互贴合，所述偏振片远离基准片的一侧面上设有检测组件。/n

【技术特征摘要】
1.一种偏光轴位测量装置，其特征在于，包括机架，所述机架上设有发光机构、转动机构、待测镜片和标准偏光组件，所述转动机构和标准偏光组件均位于发光机构和待测镜片之间且与发光机构和待测镜片之间均设有间距，所述转动机构与标准偏光组件固定连接；
所述标准偏光组件包括基准片和偏振片，所述偏振片设置在基准片远离待测镜片的一侧面且均与基准片相互贴合，所述偏振片远离基准片的一侧面上设有检测组件。


2.根据权利要求1所述的偏光轴位测量装置，其特征在于，所述机架上还设有承载架，所述转动机构设置在承载架上，所述转动机构包括第一驱动电机、主动齿轮、从动齿轮、转动环和角度检测件，所述转动环固定套设在标准偏光组件外部，所述主动齿轮固定套设在第一驱动电机的输出轴，所述转动环分别与主动齿轮和从动齿轮啮合，所述从动齿轮通过转轴与角度检测件传动连接。


3.根据权利要求1所述的偏光轴位测量装置，其特征在于，所述待测镜片通过夹持组件安装在机架上，所述夹持组件包括第二驱动电机和两个夹持件，所述机架内腔的两侧壁之间转动连接有双向丝杆，两个所述夹持件分别对称套设在双向丝杆外壁且均与双向丝杆螺纹连接，所述第二驱动电机的输出轴与双向丝杆的一端固定连接；
所述夹持组件还包括限位杆，所述限位杆固定设置在机架内腔的两侧壁之间，两个所述夹持件分别对称套设在限位杆外壁且均与限位杆滑动连接。


4.一种偏光轴位的自校正测量方法，应用于权利要求1-3任意一项所述的偏光轴位测量装置中，包括以下步骤：
步骤S1、控制标准偏光组件沿预设方向旋转360度，在标准偏光组件旋转过程中，当标准偏光组件的偏光轴与待测镜片的偏光轴第一次平行时，分别采集当前待测镜片的光照强度和转动机构的转动角度，依次记为第一光照强度和第一转动角度；当标准偏光组件的偏光轴与待测镜片的偏光轴第一次垂直时，分别采集当前待测镜片的光照强度和转动机构的转动角度，依次记为第二光照强度和第二转动角度；
步骤S2、当标准偏光组件的偏光轴与待测镜片的偏光轴第二次平行时，分别采集当前待测镜片的光照强度和转动机构的转动角度，依次记为第三光照强度和第三转动角度；当标准偏光组件的偏光轴与待测镜片的偏光轴第二次垂直时，分别采集当前待测镜片的光照强度和转动机构的转动角度，依次记为第四光照强度和第四转动角度；
步骤S3、根据所述第一光照强...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑伟峰，蒋淑恋，郑鹏，邓水发，纪金龙，康品春，阮育娇，
申请(专利权)人：厦门市计量检定测试院，
类型：发明
国别省市：福建;35