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本发明涉及光学镜片检测技术领域，特别涉及偏光轴位测量装置及偏光轴位的自校正测量方法，包括机架，通过在机架上设置发光机构、转动机构、待测镜片和标准偏光组件，转动机构转动带动在标准偏光组件转动，在标准偏光组件转动过程中，发光机构产生的光线依次透...
该专利属于厦门市计量检定测试院所有，仅供学习研究参考，未经过厦门市计量检定测试院授权不得商用。

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