一种可调整平尺检测两个方向精度的机构制造技术

本发明专利技术涉及一种可调整平尺检测两个方向精度的机构，包括：平尺、第一调节机构及第二调节机构。其中，第一调节机构包括分别设于平尺两端的第一调节组件及支撑组件，第一调节组件用于调节平尺的一端在第一方向上的移动；第二调节机构包括分别设于平尺两端的第二调节组件及第三调节组件，第二调节组件和第三调节组件分别用于调节平尺两端在第二方向上的移动。由此，上述可调整平尺检测两个方向精度的机构兼具测量两个方向平面的直线精度的功能，使用范围更广，且调节过程中无需敲击平尺，解决了现有技术中容易损伤平尺的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种可调整平尺检测两个方向精度的机构
本专利技术涉及工艺工装装备
，尤其涉及一种可调整平尺检测两个方向精度的机构。
技术介绍
现有技术中的平尺检测机构主要有两种结构，一种是将平尺两端放置于两个等高的垫块上，通过垫塞尺的方式将平尺的两端调平；该种方式的缺点是需要多次搬运平尺，并调整塞尺厚度，耗时耗力，而且调整过程中需要敲击平尺，容易损伤平尺。另一种是平尺的一端放置于底座，另一端放置于可向上单向调整高度的调节结构；该种方式的缺点是仅能测量水平方向平面的精度，使用受到限制，而且当平尺放置于调节结构上的一端需要下降高度时，需敲击平尺，也容易损伤平尺。因此，为解决上述问题，必须设计一种可调整平尺检测两个方向精度的机构。
技术实现思路
为实现上述目的，本专利技术提供了一种可调整平尺检测两个方向精度的机构，包括：平尺；第一调节机构，包括分别设于所述平尺两端的第一调节组件及支撑组件，所述第一调节组件用于调节所述平尺的一端在第一方向上的移动；第二调节机构，包括分别设于所述平尺两端的第二调节组件及第三调节组件，所述第二调节组件和所述第三调节组件分别用于调节所述平尺两端在第二方向上的移动。作为本专利技术的进一步改进，所述第一调节组件包括旋转设置的第一推动件、连接所述第一推动件的第一滑动块、设于所述第一滑动块上且用于支撑所述平尺一端的第二滑动块；其中，所述第一滑动块的顶面与所述第二滑动块的底面为相互配合的斜面，所述第二滑动块的顶面与第二方向平行；所述第一推动件旋转，带动所述第一滑动块沿第二方向滑动，进而使得所述第二滑动块沿第一方向滑动。作为本专利技术的进一步改进，所述第一调节组件还包括第一底座、以及设于所述第一底座沿第二方向两侧的第一限位板和第二限位板；所述第一滑动块与所述第二滑动块均设于所述第一限位板与所述第二限位板之间，所述第一滑动块滑动设置于所述第一底座上，所述第二滑动块的两侧分别滑动抵接于所述第一限位板及所述第二限位板，所述推动件沿第二方向穿过所述第一限位板并连接所述第一滑动块。作为本专利技术的进一步改进，所述第二滑动块凹陷形成有定位槽，所述平尺至少部分嵌设于所述定位槽中。作为本专利技术的进一步改进，所述第二调节组件包括旋转设置的第二推动件，所述第二推动件沿第二方向穿过所述第一限位板并与所述平尺相抵接；其中，所述第一限位板在第一方向上的高度高于所述第二限位板，所述第二推动件设于所述第一限位板高于所述第二限位板的部分；所述第二推动件旋转，推动所述平尺向远离所述第一限位板的方向移动。作为本专利技术的进一步改进，所述第二调节组件还包括设于所述第二推动件靠近所述平尺一端的第一弹性抵接件。作为本专利技术的进一步改进，所述支撑组件包括第二底座、与所述第一限位板同侧设置的第三限位板、以及设于所述第二底座上的半圆柱体，所述平尺的一端架设于所述半圆柱体的圆弧面顶端。作为本专利技术的进一步改进，所述第三调节组件包括旋转设置的第三推动件，所述第三推动件沿第二方向穿过所述第三限位板并与所述平尺相抵接；所述第三推动件旋转，推动所述平尺向远离所述第三限位板的方向移动。作为本专利技术的进一步改进，所述第三调节组件还包括设于所述第三推动件靠近所述平尺一端的第二弹性抵接件。作为本专利技术的进一步改进，所述平尺具有一个测量面，且所述平尺包括所述测量面与第二方向平行的第一测量状态及所述测量面与第一方向平行的第二测量状态；于所述第一调节机构调节完成后，所述平尺处于第一测量状态，于所述第二调节机构调节完成后，所述平尺处于第二测量状态。与现有技术相比，本专利技术的有益效果在于：区别于现有技术，本专利技术提供的可调整平尺检测两个方向精度的机构，通过第一调节机构中第一调节组件的设置，使得平尺的一端可在第一方向上移动，进而得平尺可以检测水平方向平面的直线精度；通过第二调节机构中第二调节组件及第三调节组件的设置，使得平尺的两端可在第二方向上移动，进而平尺可以检测垂直方向平面的直线精度。由此，上述机构兼具测量两个方向平面的直线精度的功能，使用范围更广，且调节过程中无需敲击平尺，解决了现有技术中容易损伤平尺的问题。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。图1为本专利技术可调整平尺检测两个方向精度的机构的平尺处于第一测量状态的整体结构示意图；图2为本专利技术可调整平尺检测两个方向精度的机构图1中第一调节组件及第二调节组件的结构示意图；图3为本专利技术可调整平尺检测两个方向精度的机构图1中支撑组件与第三调节组件的结构示意图；图4为本专利技术可调整平尺检测两个方向精度的机构的平尺处于第二测量状态的整体结构示意图；图5为本专利技术可调整平尺检测两个方向精度的机构图4中第一调节组件及第二调节组件的结构示意图；图6为本专利技术可调整平尺检测两个方向精度的机构图4中支撑组件与第三调节组件的结构示意图；100-可调整平尺检测两个方向精度的机构；1-平尺；11-测量面；12-测量仪表；21-第一推动件；22-第一滑动块；23-第二滑动块；231-定位槽；24-第一底座；25-第一限位板；26-第二限位板；31-第二底座；32-第三限位板；33-半圆柱体；41-第二推动件；411-第一弹性抵接件；51-第三推动件；511-第二弹性抵接件。具体实施方式以下将结合附图所示的具体实施方式对本专利技术进行详细描述。但这些实施方式并不限制本专利技术，本领域的普通技术人员根据这些实施方式所做出的结构、方法、或功能上的变换均包含在本专利技术的保护范围内。需要说明，本专利技术实施例中所有方向性指示(诸如上、下……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。另外，在本专利技术中如涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本专利技术的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。在本专利技术中，除非另有明确的规定和限定，术语“连接”、“固定”等应做广义理解，例如，“固定”可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。请参阅图1-图6，本专利技术提供了一种可调整平尺检测两个方向精度的机构100，包括平尺1、第一调节机构及第二调节机构。其中，第一调节机构包括分别设于平尺1两端的第本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种可调整平尺检测两个方向精度的机构，其特征在于，所述可调整平尺检测两个方向精度的机构包括：/n平尺；/n第一调节机构，包括分别设于所述平尺两端的第一调节组件及支撑组件，所述第一调节组件用于调节所述平尺的一端在第一方向上的移动；/n第二调节机构，包括分别设于所述平尺两端的第二调节组件及第三调节组件，所述第二调节组件和所述第三调节组件分别用于调节所述平尺两端在第二方向上的移动。/n

【技术特征摘要】
1.一种可调整平尺检测两个方向精度的机构，其特征在于，所述可调整平尺检测两个方向精度的机构包括：
平尺；
第一调节机构，包括分别设于所述平尺两端的第一调节组件及支撑组件，所述第一调节组件用于调节所述平尺的一端在第一方向上的移动；
第二调节机构，包括分别设于所述平尺两端的第二调节组件及第三调节组件，所述第二调节组件和所述第三调节组件分别用于调节所述平尺两端在第二方向上的移动。


2.根据权利要求1所述的可调整平尺检测两个方向精度的机构，其特征在于，
所述第一调节组件包括旋转设置的第一推动件、连接所述第一推动件的第一滑动块、设于所述第一滑动块上且用于支撑所述平尺一端的第二滑动块；
其中，所述第一滑动块的顶面与所述第二滑动块的底面为相互配合的斜面，所述第二滑动块的顶面与第二方向平行；所述第一推动件旋转，带动所述第一滑动块沿第二方向滑动，进而使得所述第二滑动块沿第一方向滑动。


3.根据权利要求2所述的可调整平尺检测两个方向精度的机构，其特征在于，
所述第一调节组件还包括第一底座、以及设于所述第一底座沿第二方向两侧的第一限位板和第二限位板；
所述第一滑动块与所述第二滑动块均设于所述第一限位板与所述第二限位板之间，所述第一滑动块滑动设置于所述第一底座上，所述第二滑动块的两侧分别滑动抵接于所述第一限位板及所述第二限位板，所述推动件沿第二方向穿过所述第一限位板并连接所述第一滑动块。


4.根据权利要求2所述的可调整平尺检测两个方向精度的机构，其特征在于，所述第二滑动块凹陷形成有定位槽，所述平尺至少部分嵌设于所述定位槽中。


5.根据权利要求3所述的可调整平尺检测两个方向精度的机构，...

【专利技术属性】
技术研发人员：蒋小飞，石银强，朱嘉诚，
申请(专利权)人：南通国盛智能科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32