一种共面测量工具制造技术

本实用新型专利技术提供的一种共面测量工具，应用于开方机导轮，包括：卡接槽，卡接槽与导轮的外缘相匹配；在共面测量工具背离卡接槽的一侧，具有第一侧面；第一侧面设置有标准线和多条测量刻度线，相邻测量刻度线之间间隔预设距离；多条测量刻度线分别与标准线相互平行；标准线的方向与金刚线的标准出线方向一致。本实用新型专利技术通过绕设在导轮之间的金刚线，与设置在第一侧面上的标准线和测量刻度线的位置关系，从而快速、精准的确定导轮之间是否处于共面状态，以及导轮之间的偏移程度，进而对导轮位置进行调整，直至导轮之间处于共面状态，从而减少开方机导轮共面调整过程的耗时时长，并提高检测过程的精确度。

【技术实现步骤摘要】
一种共面测量工具
本技术涉及单晶硅制造设备
，尤其涉及一种共面测量工具。
技术介绍
随着传统能源的不断消耗及其对环境带来的负面影响日益严重，单晶硅片作为光伏发电的一种基础材料，有着广泛的市场需求，通常，单晶硅片是将提拉或浇铸的硅棒通过开方机进行开方，使得硅棒具有矩形结构之后，再采用切片机将硅棒进行切片，得到单晶硅片。在利用开方机对单晶硅棒进行切割时，开方机的导轮会发生偏移，相互配合的两个导轮之间产生共面偏差，从而导致导轮胶圈槽磨偏，进而，位于导轮胶圈槽内的金刚线由于受力不均而断线，此时需要调整导轮，以保证两个导轮处于共面状态。目前，检测两个导轮是否处于共面状态的方法为：采用直板尺进行共面检测，使直板尺的边缘紧靠在两个导轮的侧边，若直板尺与导轮的侧边不能紧密的贴合，则说明导轮发生偏移，两个导轮没有共面，因而需要调整导轮的位置，对调整之后的导轮再次进行共面检测，以验证两个导轮经过调整之后是否处于共面状态。但是，目前方案中，由于采用直板尺对两个导轮进行共面检测，操作者只能通过肉眼判断两个导轮是否处于共面状态，以及导轮的偏移程度，从而使得开方机导轮的共面调整过程精度较低，检测过程耗时较长。
技术实现思路
本技术提供一种共面测量工具，以解决现有技术中由于采用直板尺对两个导轮进行共面检测，操作者只能通过肉眼判断两个导轮是否处于共面状态，以及导轮的偏移程度，从而使得开方机导轮的共面调整过程精度较低，检测过程耗时较长的问题。为了解决上述技术问题，本技术提供了一种共面测量工具，应用于开方机导轮，所述开方机导轮包括至少两个导轮、绕设于所述至少两个导轮之间的金刚线，所述共面测量工具包括：卡接槽，所述卡接槽与所述导轮的外缘相匹配；在所述共面测量工具背离所述卡接槽的一侧，具有第一侧面；所述第一侧面设置有标准线和多条测量刻度线，相邻所述测量刻度线之间间隔预设距离；所述多条测量刻度线分别与所述标准线相互平行；所述标准线的方向与所述金刚线的标准出线方向一致。可选的，所述测量刻度线的数量为奇数，所述标准线与中间刻度线重合，所述中间刻度线为位于所述多条测量刻度线的中间的刻度线。可选的，在所述共面测量工具背离所述卡接槽的一侧，具有第二侧面，所述第一侧面和所述第二侧面之间形成第一预设夹角。可选的，所述第一预设夹角为90度。可选的，所述标准线的长度与所述第一侧面的长度相同。可选的，在所述标准线的位置处设置有标准线槽。可选的，所述标准线槽与所述金刚线相匹配。可选的，所述卡接槽的宽度与所述导轮的宽度之间的差值小于或等于0.2毫米。可选的，在所述第一侧面设置有奇数条角度刻度线，相邻所述角度刻度线之间间隔第二预设角度，位于所述多条角度刻度线的中间的角度刻度线与所述标准线重合，所述多条角度刻度线以所述标准线上靠近所述导轮的端点为中心，呈放射状分布。可选的，在所述标准线槽的内表面设置有颜色涂层。本技术提供的一种共面测量工具，应用于开方机导轮，所述开方机导轮包括至少两个导轮、绕设于至少两个导轮之间的金刚线，所述共面测量工具包括：卡接槽，卡接槽与导轮的外缘相匹配；在共面测量工具背离卡接槽的一侧，具有第一侧面；第一侧面设置有标准线和多条测量刻度线，相邻测量刻度线之间间隔预设距离；多条测量刻度线分别与标准线相互平行；标准线的方向与金刚线的标准出线方向一致。本技术采用具有卡接槽和第一侧面的共面测量工具，共面测量工具通过卡接槽与开方机导轮相互连接，并通过绕设在导轮之间的金刚线，与设置在第一侧面上的标准线和测量刻度线的位置关系，从而快速、精准的确定导轮之间是否处于共面状态，以及导轮之间的偏移程度，进而对导轮位置进行调整，直至导轮之间处于共面状态，从而减少开方机导轮共面调整过程的耗时时长，并提高检测过程的精确度。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对本技术实施例的描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本技术实施例提供的一种共面测量工具的使用示意图；图2是本技术实施例提供的一种共面测量工具的结构示意图；图3是本技术实施例提供的一种共面测量工具另一视角的结构示意图；图4是本技术实施例提供的一种共面测量工具另一视角的使用示意图；图5是本技术实施例提供的一种共面测量工具的第一侧面的示意图；图6是本技术实施例提供的一种共面测量工具另一视角的结构示意图；图7是本技术实施例提供的一种共面测量工具的侧面示意图；图8是本技术实施例提供的一种共面测量工具的第二侧面的示意图；图9是本技术实施例提供的一种共面测量工具的另一第一侧面的示意图。附图标记说明：10-导轮，20-金刚线，30-共面测量工具，301-卡接槽，302-第一侧面，303-第二侧面，304-标准线，305-测量刻度线，306-标准线槽，307-角度刻度线。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。下面通过列举几个具体的实施例详细介绍本技术提供的一种共面测量工具。参照图1，示出了本技术实施例提供的一种共面测量工具的使用示意图，该共面测量工具30，应用于开方机导轮，所述开方机导轮包括至少两个导轮10，以及绕设在该至少两个导轮10外缘的金刚线20。具体的，参照图2，示出了本技术实施例提供的一种共面测量工具的结构示意图，参照图3，示出了本技术实施例提供的一种共面测量工具另一视角的结构示意图，该共面测量工具30包括用于与导轮10卡接的卡接槽301。卡接槽301与导轮10的外缘相互匹配，从而可以通过卡接槽301，将共面测量工具30与导轮10，按照图1所示的位置关系进行卡接，从而实现共面测量工具30与导轮10的连接，并使得共面测量工具30可以方便快捷、准确地安装在导轮10上，或从导轮10上进行拆卸。在本技术实施例中，开方机导轮可以包括多个导轮，金刚线从线轮中引出后，布设于多个导轮之间，从而开方机可以完成硅棒的切割。因此，具有与导轮外缘匹配的卡接槽结构的共面测量工具，可以依次测量相邻的两个导轮的共面状态，通过调整所述相邻两个导轮的位置，使该组导轮处于共面状态之后，将共面测量工具从导轮上拆除，并安装在其他导轮上，从而可以继续测量其他导轮的共面状态，最终完成开方机中所有导轮的共面状态测量各调整，保证开方机机台的加工精度。进一步的，参照图1，在共面测量工具30上，背离本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种共面测量工具，应用于开方机导轮，所述开方机导轮包括至少两个导轮、绕设于所述至少两个导轮之间的金刚线，其特征在于，所述共面测量工具包括：/n卡接槽，所述卡接槽与所述导轮的外缘相匹配；/n在所述共面测量工具背离所述卡接槽的一侧，具有第一侧面；/n所述第一侧面设置有标准线和多条测量刻度线，相邻的两个所述测量刻度线之间间隔预设距离；/n所述多条测量刻度线分别与所述标准线相互平行；/n所述标准线的方向与所述金刚线的标准出线方向一致。/n

【技术特征摘要】
1.一种共面测量工具，应用于开方机导轮，所述开方机导轮包括至少两个导轮、绕设于所述至少两个导轮之间的金刚线，其特征在于，所述共面测量工具包括：
卡接槽，所述卡接槽与所述导轮的外缘相匹配；
在所述共面测量工具背离所述卡接槽的一侧，具有第一侧面；
所述第一侧面设置有标准线和多条测量刻度线，相邻的两个所述测量刻度线之间间隔预设距离；
所述多条测量刻度线分别与所述标准线相互平行；
所述标准线的方向与所述金刚线的标准出线方向一致。


2.根据权利要求1所述的共面测量工具，其特征在于，所述测量刻度线的数量为奇数，所述标准线与中间刻度线重合，所述中间刻度线为位于所述多条测量刻度线的中间的刻度线。


3.根据权利要求1所述的共面测量工具，其特征在于，在所述共面测量工具背离所述卡接槽的一侧，具有第二侧面，所述第一侧面和所述第二侧面之间形成第一预设夹角。


4.根据权利要求3所述的共面测量工具，其特征在于，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄健，秦永刚，严霁云，雷鑫，陈群，杨博，李进，钟慧芳，
申请(专利权)人：华坪隆基硅材料有限公司，
类型：新型
国别省市：云南;53