试件尺寸激光测量装置制造方法及图纸

技术编号:25329064 阅读:44 留言:0更新日期:2020-08-18 23:07
本实用新型专利技术涉及测量技术领域,公开一种试件尺寸激光测量装置,包括具有相互垂直的底板和侧板的L型框架,侧板内表面上垂直伸出有与底板平行的水平杆和刻度杆,水平杆和刻度杆之间具有间距且等高设置,水平杆上装有可沿水平杆滑移的激光光源,底板在水平杆与刻度杆之间的尺寸投影范围内设置有试件支撑架,底板上设有路径供试件支撑架作与水平杆方向平行的移动;刻度杆包括带孔主刻度杆和无孔副刻度杆,无孔副刻度杆紧贴在带孔主刻度杆上,带孔主刻度杆上的孔供激光通过,刻度杆背面布置有供激光光源照射的光幕,光幕与刻度杆之间具有间距且光幕分别与底板、侧板垂直。通过读取光幕上的激光光源点或副刻度杆上的刻度值即可精确得到试件尺寸。

【技术实现步骤摘要】
试件尺寸激光测量装置
本技术涉及尺寸测量
,具体地,涉及一种试件尺寸激光测量装置。
技术介绍
对科研实验而言,试件是整个实验中最重要的部分之一,在诸多影响实验结果的因素中,试件的尺寸数据将直接影响到实验的最终结果。精确的试件尺寸是确定实验计算和分析结果的准确性、实现工程决策和设计科学化的必要前提条件。为了实验可以顺利地进行下去,应该首先对影响实验的各种因素进行充分的思考和分析,只有这样才能做出合理的、实验效果好的实验方案。对于矿业工程来说,只有从一开始就掌握了试件的精确尺寸,获得准确的实验数据,实验才能顺利的进行下去,提高实验效率。因此,在实验过程中,要根据不同的试件构造,测出相应尺寸的精确数据,这对进行实验具有重要的意义。目前我们在对中小型试件尺寸进行测量的过程中大多会使用游标卡尺或者电子游标卡尺等测量工具来测量,但是在使用测量工具时,由于试件或者测量工具本身材料在受力的情况下会发生形变,这样一来就无法得到准确的试件尺寸数据,此后再通过其他手段进行调整减少数据误差,无疑加大了工作难度,浪费了不必要的时间和精力。<本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种试件尺寸激光测量装置,其特征在于,包括具有相互垂直的底板和侧板的L型框架,侧板内表面上垂直伸出有与底板平行的水平杆和刻度杆,水平杆和刻度杆之间具有间距且在侧板上等高设置,水平杆上安装有可沿水平杆滑移的激光光源,底板在水平杆与刻度杆之间的尺寸投影范围内设置有试件支撑架,底板上设有路径供试件支撑架作与水平杆伸出方向平行的移动;/n刻度杆包括带孔主刻度杆和无孔副刻度杆,无孔副刻度杆紧贴在带孔主刻度杆的上方或下方,带孔主刻度杆上的孔供激光通过,刻度杆背面布置有供激光照射的光幕,光幕与刻度杆之间具有间距且光幕分别与底板、侧板垂直。/n

【技术特征摘要】
1.一种试件尺寸激光测量装置,其特征在于,包括具有相互垂直的底板和侧板的L型框架,侧板内表面上垂直伸出有与底板平行的水平杆和刻度杆,水平杆和刻度杆之间具有间距且在侧板上等高设置,水平杆上安装有可沿水平杆滑移的激光光源,底板在水平杆与刻度杆之间的尺寸投影范围内设置有试件支撑架,底板上设有路径供试件支撑架作与水平杆伸出方向平行的移动;
刻度杆包括带孔主刻度杆和无孔副刻度杆,无孔副刻度杆紧贴在带孔主刻度杆的上方或下方,带孔主刻度杆上的孔供激光通过,刻度杆背面布置有供激光照射的光幕,光幕与刻度杆之间具有间距且光幕分别与底板、侧板垂直。


2.根据权利要求1所述的试件尺寸激光测量装置,其特征在于,试件支撑架包括与底板接触的支架及设于支架顶端的支撑平台。


3.根据权利要求2所述的试件尺寸激光测量装置,其特征在于,支架由至少两个子支架套设连接而成。


4.根据权利要求3所...

【专利技术属性】
技术研发人员:潘堃叶洲元刘文汇刘续斌
申请(专利权)人:湖南科技大学
类型:新型
国别省市:湖南;43

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1