光学模组和电子设备制造技术

本公开提供了一种光学模组，包括：第一光学元件，所述第一光学元件可接收入射光束；第二光学元件，设置在所述第一光学元件旁边或与所述第一光学元件集成为一体，所述第二光学元件可接收所述入射光束；光电传感器，其中所述第二光学元件配置成可将入射到其上的至少一部分光束调制后照射到所述光电传感器上；和控制单元，所述控制单元与所述光电传感器耦合，并配置成可根据所述光电传感器的测量值改变所述入射光束的强度。还提供一种包括上述光学模组的电子设备。本公开的实施方式，通过提高光学元件对入射到其上的反射光功率，能够提高对光源的光电监测精度。

【技术实现步骤摘要】
光学模组和电子设备
本公开内容总体上涉及光学器件的
，具体而言，涉及一种光学模组及包括该光学模组的电子设备。
技术介绍
在三维检测识别方案中，通常在封装VCSEL时会加入反馈电路，其作用是对VCSEL供电电流实时调整，以保持VCSEL光功率的稳定输出。具体方式是在VCSEL光源旁放置一光电二极管(PD)来监控反射光功率。以现有模组产品为例，该模组结构为：VCSEL光源，光源上方放置衍射光学元件，两者之间有一定空气间隙，VCSEL发射的光束经衍射光学元件后部分被反射到光电二极管上，光电二极管检测该反射光束的强度，从而根据该强度来控制光源的发光强度和功率。如图1所示，光学模组包括VCSEL激光器1、光电二极管2以及衍射光学元件3，VCSEL激光器1发射的激光束入射到衍射光学元件3上，衍射光学元件3可将入射到其上的大部分光束调制后出射，形成目标光场，同时将至少一部分光束反射到光电二极管2上。光电二极管2可对其所接收的光进行测量，测量结果用来调节VCSEL激光器1发射出的光束的强度。由于所述衍射光学元件3表面反射率极低，因此其反射本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光学模组，其特征在于，包括：/n第一光学元件，所述第一光学元件可接收入射光束；/n第二光学元件，设置在所述第一光学元件旁边或与所述第一光学元件集成为一体，所述第二光学元件可接收所述入射光束；/n光电传感器，其中所述第二光学元件配置成可将入射到其上的至少一部分光束调制后照射到所述光电传感器上；和/n控制单元，所述控制单元与所述光电传感器耦合，并配置成可根据所述光电传感器的测量值改变所述入射光束的强度。/n

【技术特征摘要】
1.一种光学模组，其特征在于，包括：
第一光学元件，所述第一光学元件可接收入射光束；
第二光学元件，设置在所述第一光学元件旁边或与所述第一光学元件集成为一体，所述第二光学元件可接收所述入射光束；
光电传感器，其中所述第二光学元件配置成可将入射到其上的至少一部分光束调制后照射到所述光电传感器上；和
控制单元，所述控制单元与所述光电传感器耦合，并配置成可根据所述光电传感器的测量值改变所述入射光束的强度。


2.根据权利要求1所述的光学模组，其特征在于，所述光学模组还包括光源，所述光源位于所述第一光学元件和第二光学元件的光路上游，并配置成可发出所述入射光束。


3.根据权利要求1或2所述的光学模组，其特征在于，所述第一光学元件为第一衍射光学元件，配置成可在第一区域投射出第一目标光场。


4.根据权利要求3所述的光学模组，其特征在于，所述第二光学元件为第二衍射光学元件，配置成可在第二区域投射出第二目标光场，其中所述第一区域与第二区域相分离，其中所述第二衍射光学元件的零级和/或一级反射级次的反射率高于所述第一衍射光学元件的零级和/或一级反射级次的反射率，所述第二衍射光学元件将入射到其上的至少一部分光束反射到所述光电传感器上。


5.根据权利要求1或2...

【专利技术属性】
技术研发人员：王牧云，尹晓东，
申请(专利权)人：杭州驭光光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江;33