一种双光束分光光度计检测光路结构制造技术

本实用新型专利技术公开一种双光束分光光度计检测光路结构。本实用新型专利技术提供的一种双光束分光光度计检测光路结构，包括：光度计装置箱体、光源、光束分裂器、第一光源筛选器组件、样品吸收池、第一检测器、第二光源筛选器以及第二检测器，第一光源筛选器组件包括第一光源筛选器、支架、电源开关、转轴、从动齿轮、主动齿轮、步进电机、电机架、步进电机驱动器以及步进电机控制器，可通过步进电机带动第一光源筛选器转动至多个检测位，通过不同的光源筛选单元进行多次筛选和检测，得到多组检测数据，便于利用多组数据进行对比，避免单一光源筛选器导致的通过单一光源筛选器筛选出的样品检测光作为最佳样品检测光，结果存在不准确的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种双光束分光光度计检测光路结构
本技术涉及分光光度计
，具体涉及一种双光束分光光度计检测光路结构。
技术介绍
分光光度计，又称光谱仪(spectrometer)，是将成分复杂的光，分解为光谱线的科学仪器。测量范围一般包括波长范围为380～780nm的可见光区和波长范围为200～380nm的紫外光区。不同的光源都有其特有的发射光谱,因此可采用不同的发光体作为仪器的光源。钨灯的发射光谱：钨灯光源所发出的380～780nm波长的光谱光通过三棱镜折射后，可得到由红、橙、黄、绿、蓝、靛、紫组成的连续色谱；该色谱可作为可见光分光光度计的光源。双光束分光光度计是以两束光一束通过样品、另一束通过参考溶液的方式来分析样品的分光光度计。双光束分光光度计与单光束相比，可以克服光源不稳定性、某些杂质干扰因素等影响，还可以检测样品随时间的变化。专利号为CN204694628U的专利公开一种比例双光束分光光度计装置，包括光源以及经光束分裂器形成的相互垂直的参比检测光路和样品检测光路，所述光源为单色光源，所述样品检测光路包括设置在光束分裂器后方沿样品光线射出本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种双光束分光光度计检测光路结构，其特征在于，包括：光度计装置箱体(1)，所述光度计装置箱体(1)内部设置有光源(2)、光束分裂器(3)、第一光源筛选器组件(4)、样品吸收池(5)、第一检测器(6)、第二光源筛选器(7)以及第二检测器(8)；所述光源(2)、所述光束分裂器(3)、所述第一光源筛选器组件(4)、所述样品吸收池(5)以及所述第一检测器(6)呈第一直线依次设置，所述光束分裂器(3)、所述第二光源筛选器(7)以及所述第二检测器(8)呈第二直线依次设置，所述第一直线与所述第二直线垂直；/n所述第一光源筛选器组件(4)包括第一光源筛选器(41)、支架(42)、电源开关(44)、转轴(4...

【技术特征摘要】
1.一种双光束分光光度计检测光路结构，其特征在于，包括：光度计装置箱体(1)，所述光度计装置箱体(1)内部设置有光源(2)、光束分裂器(3)、第一光源筛选器组件(4)、样品吸收池(5)、第一检测器(6)、第二光源筛选器(7)以及第二检测器(8)；所述光源(2)、所述光束分裂器(3)、所述第一光源筛选器组件(4)、所述样品吸收池(5)以及所述第一检测器(6)呈第一直线依次设置，所述光束分裂器(3)、所述第二光源筛选器(7)以及所述第二检测器(8)呈第二直线依次设置，所述第一直线与所述第二直线垂直；
所述第一光源筛选器组件(4)包括第一光源筛选器(41)、支架(42)、电源开关(44)、转轴(45)、从动齿轮(46)、主动齿轮(47)、步进电机(48)、电机架(49)、步进电机驱动器(9)以及步进电机控制器(10)；
所述支架(42)固定于所述光度计装置箱体(1)上，所述第一光源筛选器(41)包括外框(411)，所述外框(411)通过转轴(45)转动连接于所述支架(42)顶部，所述从动齿轮(46)设置于所述转轴(45)上，所述电机架(49)、步进电机驱动器(9)以及步进电机控制器(10)由上至下依次设置于所述电机架(49)上，所述电机架(49)位于所述支架(42)的一侧，所述主动齿轮(47)设置于所述步进电机(48)的输出轴上，所述主动齿轮(47)与所述从动齿轮(46)啮合；所述外框(411)上设置有四个光源筛选单元(412)，所述数个光源筛选单元(412)以所述转轴(45)为中心均匀分布，其中一个光源筛选单元(412)位于所述光束分裂器(3)和所述样品吸收池(5...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄斌，包欣欣，
申请(专利权)人：无锡弘亚智能科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32