雷达测试装置及雷达产线测试系统制造方法及图纸

技术编号:25244612 阅读:71 留言:0更新日期:2020-08-11 23:35
本实用新型专利技术提供了一种雷达测试装置及雷达产线测试系统,其中,雷达测试装置中包括:支撑底座;设置于支撑底座表面的第一水平滑轨;用于支撑待测试雷达于预设高度、及带动待测试雷达于第一水平滑轨中沿第一轴向水平移动的支撑件,支撑件滑动连接于第一水平滑轨上方;用于带动待测试雷达沿垂直方向转动的垂直方位转台,垂直方位转台转动连接于支撑件的上方端部;用于夹持待测试雷达的夹具,夹具与垂直方位转台固定连接;及用于控制第一水平滑轨和垂直方位转台动作的驱动装置,驱动装置分别与支撑件和垂直方位转台电连接。在对雷达进行俯仰角性能测试时,通过该雷达测试装置保证雷达与天线之间不会出现夹角,大大提高了测量的准确性。

【技术实现步骤摘要】
雷达测试装置及雷达产线测试系统
本技术涉及机械
,尤指一种雷达测试装置及雷达产线测试系统。
技术介绍
雷达,是英文Radar的音译,源于radiodetectionandranging的缩写,意思为“无线电探测和测距”,即用无线电的方式发现目标并测定它们的空间位置。因此,雷达也被称为“无线电定位”。雷达是利用电磁波探测目标的电子设备。雷达发射电磁波对目标进行照射并接收其回波,由此获得目标至电磁波发射点的距离、方位等信息。各种雷达的具体用途和结构不尽相同,但基本形式是一致的,包括:发射机、发射天线、接收机、接收天线,处理部分以及显示器。还有电源设备、数据录取设备、抗干扰设备等辅助设备。随着微电子等各个领域科学进步,雷达技术的不断发展,应用领域也不断拓展。在雷达出厂之前需要对其进行性能测试,在测试过程中,将雷达置于暗室测试系统的一端,天线置于暗室测试系统的另一端,实现对雷达性能的测试。但是,若要在同一个暗室测试系统中测试雷达不同角度下的性能,会出现雷达与天线之间存在一定夹角的情况,致使相应位置的测量信息出现误差。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种雷达测试装置及雷达产线测试系统,有效解决现有雷达产线测试系统对雷达俯仰性能测试会出现测量信息误差的情况。本技术提供的技术方案如下:一种雷达测试装置,包括:支撑底座;设置于所述支撑底座表面的第一水平滑轨;用于支撑所述待测试雷达于预设高度、及带动待测试雷达于所述第一水平滑轨中沿第一轴向水平移动的支撑件,所述支撑件滑动连接于所述第一水平滑轨上方;用于带动所述待测试雷达沿垂直方向转动的垂直方位转台,所述垂直方位转台转动连接于所述支撑件的上方端部;用于夹持所述待测试雷达的夹具,所述夹具与所述垂直方位转台固定连接;及用于控制所述支撑件和垂直方位转台动作的驱动装置,所述驱动装置分别与所述支撑件和垂直方位转台电连接在本技术方案中,雷达测试装置中设置第一水平滑轨、支撑件及垂直方位转台,并配置驱动装置,以此,在对雷达进行测试时,根据所在位置得到雷达与射频后端(测试天线)间位置关系(包括与射频后端的相对位置,与射频后端之间的夹角等参数)的修正值进而控制支撑件和垂直方位转台动作,保证雷达与射频后端之间不会出现夹角,提高测量的准确性。进一步优选地,所述垂直方位转台的转动范围为-10°~10°。进一步优选地,所述雷达测试装置中还包括第二水平滑轨,所述第一水平滑轨滑动设置于所述第二水平滑轨上方,所述支撑件滑动连接于所述第一水平滑轨上方,且所述第一轴向和第二轴向相互垂直,所述第一水平滑轨与驱动装置连接。在本技术方案中,雷达测试装置中设置第一水平滑轨和垂直方位转台之外,同时设置第二水平滑轨,对待测试雷达的位置进行精确控制,进一步提高雷达产线测试系统的准确性。进一步优选地,所述支撑件中包括竖直滑轨,所述竖直滑轨设置于所述支撑件的上方端部,所述垂直方位转台于所述竖直滑轨一侧与支撑件滑动连接。在本技术方案中,支撑件上设置竖直滑轨,以对待测试雷达的上下位置进行精确控制,进一步提高雷达产线测试系统的准确性。进一步优选地,所述雷达测试装置还包括带动所述待测试雷达沿水平方向转动的水平方位转台,所述水平方位转台转动设置于所述支撑底座表面,所述第一水平滑轨设置于所述水平方位转台表面,且所述水平方位转台与所述驱动装置电连接。进一步优选地,所述雷达测试装置还包括带动所述待测试雷达沿水平方向转动的水平方位转台,所述水平方位转台转动设置于所述支撑底座表面,所述第二水平滑轨设置于所述水平方位转台表面,且所述水平方位转台与所述驱动装置电连接。在本技术方案中,雷达测试装置中设置水平方位转台,对待测试雷达的水平方位进行进一步控制,拓展雷达测试装置的应用,辅助对雷达进行俯仰角性能测试的同时能够对雷达的其他性能进行辅助测试,提高雷达测试的准确性和全面性。进一步优选地,所述水平方位转台的转动范围为-180°~180°。本技术还提供了一种雷达产线测试系统,包括上述雷达测试装置,还包括:测试暗箱、测试天线及工控机,其中,雷达测试装置设置于所述测试暗箱的一侧,测试天线设置于测试暗箱的另一侧,工控机设置于测试暗箱外侧,且工控机与驱动装置及待测试雷达连接;在雷达测试装置中,所述支撑件带动待测试雷达于所述第一水平滑轨中沿待测试雷达与测试天线连线方向水平移动。在本技术方案中,雷达产线测试系统中包括雷达测试装置、测试暗箱、测试天线及工控机,以此,在对雷达进行测试时,根据天线所在位置得到雷达与测试天线间位置关系(包括与测试天线的相对位置,与测试天线之间的夹角等参数)的修正值进而控制雷达测试装置动作,保证雷达与测试天线之间不会出现夹角,提高测量的准确性。附图说明下面将以明确易懂的方式,结合附图说明优选实施例,对上述特性、技术特征、优点及其实现方式予以进一步说明。图1为本技术中雷达测试装置第一实施例结构示意图;图2为本技术一实例中雷达测试装置的状态示意图;图3为本技术一实例中Y轴方向的补偿角度计算示意图;图4为本技术中雷达测试装置第四实施例结构示意图;图5为本技术中雷达产线测试系统示意图。附图标记说明:1-支撑底座,2-第一水平滑轨,3-支撑件,4-垂直方位转台,5-夹具,6-待测试雷达,7-射频后端,8-第二水平滑轨,9-竖直滑轨,10-水平方位转台,11-雷达测试装置,12-测试暗箱,13-测试天线,14-工控机。具体实施方式为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对照附图说明本技术的具体实施例。显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图,并获得其他的实施例。针对现有雷达产线测试系统中测试雷达不同角度下的性能时出现与天线之间的夹角问题,本技术提供了一种全新的雷达测试装置,在第一实施例中,如图1所示,该雷达测试装置中包括:支撑底座1;设置于支撑底座1表面的第一水平滑轨2;用于支撑待测试雷达6于预设高度、及带动待测试雷达于第一水平滑轨中沿第一轴向水平移动的支撑件3,支撑件3滑动连接于第一水平滑轨上方;用于带动待测试雷达6沿垂直方向转动的垂直方位转台4,转动连接于支撑件3的上方端部;用于夹持待测试雷达6的夹具5,与垂直方位转台4固定连接;及用于控制支撑件3和垂直方位转台4动作的驱动装置(图中未示出),分别与支撑件3和垂直方位转台4电连接。在本实施例中,雷达测试装置通过驱动装置驱动与之连接的支撑件3和垂直方位转台4动作,以将待测试雷达6调整于合适的位置。应该了解,在雷达产线测试系统中待测试雷达与相对设置的射频后端7(测试天线)的位置相对固定,若要对雷达进行俯仰角性能测试,垂直方位转台4带动待测试雷达转动某一角度后,会与射频后端本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种雷达测试装置,其特征在于,包括:/n支撑底座;/n设置于所述支撑底座表面的第一水平滑轨;/n用于支撑待测试雷达于预设高度、及带动待测试雷达于所述第一水平滑轨中沿第一轴向水平移动的支撑件,所述支撑件滑动连接于所述第一水平滑轨上方;/n用于带动所述待测试雷达沿垂直方向转动的垂直方位转台,所述垂直方位转台转动连接于所述支撑件的上方端部;/n用于夹持所述待测试雷达的夹具,所述夹具与所述垂直方位转台固定连接;及/n用于控制所述支撑件和垂直方位转台动作的驱动装置,所述驱动装置分别与所述支撑件和垂直方位转台电连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种雷达测试装置,其特征在于,包括:
支撑底座;
设置于所述支撑底座表面的第一水平滑轨;
用于支撑待测试雷达于预设高度、及带动待测试雷达于所述第一水平滑轨中沿第一轴向水平移动的支撑件,所述支撑件滑动连接于所述第一水平滑轨上方;
用于带动所述待测试雷达沿垂直方向转动的垂直方位转台,所述垂直方位转台转动连接于所述支撑件的上方端部;
用于夹持所述待测试雷达的夹具,所述夹具与所述垂直方位转台固定连接;及
用于控制所述支撑件和垂直方位转台动作的驱动装置,所述驱动装置分别与所述支撑件和垂直方位转台电连接。


2.如权利要求1所述的雷达测试装置,其特征在于,所述垂直方位转台的转动范围为-10°~10°。


3.如权利要求1所述的雷达测试装置,其特征在于,所述雷达测试装置中还包括第二水平滑轨,所述第一水平滑轨滑动设置于所述第二水平滑轨上方,所述支撑件滑动连接于所述第一水平滑轨上方,且所述第一轴向和第二轴向相互垂直,所述第一水平滑轨与驱动装置连接。


4.如权利要求1-3任意一项所述的雷达测试装置,其特征在于,所述支撑件中包括竖直滑轨,所述竖直滑轨设置于所述支撑件的上方端部,所述垂直方位转台...

【专利技术属性】
技术研发人员:齐照山林东峰何育林齐文家杨湖湖
申请(专利权)人:上海为彪汽配制造有限公司
类型:新型
国别省市:上海;31

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