本实用新型专利技术公开了一种芯片测试机的测试夹具及设备，测试夹具包括定夹具和用于夹紧芯片的推料板，所述的定夹具上开设有推料口的夹槽，推料板嵌设推料口内，所述的推料板包括推杆和固定设置在推杆上用于推动芯片的推头，所述的推杆在气缸的作用下推动推头沿芯片的对角线运动，推头与夹槽壁共同作用将芯片固定在夹槽内。该测试夹具的定夹具上开设有一角开口的夹槽，推料板在气缸的作用下与定夹具共同夹紧或者松开芯片，定夹具实现定位，夹具能够实现自动夹紧芯片，可以用于自动化生产线。
【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试机的测试夹具及设备
本技术属于芯片生产测试设备
，具体地说，涉及一种芯片测试机的测试夹具及设备。
技术介绍
变压器是利用电磁感应的原理来改变交流电压的装置，主要的构件是初级线圈、次级线圈和铁芯。主要功能有：电压变换、电流变换、隔离、稳压等。除了现在大型的变压器外，为了适应现代电子产品小型化、集成化的发展，变压器也相应的越来越小。小型的变压器在完成制作后通常需要进行高压测试和综合电性测试，只有同时通过高压测试和综合测试的变压器才是质量合格的变压器。传统的生产过程中，进行变压器的高压测试和综合电性测试均采用人工手动操控测试头进行，需要耗费大量人力，且效率低下。在测试过程中需要对芯片进行夹持定位，以便于测试头能够进行准确定位。申请号为CN201420681763.2的中国技术专利公开了一种推进式板焊夹具，底架上设有定位块、钳口板，导轨槽、固定孔，钳口板分布在底架的两前侧边上，固定孔分布在底架的两后侧边上，导轨槽以底架上的对角线为对称轴平行分布，定位块位于底架的最后端，定位块纵向中部设有柱体槽，夹块上设有螺盘槽、滑块，螺盘槽位于夹块的后侧表面，滑块位于夹块的底部，定位柱体横向中部设有螺丝通孔，定位柱体直径两端设有凸起方柱体，固定垫板中部设有通孔，螺盘上有螺孔，螺盘通过螺孔固定在螺杆尾端。本技术采用了导轨槽、定位柱体与滑块、柱体槽的组配合方式，进一步提高板焊夹具的焊接精度，有效的提高了焊接板的质量。该方案中提出了采用螺杆实现夹板的移动以夹紧零配件的一种夹具，但是该产品中主要还是采用人工调整夹板位置，不能够满足自动化生产线的需求。
技术实现思路
针对现有技术中上述的不足，本技术提供一种芯片测试机的测试夹具及设备，该测试夹具的定夹具上开设有一角开口的夹槽，推料板在气缸的作用下与定夹具共同夹紧或者松开芯片，定夹具实现定位，夹具能够实现自动夹紧芯片，可以用于自动化生产线。为了达到上述目的，本技术采用的解决方案是：一种芯片测试机的测试夹具，包括定夹具和用于夹紧芯片的推料板，所述的定夹具上开设有推料口的夹槽，推料板嵌设推料口内，所述的推料板包括推杆和固定设置在推杆上用于推动芯片的推头，所述的推杆在气缸的作用下推动推头沿芯片的对角线运动，推头与夹槽壁共同作用将芯片固定在夹槽内。所述的夹槽包括第一夹槽壁和第二夹槽壁，推料板与嵌设在第二夹槽壁同侧的推料口内；第一夹槽壁与第二夹槽壁之间，第一夹槽壁与推头之间分别开设有用于取放芯片的取放槽。所述的推杆包括平行于夹槽对角线设置的第一推杆和垂直于第一推杆并与气缸连接的第二推杆，第一推杆固定连接在第二推杆上，所述的第二推杆的自由端固定设置有推头。所述的夹槽为多个，所述的第一推杆上固定连接有对应数量的第二推杆，第二推杆的自由端固定设置有推头，第一推杆在气缸作用下推动第二推杆及第二推杆上的推头与夹槽壁共同作用同时将多个芯片分别固定在夹槽内。所述的推杆包括平行于夹槽对角线设置的第一推杆和垂直于第一推杆并与气缸连接的第二推杆，第一推杆固定连接在第二推杆上，所述的第一推杆与定夹具相邻的一端以及第二推杆的自由端分别固定设置有推头。所述的夹槽为多个，所述的第一推杆上固定连接有第二推杆，第二推杆的数量比夹槽数量少一个，第二推杆的自由端固定设置有推头，第一推杆与定夹具相邻的一端固定设置有推头，第一推杆在气缸作用下推动固定设置在第一推杆上的推头以及固定设置在第二推杆上的推头与夹槽壁共同作用同时将多个芯片分别固定在夹槽内。所述的推头为L形推头。所述的夹槽的槽角处开设有一用于防止芯片角磨损的3/4圆柱槽。应用测试夹具的设备，包括所述的测试夹具。本技术的有益效果是：(1)该测试夹具的定夹具上开设有一角开口的夹槽，推料板在气缸的作用下与定夹具共同夹紧或者松开芯片，定夹具实现定位，夹具能够实现自动夹紧芯片，可以用于自动化生产线。(2)第一夹槽壁与第二夹槽壁之间，第一夹槽壁与推头之间分别开设有用于取放芯片的取放槽，便于自动化生产时机械手取放产品，同时也可以用于人工测试时取放产品。(3)定夹具上可以开设多个夹槽，通过一个气缸能够同时对多个芯片分别进行定位和夹紧，满足多产品同步测试的需求。(4)夹槽的槽角处开设有一用于防止芯片角磨损的3/4圆柱槽，能有效缓解芯片被夹紧后芯片的棱受到的应力，避免芯片的棱和角磨损。附图说明图1为本技术测试夹具立体图；图2为本技术实施例一测试夹具示意图；图3为本技术实施例二测试夹具示意图；图中，1-定夹具，101-第一夹槽壁，102-第二夹槽壁，2-推料板，201-推杆，2011-第一推杆，2012-第二推杆，202-推头，3-夹槽，4-气缸，5-3/4圆柱槽，6-取放槽，7-推料口。具体实施方式以下结合附图对本技术作进一步描述：如图1所示，一种芯片测试机的测试夹具，包括定夹具1和用于夹紧芯片的推料板2，所述的定夹具1上开设有推料口7的夹槽3，推料板2嵌设在推料口7内，所述的推料板2包括推杆201和固定设置在推杆201上用于推动芯片的推头202，所述的推杆201在气缸4的作用下推动推头202沿芯片的对角线运动，推头202与夹槽3壁共同作用将芯片固定在夹槽3内。推料板2在气缸4的作用下与定夹具1共同夹紧或者松开芯片，定夹具1实现定位，夹具能够实现自动夹紧芯片，可以用于自动化生产线。所述的夹槽3包括第一夹槽壁101和第二夹槽壁102，推料板2与嵌设在第二夹槽壁102同侧的推料口7内；第一夹槽壁101与第二夹槽壁102之间，第一夹槽壁101与推头202之间分别开设有用于取放芯片的取放槽6，便于自动化生产时机械手取放产品，同时也可以用于人工测试时取放产品。所述的夹槽3的槽角处开设有一用于防止芯片角磨损的3/4圆柱槽5，能有效缓解芯片被夹紧后芯片的棱受到的应力，避免芯片的棱和角磨损。实施例一在本技术的一个实施例中，如图2所示，一种芯片测试机的测试夹具，包括定夹具1和用于夹紧芯片的推料板2，所述的定夹具1上开设有推料口7的夹槽3，推料板2嵌设推料口7内，所述的推料板2包括推杆201和固定设置在推杆201上用于推动芯片的推头202，所述的推杆201在气缸4的作用下推动推头202沿芯片的对角线运动，推头202与夹槽3壁共同作用将芯片固定在夹槽3内。所述的夹槽3包括第一夹槽壁101和第二夹槽壁102，推料板2与嵌设在第二夹槽壁102同侧的推料口7内；第一夹槽壁101与第二夹槽壁102之间，第一夹槽壁101与推头202之间分别开设有用于取放芯片的取放槽6。所述的夹槽3的槽角处开设有一用于防止芯片角磨损的3/4圆柱槽5。推杆201包括平行于夹槽3对角线设置的第一推杆2011和垂直于第一推杆2011并与气缸4连接的第二推杆2012，第一推杆2011固定连接在第二推杆2012上，所述的第二推杆2012的自由端固定设置有推头202，所述本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种芯片测试机的测试夹具，其特征在于：包括定夹具(1)和用于夹紧芯片的推料板(2)，所述的定夹具(1)上开设有推料口(7)的夹槽(3)，推料板(2)嵌设推料口(7)内，所述的推料板(2)包括推杆(201)和固定设置在推杆(201)上用于推动芯片的推头(202)，所述的推杆(201)在气缸(4)的作用下推动推头(202)沿芯片的对角线运动，推头(202)与夹槽(3)壁共同作用将芯片固定在夹槽(3)内。/n
【技术特征摘要】
1.一种芯片测试机的测试夹具，其特征在于：包括定夹具(1)和用于夹紧芯片的推料板(2)，所述的定夹具(1)上开设有推料口(7)的夹槽(3)，推料板(2)嵌设推料口(7)内，所述的推料板(2)包括推杆(201)和固定设置在推杆(201)上用于推动芯片的推头(202)，所述的推杆(201)在气缸(4)的作用下推动推头(202)沿芯片的对角线运动，推头(202)与夹槽(3)壁共同作用将芯片固定在夹槽(3)内。
2.根据权利要求1所述的芯片测试机的测试夹具，其特征在于：所述的夹槽(3)包括第一夹槽壁(101)和第二夹槽壁(102)，推料板(2)与嵌设在第二夹槽壁(102)同侧的推料口(7)内；第一夹槽壁(101)与第二夹槽壁(102)之间，第一夹槽壁(101)与推头(202)之间分别开设有用于取放芯片的取放槽(6)。
3.根据权利要求1所述的芯片测试机的测试夹具，其特征在于：所述的推杆(201)包括平行于夹槽(3)对角线设置的第一推杆(2011)和垂直于第一推杆(2011)并与气缸(4)连接的第二推杆(2012)，第一推杆(2011)固定连接在第二推杆(2012)上，所述的第二推杆(2012)的自由端固定设置有推头(202)。
4.根据权利要求3所述的芯片测试机的测试夹具，其特征在于：所述的夹槽(3)为多个，所述的第一推杆(2011)上固定连接有对应数量的第二推杆(2012)，第二推杆(2012)的自由端固定设置有推头(202)，第一推杆(2011)在气缸(4)作用下推动第二推杆(2012)及第二推杆(201...
【专利技术属性】
技术研发人员：余代春，刘军，王强，
申请(专利权)人：绵阳宁瑞电子有限公司，
类型：新型
国别省市：四川;51
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