磁方位仪校验架制造技术

技术编号:2523734 阅读:190 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种磁方位仪校验架。为了克服现有无磁磁方位仪校验架主体为圆柱体,不能实现定位目标传递,磁方位仪校准误差大的不足,本实用新型专利技术包括底座(1)、蜗轮副(9)、锁紧装置(11)、托架(16),主轴(8)的上部固定安装有镜片架(10),镜片架(10)为四方体,四方体的四个面上固定安装有光学反光镜片(13),光学反光镜片(13)由调整螺丝(14)通过压片(15)固定,托架(16)固定安装在镜片架(10)的上面。其有益效果是结构简单、操作便捷、无磁操作,校对精准。(*该技术在2017年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种石油钻井行业标准磁方位仪校准装置,尤其是涉及 一种磁方位仪校验装置的磁方位仪校验架
技术介绍
标准磁方位仪校准装置中的校验架普遍使用一种转台装置。该装置有很多品种,规格不同,材质不同,通常都具有水平面360。均分的功能。对于大 多数的精密校验架, 一般都采用内置电路,由电机驱动转台转动。随着定向 井钻井技术的发展,定向井钻井作业对磁方位仪的精度要求越来越高,对磁 方位仪校准的误差要求越来越小,采用内置电路,由电机驱动转台转动的校 验架由于存在磁场干扰,不能满足仪器的校准精度要求。为了适应定向钻井 技术的需要,出现了无磁的磁方位仪校验架,而目前的无磁校验架的主体为 圆柱体,不能实现定位目标的传递,磁方位仪校准的误差大,不能适应钻井 作业的需要。
技术实现思路
为了克服现有无磁磁方位仪校验架主体为圆柱体,不能实现定位目标传 递,磁方位仪校准的误差大的不足,本技术提供一种磁化率低,水平面 360°四等分,能够实现定位目标传递的磁方位仪校验架。为了达到上述目的,本技术磁方位仪校验架包括底座、蜗轮副、主 轴、锁紧装置、托架,蜗轮副带动主轴转动,托架上有安装被校仪器的夹具, 锁紧装置用于锁定蜗轮副。主轴上部固定安装有镜片架,镜片架为四方体, 四方体的四个面上固定安装有光学反光镜片;光学反光镜片由调整螺丝通过 压片固定,托架固定安装在镜片架的上面。主轴与底座的垂直偏差度《5〃 ;镜片架四个面上光学反光镜片正交偏差《4",托架上平面与主轴的轴线垂直 度偏差《30"。本技术磁方位仪校验架的有益效果是,结构简单、操作便捷、无磁操 作,校对精准。附图说明图l是本技术磁方位仪校验架结构示意图。图2是本技术图1的E-E剖面图。 图3是本技术图1的F-F剖面图。 图4是本技术中镜片架的A向视图。图中l.底座,2.水平泡,3.壳体,4.调整螺丝,5.壳体上盖,6.蜗杆,7. 蜗轮,8.主轴,9.蜗轮副,IO.镜片架,ll.锁紧装置,12.镜片槽,13.光学反光 镜片,14.调整螺丝,15.压片,16.托架,17.夹具,18.螺栓。具体实施方式以下结合附图和实施例对本技术进一步说明。本技术磁方位仪校验架包括底座1、蜗轮副9、锁紧装置11、托架 16,蜗轮副9带动主轴8转动,托架16上有安装被校仪器的夹具17,锁紧装 置用于锁定蜗轮副9。主轴8的上部固定安装有镜片架10;镜片架IO为四方 体,光学反光镜片13由调整螺丝14通过压片15固定;托架16固定安装在 镜片架10的上面。本技术磁方位仪校验架主要包括底座、主体和台架三部分。 底座1为三角形,三个角分别安装调整螺丝4,通过调节调整螺丝调节 底座1水平度;底座1有水平泡2,用于检测底座水平度。安装时要求底座水 平泡居中,主轴8与底座1的垂直偏差《5"。底座1也可以是其他形状,3 个调整螺丝4呈三角形排列。主体可分为主体上部和主体下部。主体下部主要包括蜗轮副9、锁紧装置11、主轴8的下部、壳体3以及壳体上盖5等。壳体3固定安装在底座1上, 蜗杆6安装在壳体3上,蜗轮7与主轴8固定连接。转动蜗杆6,带动蜗轮7 旋转,再由蜗轮7带动主轴8旋转;锁紧装置11用于锁定蜗轮副9。主轴8 的下部位于壳体3中;壳体上盖5的内孔与主轴8的外圆为间隙配合,并将 主轴8的下部密封在壳体3内。主体上部主要包括主轴8的上部、镜片架IO、光学反光镜片13。主轴8 上部固定安装有镜片架10,镜片架10的外表面为正四方体,四方体的四面有 等深的镜片槽12,光学反光镜片13安装在镜片槽12中,光学反光镜片13 由调整螺丝14通过压片15固定。通常每个光学反光镜片13由沿镜片圆周均 布的3个调整螺丝14固定。通过调节调整螺丝14可以调整光学反光镜片13, 使镜片架10四个面上光学反光镜片13正交偏差《4"。台架包括托架16和夹具17。托架16由螺栓18固定安装在镜片架10的 上面,托架16上固定安装有夹具17。夹具17用于固定被校准的仪器。托架 16上平面与主轴8的垂直度偏差《30〃 。本技术磁方位仪校验架为了达到无磁操作,选用无磁性能好的材料制 作零部件,如H62、 YL12等材料;同时转动机构采用手动机械调整,在磁方 位仪校验架主体部分不引入任何电路,由此保证校验架无磁。权利要求1.一种磁方位仪校验架,包括底座、蜗轮副、主轴、锁紧装置、托架,蜗轮副带动主轴转动,托架上有安装被校仪器的夹具,锁紧装置用于锁定蜗轮副,其特征是主轴(8)上部固定安装有镜片架(10),镜片架(10)为四方体,四方体的四个面上固定安装有光学反光镜片(13),光学反光镜片(13)由调整螺丝(14)通过压片(15)固定,托架(16)固定安装在镜片架(10)的上面。2. 根据权利要求1所述的磁方位仪校验架,其特征是所述主轴(8) 与底座(1)的垂直度偏差《5〃 ;镜片架(10)四个面上光学反光镜片(13) 正交偏差《4〃 ,托架(16)的上平面与主轴(8)的轴线垂直度偏差《30"。3. 根据权利要求2所述的磁方位仪校验架,其特征是所述的磁方位仪 校验架中的金属零件、部件选用无磁材料。4. 根据权利要求3所述的磁方位仪校验架,其特征是所述的磁方位仪 校验架中的金属零件、部件选用H62、 YL12材料。5. 根据权利要求4所述的磁方位仪校验架,其特征是所述每个光学反 光镜片(13)由沿光学反光镜片(13)圆周均布的3个调整螺丝(14)固定。6. 根据权利要求5所述的磁方位仪校验架,其特征是所述镜片架(IO) 四方体的四面有等深的镜片槽(12),光学反光镜片(13)安装在镜片槽(12) 中。专利摘要一种磁方位仪校验架。为了克服现有无磁磁方位仪校验架主体为圆柱体,不能实现定位目标传递,磁方位仪校准误差大的不足,本技术包括底座(1)、蜗轮副(9)、锁紧装置(11)、托架(16),主轴(8)的上部固定安装有镜片架(10),镜片架(10)为四方体,四方体的四个面上固定安装有光学反光镜片(13),光学反光镜片(13)由调整螺丝(14)通过压片(15)固定,托架(16)固定安装在镜片架(10)的上面。其有益效果是结构简单、操作便捷、无磁操作,校对精准。文档编号G01C25/00GK201003957SQ20072010347公开日2008年1月9日 申请日期2007年2月6日 优先权日2007年2月6日专利技术者园 李, 雷艳平, 顾凤娣, 魏春明 申请人:大港油田集团有限责任公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种磁方位仪校验架,包括底座、蜗轮副、主轴、锁紧装置、托架,蜗轮副带动主轴转动,托架上有安装被校仪器的夹具,锁紧装置用于锁定蜗轮副,其特征是:主轴(8)上部固定安装有镜片架(10),镜片架(10)为四方体,四方体的四个面上固定安装有光学反光镜片(13),光学反光镜片(13)由调整螺丝(14)通过压片(15)固定,托架(16)固定安装在镜片架(10)的上面。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:魏春明李园雷艳平顾凤娣
申请(专利权)人:大港油田集团有限责任公司
类型:实用新型
国别省市:12[中国|天津]

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