【技术实现步骤摘要】
一种磁石磁场测量装置和磁石磁场测量系统
本申请涉及微小磁石的磁场自动化检测领域，尤其涉及一种磁石磁场测量装置和磁石磁场测量系统。
技术介绍
随着人们对磁性产品性能要求的不断增加，磁性产品的磁场检测方法也在相应的不断提高。目前的人工检测对于直径和高度较小的磁性产品的检测精度较低，会产生较大误差。
技术实现思路
本申请的目的是提供一种检测磁性产品磁场精度较高的一种磁石磁场测量装置和磁石磁场测量系统。本申请公开了一种磁石磁场测量装置，包括基座、第一定位块、第二定位块和测试探头；所述第一定位块包括第一凸台和第二凸台，所述第一定位块设置在基座的一侧，所述第一凸台和所述第二凸台都位于所述第一定位块的同一侧；所述第二定位块设置在基座的一侧，与第一定位块同侧；所述第二定位块与所述第一定位块相对间隔设置；所述第二定位块包括第三凸台和第四凸台，所述第三凸台和所述第四凸台都位于所述第二定位块靠近第一定位块一侧，所述第一凸台和第二凸台都位于所述第一定位块靠近第二定位块的一侧；所述第三凸台和第四凸台分别与所述第一凸台和所述第二...
【技术保护点】
1.一种磁石磁场测量装置，其特征在于，包括：/n基座；/n第一定位块，设置在基座的一侧，包括第一凸台和第二凸台，所述第一凸台和第二凸台都位于所述第一定位块的同一侧；/n第二定位块，设置在基座的一侧，且与所述第一定位块同侧；与所述第一定位块相对间隔设置；所述第二定位块包括第三凸台和第四凸台；所述第三凸台和第四凸台都位于所述第二定位块靠近第一定位块的一侧，所述第一凸台和第二凸台都位于所述第一定位块靠近第二定位块的一侧；所述第三凸台和第四凸台分别与所述第一凸台和第二凸台对应间隔设置；以及/n测试探头，位于所述第二凸台和所述第四凸台的间隙之间；/n其中，所述第一定位块和所述第二定位块具有导磁性。/n
【技术特征摘要】 【专利技术属性】
1.一种磁石磁场测量装置，其特征在于，包括：
基座；
第一定位块，设置在基座的一侧，包括第一凸台和第二凸台，所述第一凸台和第二凸台都位于所述第一定位块的同一侧；
第二定位块，设置在基座的一侧，且与所述第一定位块同侧；与所述第一定位块相对间隔设置；所述第二定位块包括第三凸台和第四凸台；所述第三凸台和第四凸台都位于所述第二定位块靠近第一定位块的一侧，所述第一凸台和第二凸台都位于所述第一定位块靠近第二定位块的一侧；所述第三凸台和第四凸台分别与所述第一凸台和第二凸台对应间隔设置；以及
测试探头，位于所述第二凸台和所述第四凸台的间隙之间；
其中，所述第一定位块和所述第二定位块具有导磁性。
2.如权利要求1所述的一种磁石磁场测量装置，其特征在于，所述磁石磁场测量装置包括第一凸板，所述基座设置有第一凹槽，所述第一凹槽自与第一定位块对应的基座一侧设置到基座的另一侧；所述测试探头设置在所述第一凸板上，所述第一凸板设置在所述第一凹槽内；所述第二凸台和第四凸台之间的间隙对应所述第一凹槽。
3.如权利要求2所述的一种磁石磁场测量装置，其特征在于，所述第一凸板的形状为长方体凸台，所述第一凹槽的形状为长方体凹槽，所述第一凹槽贯穿所述基座相对设置的两个平面，所述第一凹槽对所述基座的贯穿方向与所述第一凹槽长边延伸的方向一致，所述第一凸板的长边大于所述第一凹槽的长边。
4.如权利要求2所述的一种磁石磁场测量装置，其特征在于，所述第一凸板的形状为长方体凸台，所述第一凹槽的形状为长方体凹槽，所述第一凸板的短边大于所述第一凹槽的短边。
5.如权利要求2所述的一种磁石磁场测量装置，其特征在于，所述第一定位块远离所述第一凸台和第二凸台的一侧设置有第一通孔，所述第二定位块远离所述第三凸台和第四凸台的一侧设置有第二通孔，所述基座包括第二凹槽和固定件，所述固定件与所述第一通孔、第二通孔和第二凹槽连接，所述固定件通过所述第一通孔将所述第一定位块固定在所述基座上，所述固定件通过所述第二通孔将所述第二定位块固定在所述基座上。
6.如权利要求5所述的一种磁石磁场测量装置，其特征在于，所述固定件为螺钉，所述第二凹槽上有与所述螺钉相配合的螺纹。
技术研发人员：焦卫东，
申请(专利权)人：骏材深圳科技工程有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44
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