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表面粗糙度测量仪制造技术

技术编号:2516512 阅读:189 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种表面粗糙度测量仪,其特征在于该装置是在中央处理器上外接存储器、显示器、控制键盘和光控电路,光纤传感器接光控电路和中央处理器。(*该技术在2013年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种表面粗糙度测量装置。
技术介绍
以“表面粗糙度”取代“表面光洁度”,是二十世纪八十年代我国制定和颁布的对机械零件加工精度进行衡量的一个新标准。现有表面粗糙度的测量方法包括有比较法、针描法、光切法、干涉法和印模法等多种,主要是使用样板、电动轮廓仪、光切显微镜、干涉显微镜等多种工具和计量仪器。除样板比较法外,其他各种测量方法都需在计量室内由专业人员进行测量操作,这很不利于工件加工过程中的现场实时检测和操作。将“表面光洁度”由“表面粗糙度”所取代的主要目的就是要取消以级别评定来确定指标的“样板比较法”,以避免用人眼观察确定工件加工精度所引发的争议和计量误差。但多年来,因生产和检验现场缺少一种能直观、便捷地测量出加工工件表面粗糙度具体数值的测量装置和检测手段,因此现在还只能留用在原来的样板评定方式,即还是表面光洁度的检验。当有争议发生时,再通过计量部门的专业计量来判定表面粗糙度的具体数值。这就给实际工作带来诸多不便。
技术实现思路
本技术的目的就是提供一种可在生产和检验现场使用的表面粗糙度测量仪,以使“表面粗糙度”的计量简单化、科学化、数值化,使国家制定的相关标准能够真正付诸实施。本本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:石岩雷彬石敬谊雷亮
申请(专利权)人:石岩
类型:实用新型
国别省市:

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