外圆定位键槽对称度测量仪制造技术

一种外圆定位键槽对称度测量仪，包括假键和指示器，其关键在于一个主支架１和一个相固接的副支架６。工作时，以假键模拟键槽实际中心，测量仪上之“Ｖ”形面和角度测头在轴和假键上定位，指示器在定位块上测量取值，具有基准统一，测量稳定，结构简单，使用方便，能在加工中测量之优点，附加少量简单工具后，还可进行机床中心之校正和圆锥轴上之测量。（*该技术在2002年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种测量轴上键槽对称度的测量仪。目前，用于测量键槽对称度的仪器以如何模拟键槽中心；指示器［如百分表等］在什么表面测量取值；指示器和测量架的联接和配置关系之不同而可分为以下几类：1、平板－－假键法［见图1］电机行业作为最终判定法。有以下缺点：（1）必须将工件置于平板、V形铁上仔细找正，手续繁，不能在加工中测量及时校正机床。（2）基准不统一，设计基准是键槽所在的轴中心线，测量基准则常只能是轴承位等其它表面。（3）存在校正假键表面的测量误差。（4）测量架必须在较大范围内移动测量，易因平板之平面度误差［磨损或其它损伤］，表面异物等因素出现测量误差。2、三点式测量仪［见图2］以键槽底面和侧面来模拟键槽实际中心，指示器与实现上述功能之元件联结为一体，指示器在轴的外圆上取值。该类测量仪可在机床上测量，但存在下列问题：（1）基准不统一，设计基准为通过轴心线的某个平面，测量基准却包含有与之无直接关系的键槽底面。（2）定位不稳定，定位件为距离很近之三个小圆球，但要支撑占较大空间的测量机构。（3）三个定位小圆球为点接触，易受键槽底面、侧面之宏-->观及微观几何状况之干扰。数年实践证明，该量仪误差较大。3、楔块式测量仪［见图3］用楔块模拟键槽实际中心，与之联接成一体的指示器在轴外圆上取值，数年前提出后，未得推广，原因是采用小的定位面支撑占较大空间的测量机构，在键槽和楔块存在几何形状误差的情况下易受操作时的外力干扰而丧失定位稳定性。4、假键－－百分表法［见图4］以定位块［假键］模拟键盘实际中心，带指示器［如百分表］在假键上滑动并在轴的外圆上取值。理论上讲，该类测量仪可以克服前面几种测量仪的缺点。但定位块［假键］的定位面积不大，在它上面放置和移动带指示器的测量架是不尽合理的。其次，该类测量仪不可能在键槽加工前进行机床－－工件中心位置的校正。本技术的目的在于提供一种外圆定位键槽对称度测量仪。本技术的目的是这样实现的，即：该测量仪包括假键和指示器，关键在于一个主支架和一个相固接的副支架。所述的主支架上部设有一个装夹指示器的孔，下部一端设有一个角度测头；主支架的底面和副支架的外侧面共同构成一“V”形面。当进行加工前的机床－－工件中心位置校正时，将假键装在机床主轴孔中，作为模拟机床主轴中心的标准心轴，该测量仪与假键分离，其上的“V”形面在键槽所在轴上作圆－－轴心线定位，角度测头在假键上作角度定位，本测量仪之指示器在假键上测量取值，左、右两面对称度取值之差为△X，调整机床，消除对称度误差即可进行键槽加工。-->本测量仪也可测量长向对称度误差。本技术与现有技术相比，具有：（1）基准统一，无定位间隙，不存在定位误差。（2）定位稳定，这是由于：a、需要测量、考核对称度误差的键槽所在轴表面微观和宏观几何精度均较高，且易清除异物。b、测量仪轻巧、定位面积大，角度测头靠近定位块的定位部份，不易受操作时之外力干扰。（3）结构简单、成本低。（4）在附加少量简单附加工具后，本技术可用于圆锥形轴上之测量。（5）可以在机床上不松装夹时测量，也可以用于加工前校正机床－－工件中心。（6）可以直接测出f值或它的某个整数倍根据需要，本技术可以装成专用型和可调型两种。图1为现有技术中平板－－假键法测量仪的结构示意图；图2为现有技术中三点式测量仪的结构示意图；图3为现有技术中楔块式测量仪的结构示意图；图4为现有技术中假键－－百分表法测量仪的结构示意图；图5为本技术的总体结构示意图。图5中，1为主支架，2为假键，3为角度测头，4为指示器，5为“V”形面，6为副支架。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种外圆定位键槽对称度测量仪，包括假键，指示器，其特征在于一个主支架（１），一个相固接的副支架（６）。

【技术特征摘要】
1、一种外圆定位键槽对称度测量仪，包括假键，指示器，其特征在于一个主支架(1)，一个相固接的副支架(6)。2、按照权利要求1所述的测量仪，其特征在于主支架1上部设有...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭开禹，
申请(专利权)人：重庆特种电机厂，
类型：实用新型
国别省市：85[中国|重庆]