【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于位置传感器设计
,特别涉及采用线阵型CCD构成的非接触二维位置测量装置。电荷耦合摄像器件(CCD)在非接触测量、图像传感及储存等方面有广泛的应用前景。CCD分为二大类线阵型CCD器件和面阵型CCD器件。线阵型CCD具有像元数多、速度快、拼接技术成熟、价格低等特点,如日本东芝公司的5000位CCD,工作频率20MHz,美国希洛克公司的5732位CCD,工作频率32MHz,英国EV公司的CCD21-40型CCD像元可达12288位,工作频率4MHz。由于上述特点,线阵型CCD很容易实现一维尺寸的高精度测量和定位系统。面阵型CCD可以直接用于二维尺寸测量和定位系统,但是由于面阵型CCD像元少(美国Tektronix公司已经生产出2048*2048像元面阵型CCD,国内目前最多能买到1024*1024像元面阵型CCD,且价格极高。),因而无法实现高精度位置测量。另外,面阵型CCD图象处理复杂、信号处理周期长,需要专用的图象卡及软件。本专利技术的目的在于为克服已有技术的不足之处,通过设计特殊的光学系统,采用两个线阵型CCD构成了二维位置测量装置。使 ...
【技术保护点】
一种基于线阵型CCD的二维位置测量装置,其特征在于包括共轴设置的主球面镜、球面镜和分光棱镜,在所说的分光棱镜分出的两条相互相垂直的光轴线上分别设置两个柱面镜及两个线阵型CCD器件,所说的两个柱面镜的圆柱轴线互相垂直,所说的主球面镜与球面镜之间的距离等于主球面镜的像距与球面镜的焦距之和,还包括CCD驱动电路、CCD信号处理电路以及对该信号处理电路输出信号进行计算、显示结果的计算机。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:尤政,董斌,杨韧,刘兴占,
申请(专利权)人:清华大学,
类型:发明
国别省市:11[中国|北京]
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