【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于激光准直测量方法，特别是一种使用组合式激光准直测量仪，来实测大尺寸零件的形位公差的。目前国内生产车间在测量大尺寸零件的同心度，直线度，平行度、平面度、垂直度时，仍在沿用拉钢丝放假轴、用大平尺、大角尺等方法。此方法使用时测量精度不理想，测量工序繁杂，费时，因此，机械工厂，尤其是重型机械厂需要在车间现场有实用的、简捷的、高精度的测量形位公差的方法。本专利技术的目的是提供一种使用激光准直测量仪来实测大尺寸零件的形位公差的激光准直测量方法。即可测量距离大于20M，分辩率优于1/000mm的工件，自动完成大尺寸零件形位偏差测量，且可在生产现场实现测量的。克服上述的原来在测量大尺寸零件的同心度，直线度，平行度、平面度、垂直度时使用原有的仪器和方法的缺点和不足。本专利技术的目的是这样实现的采用一种激光准直测量仪，它由激光发射部分和激光位敏探测部分组成，激光发射部分是Ga-Al-As长距离激光发射管，装在四自由度光学云台中，此云台又支承在落地支架上，Ga-Al-As激光发射管由电源供电；激光位敏探测部分由内装PIN-SC硅光伏效应四轴线型位敏探测器的接收器插入...
【技术保护点】
一种激光准直测量形位公差的方法，其特征在于：本专利技术特殊使用操作方法的是二次瞄准，测量、计算再次瞄准而达到三点共线，建立测量基准直线；第一步将导向支架确定支放点Ｏ↓［２］、Ｏ↓［２］并作明显标记（如在平面度，直线度测量时）；支放好激光发射 管、调整支架，激光发射器它的中心点为Ｏ↓［１］；第二步将探测器靶芯插在支架的Ｏ↓［２］处，将激光发射器与探测器瞄准对中（Ｘ＝０，Ｙ＝０）然后将位敏探测器移到Ｏ↓［３］处，得到读数Ａ，确定一个点Ｏ↓［３］′，由此得到Ｏ↓［１］－Ｏ↓［２］ －Ｏ↓［３］′附助线，Ｏ↓［１］－Ｏ↓［２］′＝Ｌ，Ｏ↓［２］′－Ｏ↓［３］″＝Ｌ↓［２...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：萧宁华，武长贵，张玉明，
申请(专利权)人：天津市威德电子系统有限公司，武长贵，张玉明，
类型：发明
国别省市：12[中国|天津]
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