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激光准直测量形位公差的方法，第一步建立测量基准直线，通过上述的二次瞄准方法，达到三点共线从而可建立测量基准直线；第二步在被测工件的轮廓面上移动位敏探测器，读出其上的位敏探测器的偏离读数，即得到直线度。同理亦可用来检测平面度，静挠度，扭曲度。...该专利属于天津市威德电子系统有限公司;武长贵;张玉明所有，仅供学习研究参考，未经过天津市威德电子系统有限公司;武长贵;张玉明授权不得商用。