移苗器检测仪制造技术

技术编号:2507023 阅读:169 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术涉及一种检测仪,具体地说是一种移苗器检测仪。该检测仪包括定位块、测量基准面、刻度盘,定位块、刻度盘分别与测量基准面固接,定位块位于测量基准面的中后部,其上设置有通孔,刻度盘位于测量基准面的中前部,其上设置有高度方向和水平方向的刻度。该检测仪可以完成特定零件的形状误差的测量,结构简单、操作方便、直观性强、误差矫正可以在器具上直接进行,对于同一类零件有很强的应用价值。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种检测仪,具体地说是一种移苗器检测仪
技术介绍
现有的通用测量工具如游标卡尺、千分尺、角度尺、量角 仪、合尺、钢板尺等测量工具,可以完成零件线性尺寸的测量。 但对复杂形状零件的形状误差的测量无法完成。
技术实现思路
本专利技术的专利技术目的在于克服现有技术不足,提供一种能测量 复杂形状零件的形状误差的移苗器检测仪。本专利技术的目的是采用以下技术方案完成的一种移苗器检测仪,该检测仪包括定位块、测量基准面、刻 度盘,定位块、刻度盘分别与测量基准面固接,定位块位于测量 基准面的中后部,其上设置有通孔,刻度盘位于测量基准面的中 前部,其上设置有高度方向和水平方向的刻度。采用上述技术方案,与现有技术相比,本专利技术的优点是该 检测仪可以完成特定零件的形状误差的测量,结构简单、操作方 便、直观性强、误差矫正可以在器具上直接进行,对于同一类零 件有很强的应用价值。 附图说明图l为本专利技术的主视图。图2为本专利技术的俯视图。图3为本专利技术刻度盘的示意图。图4为本专利技术测量时的示意图。 具体实施例方式见图l,图2,图3, 一种移苗器检测仪,该检测仪包括定位块l、测量基准面3、刻度盘4,测量基准面3上设有2个定位块1,定位块1与测量基准面3固接,位于测量基准面3的中后部, 在定位块1上设置有安装定位轴的通孔2,该通孔2的直径与被 测量零件的孔径相等,对被测零件的五个自由度进行限制,刻度 盘4与测量基准面3固接,位于测量基准面3的中前部,其上设 置有高度方向和水平方向的刻度。见图4,本专利技术测量时将零件5上的孔与定位块1上的通孔2 对齐,穿入直径与孔形成间隙配合的两端带有螺纹的轴6,零件 5的圆弧端放在刻度盘4的空挡内落在测量基准面3上,零件5 被固定在测量仪上。当零件5没有形状误差时,零件5圆弧的两 端7就会在刻度盘4的同一条刻度线上,其显示出相同的数据; 当零件5有形状误差时,零件5圆弧的两端7就会在刻度盘4上 的不同的刻度线上,其显示出不相同的数据。操作者对误差进 行矫正,零件不必离开测量仪,用锤子敲打铲片的两侧,使,产片 绕铆钉旋转一个微小的角度,直至铲片圆弧两端7在同一条刻度 线上为止。权利要求1、一种移苗器检测仪,其特征在于该检测仪包括定位块、测量基准面、刻度盘,所述的定位块、刻度盘分别与测量基准面固接,定位块位于测量基准面的中后部,其上设置有通孔,刻度盘位于测量基准面的中前部,其上设置有高度方向和水平方向的刻度。全文摘要本专利技术涉及一种检测仪,具体地说是一种移苗器检测仪。该检测仪包括定位块、测量基准面、刻度盘,定位块、刻度盘分别与测量基准面固接,定位块位于测量基准面的中后部,其上设置有通孔,刻度盘位于测量基准面的中前部,其上设置有高度方向和水平方向的刻度。该检测仪可以完成特定零件的形状误差的测量,结构简单、操作方便、直观性强、误差矫正可以在器具上直接进行,对于同一类零件有很强的应用价值。文档编号G01B5/20GK101290206SQ200810127070公开日2008年10月22日 申请日期2008年6月20日 优先权日2008年6月20日专利技术者刘黎明 申请人:唐山市燕南制锹有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种移苗器检测仪,其特征在于:该检测仪包括定位块、测量基准面、刻度盘,所述的定位块、刻度盘分别与测量基准面固接,定位块位于测量基准面的中后部,其上设置有通孔,刻度盘位于测量基准面的中前部,其上设置有高度方向和水平方向的刻度。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:刘黎明
申请(专利权)人:唐山市燕南制锹有限公司
类型:发明
国别省市:13[中国|河北]

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