【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种用于孔径测量的机构,尤其是一种塞规头孔径测量机构, 属于测量检验装置
技术介绍
目前,测量孔径通常是通过卡尺和三坐标测量仪测量。卡尺测量是通过 目测大致确定测量位置然后读数,这肯定会造成测量时重复精度差、测量数 据不准确,不适用于要求较高精度的测量;而三坐标测量方法虽然能较为准 确的测量出孔径,但操作复杂,消耗时间很长,不适用于工件批量生产的检 验过程。
技术实现思路
本专利技术的目的是克服现有技术中存在的不足,提供一种精度测量高、操 作简单、测量消耗时间较短且结构简单的塞规头孔径测量机构。按照本专利技术提供的技术方案,所述塞规头孔径测量机构,它包括导向套 底端两侧开设的安装孔,在安装孔内滑动插接有测销,在导向套内固定安装 有弹性套,弹性套内开设有滑孔,在滑孔内滑动插接有顶杆,顶杆的底端为 锥形体,顶杆的顶端伸出导向套,在位于导向套外部的顶杆上设有限位凸起, 所述限位凸起架在滑孔外侧的导向套端面上,在导向套上端固定设有顶盖, 所述顶盖的顶端部设有通孔,顶杆的顶端从通孔内伸出,限位凸起被顶盖包 围其中,所述限位凸起上端的顶杆外套有复位弹 ...
【技术保护点】
一种塞规头孔径测量机构,其特征是:包括导向套(7)底端两侧开设有安装孔(10),在安装孔内滑动插接有测销(8),在导向套(7)内固定安装有弹性套(5),弹性套(5)内开设有滑孔(12),在滑孔(12)内滑动插接有顶杆(4),顶杆(4)的底端为锥形体(13),顶杆(4)的顶端伸出导向套(7),在位于导向套(7)外部的顶杆(4)上设有限位凸起(14),所述限位凸起(14)架在滑孔(12)外侧的导向套(7)端面上,在导向套(7)上端固定设有顶盖(2),所述顶盖(2)的顶端部设有通孔(15),顶杆(4)的顶端从通孔(15)内伸出,限位凸起(14)被顶盖(2)包围其中,所述限位凸起( ...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:刘明杰,顾震,周望威,
申请(专利权)人:无锡富瑞德精密机械有限公司,
类型:发明
国别省市:32[中国|江苏]
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