测试连接器的校准器制造技术

本实用新型专利技术涉及一种测试连接器的校准器，包括中空且顶部敞开的壳体、挡块、对接块和固定在对接块上的校准端头，所述挡块挡住壳体上敞开的顶部开口，所述壳体上开设有第一卡口，所述对接块上设置有第一凹陷部，所述第一凹陷部与第一卡口卡接。当校准端头发生老化时操作者可便捷地对测试端进行更换而无需更换整个校准器，本实用新型专利技术具有可减少材料浪费的效果。

【技术实现步骤摘要】
测试连接器的校准器
本技术涉及测试连接器的
，尤其是涉及一种测试连接器的校准器。
技术介绍
目前在电路模块生产加工完毕之后需对电路模块进行性能测试，以确定电路模块是否为合格产品，对电路模块的性能测试常运用到测试连接器。现有的测试连接器在长时间使用后需要进行校准，以对测试连接器的初始电信号进行归零，保证测试连接器在长时间使用过程中依然可以保持较高的测试准确度，提高对电路模块测试结果的准确度；现有的测试连接器在进行归零校准时常需使用校准器，校准器上设置有与测试连接器上的测试端头对准的校准端头，操作者启动与测试连接器连接的驱动装置，驱动装置驱动测试连接器做直线移动从而测试连接器上的测试端头与校准端头抵接，从而实现对测试连接器的归零校准。上述中的现有技术方案存在以下缺陷：现有的校准器常通过螺钉或卡箍等固定件固定在一个基座上，现有的校准端头常固定在校准器的外壳上，当校准器的校准端头在长时间使用后发生老化后，操作者需要对整个校准器进行更换，而当校准器上除校准端头以外其他部件均是完好的时候，对校准器进行整个更换将造成材料的浪费。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种测试连接器的校准器，当校准端头发生老化时操作者可便捷地对测试端进行更换而无需更换整个校准器，具有可减少材料浪费的优点。本技术的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：一种测试连接器的校准器，包括中空且顶部敞开的壳体、挡块、对接块和固定在对接块上的校准端头，所述挡块挡住壳体上敞开的顶部开口，所述壳体上开设有第一卡口，所述对接块上设置有第一凹陷部，所述第一凹陷部与第一卡口卡接。通过采用上述技术方案，当校准端头出现老化、损坏时，操作者只需掀起挡块即可将对接块从壳体上移出，进而解除校准端头与壳体的安装，操作者再将新的设置有校准端头的对接块安装在壳体上即可恢复校准器的正常校准功能，操作者不需对整个校准器进行更换，节约材料，节约成本；壳体的设置为与校准端头连接的电线提供了容纳空间，且操作者在安装对接块时只需将第一凹陷部对准第一卡口并移动对接块，从而使第一凹陷部卡入第一卡口，随后操作者再重新将挡块挡住壳体的顶部开口即可，操作方便。本技术进一步设置为：所述对接块上开设有对接槽，所述校准端头固定在对接槽槽壁上，所述对接槽内壁上开设有导向面，所述导向面开设在对接槽槽口边沿处。通过采用上述技术方案，由于工艺的限制，安装好的校准器和测试连接器在实际安装过程中易出现安装位置或者角度的轻微偏差，在驱动装置驱动测试连接器作直线运动以靠近校准器时，测试连接器上的测试端头基本对准校准端头，若测试端头为完全对准校准端头，测试端头抵接在斜面上，在斜面的引导下测试端头会最终会抵接在校准端头上，保证校准器对测试连接器的归零校准的正常进行。本技术进一步设置为：所述壳体内壁上开设有供挡块嵌入的卡槽，所述挡块与卡槽过盈配合。通过采用上述技术方案，挡块与卡槽的过盈配合使挡块紧固固定在壳体上，防止操作者在操作校准器时误碰挡块而时挡块掀起，防止挡块的掀起导致灰尘落入壳体内而减少校准器的寿命，且操作者手动即可实现对挡块的固定和掀起，方便了操作者对对接块对的更换。本技术进一步设置为：所述挡块部分嵌入第一卡口，所述挡块与对接块抵接，所述挡块与壳体顶部开口和第一卡口过盈配合。通过采用上述技术方案，挡块在嵌入卡槽的同时嵌入第一卡口，防止部分灰尘从第一卡口漏入壳体内而降低了校准器的寿命，且与卡槽和第一卡口过盈配合的卡块限制了对接块的上移，防止在对测试连接器进行校准的过程中对接块发生移动而影响测试连接器上的测试端头与校准端头的对准，同时挡块从第一卡口露出，方便了操作者在需要更换对接块时对挡块的掀起。本技术进一步设置为：所述壳体上开设有第二卡口，所述第二卡口上过盈配合有连接块，所述连接块一端凸出壳体外壁，所述连接块凸出壳体外壁的一端上固定有信号接头，所述信号接头与校准端头电性连接。通过采用上述技术方案，信号接头通过连接块固定在壳体上，操作者将连接块插入第二卡口即可完成信号接头的固定，操作方便，且当信号接头出现老化或损坏情况时，操作者可将挡块掀起以对出现老化或损坏的信号接头进行更换，操作者不需对整个校准器进行更换即可保证对校准器的正常使用，节约材料，节约成本。本技术进一步设置为：所述壳体内固定有支撑块，所述支撑块顶面与卡槽底壁相平，所述支撑块设置在壳体上各角处。通过采用上述技术方案，支撑块加强对挡块的支撑作用，防止操作者在安装挡块是用力过大而损坏挡块或对接块，同时支撑块可加强对壳体各角处的支撑，防止壳体各角处收到水平方向上的压力而损坏，增加校准器使用寿命。本技术进一步设置为：所述卡槽开设深度与挡块高度相等，所述挡块底面与卡槽底壁抵接。通过采用上述技术方案，当挡块完全嵌入卡槽后，挡块顶面与壳体顶面相平，防止卡槽开设较深时挡块底面低于壳体顶面时操作者难以将挡块从卡槽中取出。本技术进一步设置为：所述连接块凸出壳体外壁的部分上固定有抵接块，所述抵接块规格大于第二卡口规格。通过采用上述技术方案，操作者在安装连接块和信号街头时只需将连接块插入第二卡口并使抵接块抵住壳体即可，防止操作者用力过大而导致连接块进入壳体的体积太多而损坏壳体内的电线，操作方便。本技术进一步设置为：所述壳体侧部固定有第一凸块。通过采用上述技术方案，第一凸块的设置方便操作者手动拿起壳体，方便操作者对壳体的安装。本技术进一步设置为：所述壳体上侧部固定有与第二凸块，所述第二凸块与第一凸块在水平方向上存在间隔。通过采用上述技术方案，操作者可通过卡箍将壳体安装在一基座上，操作者可将卡箍穿过第二凸块与第一凸块之间的间隔并将卡箍固定在基座上，第一凸块、第二凸块限制住了卡箍与壳体之间的相对位移，防止该校准器在对测试连接器进行归零校准时收到测试连接器的推动而发生位移，保证对测试连接器的正常校准，方便了校准器的固定安装。综上所述，本技术的有益技术效果为：当校准端头出现老化、损坏时，操作者只需掀起挡块即可将对接块从壳体上移出，进而解除校准端头与壳体的安装，操作者再将新的设置有校准端头的对接块安装在壳体上即可恢复校准器的正常校准功能，操作者不需对整个校准器进行更换，节约材料，节约成本；操作者在安装对接块时只需将第一凹陷部对准第一卡口并移动对接块，从而使第一凹陷部卡入第一卡口，随后操作者再重新将挡块挡住壳体的顶部开口即可，操作方便；当信号接头出现老化或损坏情况时，操作者可将挡块掀起以对出现老化或损坏的信号接头进行更换，操作者不需对整个校准器进行更换即可保证对校准器的正常使用，节约材料，节约成本。附图说明图1是本实施例的结构示意图；图2是本实施例中壳体的结构示意图；图3是本实施例的爆炸示意图。图中，1、壳体；2、挡块；3、对接块；4、校准端头；5、第一开口；6、卡槽；7、支撑块；8、第一本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试连接器的校准器，其特征在于：包括中空且顶部敞开的壳体(1)、挡块(2)、对接块(3)和固定在对接块(3)上的校准端头(4)，所述挡块(2)挡住壳体(1)上敞开的顶部开口，所述壳体(1)上开设有第一卡口(8)，所述对接块(3)上设置有第一凹陷部(9)，所述第一凹陷部(9)与第一卡口(8)卡接。/n

【技术特征摘要】
1.一种测试连接器的校准器，其特征在于：包括中空且顶部敞开的壳体(1)、挡块(2)、对接块(3)和固定在对接块(3)上的校准端头(4)，所述挡块(2)挡住壳体(1)上敞开的顶部开口，所述壳体(1)上开设有第一卡口(8)，所述对接块(3)上设置有第一凹陷部(9)，所述第一凹陷部(9)与第一卡口(8)卡接。


2.根据权利要求1所述的测试连接器的校准器，其特征在于：所述对接块(3)上开设有对接槽(10)，所述校准端头(4)固定在对接槽(10)槽壁上，所述对接槽(10)内壁上开设有导向面(12)，所述导向面(12)开设在对接槽(10)槽口边沿处。


3.根据权利要求1所述的测试连接器的校准器，其特征在于：所述壳体(1)内壁上开设有供挡块(2)嵌入的卡槽(6)，所述挡块(2)与卡槽(6)过盈配合。


4.根据权利要求1所述的测试连接器的校准器，其特征在于：所述挡块(2)部分嵌入第一卡口(8)，所述挡块(2)与对接块(3)抵接，所述挡块(2)与壳体(1)顶部开口和第一卡口(8)过盈配合。


5.根据权利要求1所述的测试连接器的校准器，其特征在于：所述壳体(1)上开设有第二卡口(13)，所述第...

【专利技术属性】
技术研发人员：马云勇，
申请(专利权)人：深圳市速联技术有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44