【技术实现步骤摘要】
亮灯缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质
本专利技术涉及计算机
，尤其涉及一种亮灯缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质。
技术介绍
为了便于用户了解空调使用情况，一般会在空调面板下方设置LED灯，通过控制LED灯的亮灭使LED灯透过面板形成指定的亮灯图案，为了保证新设计的空调面板显示灯的亮灯质量，需要对亮灯区域进行显示完整或缺失的缺陷检测。现有技术中，该检测工作是通过人的眼睛去监视亮灯的情况。而随着检测时间的积累、检测点的增多、检测对象各异等因素，人的视觉疲劳会导致漏检或误检。为此，需要采用将标准模板图和整张面板的待测图进行匹配的检测方法，这样整张面板的待测图中的每个像素点位置都要匹配，会消耗大量时间；而且由于整张面板下一般设置多个LED灯，最终得到的检测结果是整个面板的待测图与标准模板图之间的相似度，一次性匹配难以辨别哪个有缺陷，会造成部分有缺陷的总体相似度也较高，检测效果很差。
技术实现思路
为了解决现有技术中存在的将整张面板的待测图与标准模板图匹配导致消耗大量时间及检测效果差的技术问题，本...
【技术保护点】
1.一种亮灯缺陷检测方法，其特征在于，包括：/n获取包括多个待测显示灯的待测面板图像；/n按照预设标准面板图像中预设模板图像的位置信息，在所述待测面板图像中确定相应的待测像素区域；/n将所述待测像素区域内不同的亮灯区域图像分别与所述预设模板图像进行匹配；/n计算匹配到的匹配度最高的亮灯区域图像和所述预设模板图像之间的相关系数；/n若所述相关系数小于预设相关度阈值，则确定所述亮灯区域图像中的待测显示灯存在亮灯缺陷。/n
【技术特征摘要】
1.一种亮灯缺陷检测方法，其特征在于，包括：
获取包括多个待测显示灯的待测面板图像；
按照预设标准面板图像中预设模板图像的位置信息，在所述待测面板图像中确定相应的待测像素区域；
将所述待测像素区域内不同的亮灯区域图像分别与所述预设模板图像进行匹配；
计算匹配到的匹配度最高的亮灯区域图像和所述预设模板图像之间的相关系数；
若所述相关系数小于预设相关度阈值，则确定所述亮灯区域图像中的待测显示灯存在亮灯缺陷。
2.根据权利要求1所述的亮灯缺陷检测方法，其特征在于，按照预设标准面板图像中预设模板图像的位置信息，在所述待测面板图像中确定相应的待测像素区域的步骤，包括：
获取所述预设模板图像的参考坐标点在所述预设标准面板图像中的像素坐标和所述待测面板放置位置的最大偏移量；
根据所述参考坐标点的像素坐标和所述最大偏移量计算所述待测像素区域在所述待测面板图像中的待测区域信息；
将所述待测面板图像中与所述待测区域信息对应的区域确定为待测像素区域。
3.根据权利要求2所述的亮灯缺陷检测方法，其特征在于，所述参考坐标点包括：位于同一对角线上的第一对角点和第二对角点，根据所述参考坐标点的像素坐标和所述最大偏移量计算所述待测像素区域在所述待测面板图像中的待测区域信息的步骤，包括：
计算所述第一对角点的像素坐标与所述最大偏移量的差，得到所述待测像素区域的第一待测点的像素坐标；
计算所述第二对角点的像素坐标与所述最大偏移量的和，得到所述待测像素区域的第二待测点的像素坐标。
4.根据权利要求3所述的亮灯缺陷检测方法，其特征在于，计算所述第一对角点的像素坐标与所述最大偏移量的差，得到所述待测像素区域的第一待测点的像素坐标的步骤，包括：
计算所述第一对角点的X坐标与所述最大偏移量的差值，若所述差值大于0，将所述待测像素区域的第一待测点的X坐标确定为所述差值，否则，将所述待测像素区域的第一待测点的X坐标确定为0；
计算所述第一对角点的Y坐标与所述最大偏移量的差值，若所述差值大于0，将所述待测像素区域的第一待测点的Y坐标确定为所述差值，否则，将所述待测像素区域的第一待测点的Y坐标确定为0。
5.根据权利要求3所述的亮灯缺陷检测方法，其特征在于，计算第二参考坐标点的像素坐标与所述最大偏移量的和，得到所述待测像素区域的第二待测点的像素坐标的步骤，包括：<...
【专利技术属性】
技术研发人员：钟国崇，谭泽汉，谭龙田，
申请(专利权)人：珠海格力电器股份有限公司，珠海联云科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44
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