存在投影盲区去除绝对相位噪声方法、装置及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种存在投影盲区去除绝对相位噪声方法，包括以下步骤：从条纹图中获取绝对相位值数据；根据绝对相位数据获取绝对相位直线，并划分对应的有效区域；确定参考绝对相位直线；通过同一横坐标的绝对相位直线与参考绝对相位直线获取第一差值，并获取第一平均值；通过有效区域内获取到的绝对相位值数据与同一横坐标的参考绝对相位直线获取第二差值，比较第二差值与第一平均值，确定参考差值；预设阈值范围，比较参考差值与第二差值，划分噪声点和非噪声点；剔除噪声点后，修正绝对相位直线，以得到修正后的绝对相位值数据，进行三维物体重构。本发明专利技术的去噪声方法计算复杂度低，去噪声效率高，能够提高绝对相位的准确度和三维物体的重构精度。

【技术实现步骤摘要】
存在投影盲区去除绝对相位噪声方法、装置及存储介质
本专利技术属于三维成像领域，尤其涉及一种存在投影盲区去除绝对相位噪声方法、装置以及存储介质。
技术介绍
基于结构光条纹投影的三维测量设备具有测量精度高、实时性好以及非接触性等特点，在生活以及工业的不同领域中得到了广泛的应用。结构光条纹投影即将设计好的条纹图投影到三维物体上，投影后，会得到变形的条纹图，再利用相移算法对变形条纹图进行计算以得到包裹相位，再通过包裹相位恢复从而得到绝对相位，绝对相位的精度影响着三维物体的重构精度。由于测量设备的误差、外界环境的干扰、算法的局限性等各种因素都会导致在绝对相位的获取过程中不可避免地产生噪声，而噪声会影响三维物体的重构精度。但目前大多数地绝对相位噪声去除方法无法滤除大量地噪声点，并且计算复杂度高且计算量大。
技术实现思路
本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本专利技术提出一种存在投影盲区去除绝对相位噪声方法，该存在投影盲区去除绝对相位噪声方法能够降低计算复杂度，并提高去除噪声的效率，提高三维物体的重构精度。根本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种存在投影盲区去除绝对相位噪声方法，其特征在于，包括以下步骤：/n从条纹图中获取绝对相位值数据；/n根据绝对相位数据获取绝对相位直线，并根据每条绝对相位直线划分对应的有效区域；/n确定分别与每条所述绝对相位直线相比较的参考绝对相位直线；/n通过同一横坐标的所述绝对相位直线的绝对相位值与所述参考绝对相位直线的参考绝对相位值获取第一差值，并通过所述第一差值获取第一平均值；/n通过对应的有效区域内获取到的绝对相位值数据与同一横坐标的参考绝对相位直线的参考绝对相位值获取第二差值，并将所述第二差值与所述第一平均值相比较，确定参考差值；/n预设阈值范围，将参考差值与第二差值相比较，划分绝对相位值数据...

【技术特征摘要】
1.一种存在投影盲区去除绝对相位噪声方法，其特征在于，包括以下步骤：
从条纹图中获取绝对相位值数据；
根据绝对相位数据获取绝对相位直线，并根据每条绝对相位直线划分对应的有效区域；
确定分别与每条所述绝对相位直线相比较的参考绝对相位直线；
通过同一横坐标的所述绝对相位直线的绝对相位值与所述参考绝对相位直线的参考绝对相位值获取第一差值，并通过所述第一差值获取第一平均值；
通过对应的有效区域内获取到的绝对相位值数据与同一横坐标的参考绝对相位直线的参考绝对相位值获取第二差值，并将所述第二差值与所述第一平均值相比较，确定参考差值；
预设阈值范围，将参考差值与第二差值相比较，划分绝对相位值数据的噪声点和非噪声点；
剔除所述噪声点后，并修正所述绝对相位直线，以得到修正后的绝对相位值数据，并进行三维物体重构。


2.如权利要求1所述的存在投影盲区去除绝对相位噪声方法，其特征在于，“从条纹图中获取绝对相位值数据”包括以下步骤：
从条纹图中获取包裹相位数据；
将所述包裹相位数据恢复成所述绝对相位数据。


3.如权利要求1所述的存在投影盲区去除绝对相位噪声方法，其特征在于，“根据绝对相位数据获取绝对相位直线，并根据每条绝对相位直线划分有效区域”包括以下步骤：
分割与标记所述绝对相位值数据；
分割后获得分段的所述绝对相位直线；
根据每条所述绝对相位直线划分对应的有效区域。


4.如权利要求3所述的存在投影盲区去除绝对相位噪声方法，其特征在于，“分割与标记绝对相位值数据”包括以下步骤：
检测绝对相位数据中的有效数据和无效数据；
分别标记有效数据和无效数据；
根据有效数据和无效数据分割绝对相位数...

【专利技术属性】
技术研发人员：龙佳乐，陈润松，陈富健，张建民，
申请(专利权)人：五邑大学，
类型：发明
国别省市：广东;44