一种硅砂透水砖次品清除装置制造方法及图纸

技术编号:24995590 阅读:44 留言:0更新日期:2020-07-24 17:58
本实用新型专利技术公开了一种硅砂透水砖次品清除装置,包括传送带,硅砂透水砖放置在所述传送带上;第一、二红外线发射器并排间隔设置在所述传送带的一侧;第一、二红外线感应器并排间隔设置在所述传送带的另一侧,所述第一、二红外线感应器分别正对所述第一、二红外线发射器;第一、二探测器并排间隔设置在所述传送带的一侧,所述第一、二探测器分别位于所述第一、二红外线发射器与所述传送带之间;第一、二推砖器并排间隔设置在所述传送带的一侧,所述第一、二推砖器分别位于所述第一、二红外线发射器与所述第一、二探测器之间,该硅砂透水砖次品清除装置结构简单,能够随线检测,提高检测效率,快速剔除次品。

【技术实现步骤摘要】
一种硅砂透水砖次品清除装置
本技术涉及一种硅砂透水砖次品清除装置。
技术介绍
硅砂透水砖制备好后需要检测其高度是否符合要求,现有的检测装置结构复杂而且不能随线检测,检测过程需要消耗较多的时间,检测效率比较低,而且次品不能快速剔除出来。
技术实现思路
为解决上述技术问题,本技术的目的是提供一种结构简单,能够随线检测,提高检测效率,快速剔除次品的硅砂透水砖次品清除装置。本技术提出的一种硅砂透水砖次品清除装置,其特征在于:包括:-传送带,硅砂透水砖放置在所述传送带上;-第一、二红外线发射器,所述第一、二红外线发射器并排间隔设置在所述传送带的一侧;-第一、二红外线感应器,所述第一、二红外线感应器并排间隔设置在所述传送带的另一侧,所述第一、二红外线感应器分别正对所述第一、二红外线发射器;-第一、二探测器,所述第一、二探测器并排间隔设置在所述传送带的一侧,所述第一、二探测器分别位于所述第一、二红外线发射器与所述传送带之间,所述第一、二探测器分别与所述第一、二红外线发射器通信连接;<br>-第一、二推砖本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种硅砂透水砖次品清除装置,其特征在于:包括:/n-传送带,硅砂透水砖放置在所述传送带上;/n-第一、二红外线发射器,所述第一、二红外线发射器并排间隔设置在所述传送带的一侧;/n-第一、二红外线感应器,所述第一、二红外线感应器并排间隔设置在所述传送带的另一侧,所述第一、二红外线感应器分别正对所述第一、二红外线发射器;/n-第一、二探测器,所述第一、二探测器并排间隔设置在所述传送带的一侧,所述第一、二探测器分别位于所述第一、二红外线发射器与所述传送带之间,所述第一、二探测器分别与所述第一、二红外线发射器通信连接;/n-第一、二推砖器,所述第一、二推砖器并排间隔设置在所述传送带的一侧,所述第一...

【技术特征摘要】
1.一种硅砂透水砖次品清除装置,其特征在于:包括:
-传送带,硅砂透水砖放置在所述传送带上;
-第一、二红外线发射器,所述第一、二红外线发射器并排间隔设置在所述传送带的一侧;
-第一、二红外线感应器,所述第一、二红外线感应器并排间隔设置在所述传送带的另一侧,所述第一、二红外线感应器分别正对所述第一、二红外线发射器;
-第一、二探测器,所述第一、二探测器并排间隔设置在所述传送带的一侧,所述第一、二探测器分别位于所述第一、二红外线发射器与所述传送带之间,所述第一、二探测器分别与所述第一、二红外线发射器通信连接;
-第一、二推砖器,所述第一、二推砖器并排间隔设置在所述传送带的一侧,所述第一、二推砖器分别位于所述第一、二红外线发射器与所述第一、二探测器之间,所述第一、二推砖器分别与所述第一、二红外线感应器通信连接。


2.根据权利要求1所述的一种硅砂透水砖次品清除装置,其特征在于:所述第一红外线发射器与所述第一红外线感应器位于同一...

【专利技术属性】
技术研发人员:赵明王义廷伍根伙林建仁刘文龙谢芳
申请(专利权)人:厦门美益绿建科技有限公司
类型:新型
国别省市:福建;35

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