面板的检测系统及检测方法技术方案

本申请公开了一种面板检测系统。面板检测系统包括阵列检测数据模块，配置为检测面板与提供阵列检测数据组；成盒检测数据模块，配置为检测面板与提供成盒检测数据组；以及数据整合模块，配置为接收阵列检测数据组与成盒检测数据组，分析阵列检测数据组与成盒检测数据组的至少一者以提供面板身分文件，以及依据面板身分文件指示成盒检测数据模块检测面板。

【技术实现步骤摘要】
面板的检测系统及检测方法
本申请涉及显示
，具体涉及一种面板的检测系统及检测方法。
技术介绍
液晶显示面板(LiquidCrystalDisplay，LCD)具有高画面质量、体积小、重量轻等优点，广泛应用于移动电话、笔记本电脑、电视机以及显示器等产品，薄膜晶体管(ThinFilmTransistor，TFT)-LCD是其中一种类型。TFT-LCD制造流程一般依序具有阵列制程、成盒制程与模块制程，然后提交给客户。然而在成盒制程中常出现可见缺陷，其中部分缺陷无法被检出而漏放到模块制程，降低产品良率。有时甚至漏放到客户，影响公司的形象。其中阵列制程及成盒制程只服务于各自当下制程，阵列制程及成盒制程的检测信息无法相互配合使用，无法提升阵列制程及成盒制程的检测单元能力。
技术实现思路
本申请实施例提供一种面板的检测系统及检测方法，针对通过阵列制程各个检测站点的检测数据进行分析，加强拦检，推测与评估制程中通知遗失、漏放及制程问题，实现好的良率或提升良率。本申请实施例提供一种面板检测系统，用以检测面板，包括阵列检测数据模块，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种面板检测系统，用以检测面板，其特征在于，包括：/n阵列检测数据模块，配置为检测所述面板与提供阵列检测数据组；/n成盒检测数据模块，配置为检测所述面板与提供成盒检测数据组；/n以及/n数据整合模块，配置为接收所述阵列检测数据组与所述成盒检测数据组，分析所述阵列检测数据组与所述成盒检测数据组的至少一者以提供面板身分文件，以及依据所述面板身分文件指示所述成盒检测数据模块检测所述面板。/n

【技术特征摘要】
1.一种面板检测系统，用以检测面板，其特征在于，包括：
阵列检测数据模块，配置为检测所述面板与提供阵列检测数据组；
成盒检测数据模块，配置为检测所述面板与提供成盒检测数据组；
以及
数据整合模块，配置为接收所述阵列检测数据组与所述成盒检测数据组，分析所述阵列检测数据组与所述成盒检测数据组的至少一者以提供面板身分文件，以及依据所述面板身分文件指示所述成盒检测数据模块检测所述面板。


2.如权利要求1所述的面板检测系统，其特征在于，所述面板身分文件包括所述面板的缺陷等级、缺陷编码、缺陷坐标与站点坐标的至少一者。


3.如权利要求1所述的面板检测系统，其特征在于，所述成盒检测数据模块包括成盒检测单元，配置为接收所述数据整合模块的指示进行拦检面板、面板转等与面板锁等的至少一者。


4.如权利要求1所述的面板检测系统，其特征在于，所述数据整合模块更配置为依据所述面板身分文件指示所述阵列检测数据模块检测所述面板，以及所述阵列检测数据模块包括阵列检测单元，配置为接收所述数据整合模块的指示进行拦检面板或修补。


5.一种面板检...

【专利技术属性】
技术研发人员：王定力，
申请(专利权)人：深圳市华星光电半导体显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44