一种显示面板故障检测方法技术

本发明专利技术提供一种显示面板故障检测方法，显示面板故障检测方法包括实验组设置步骤、对照组设置步骤、穿透率获取步骤、影响占比计算步骤、影响因子确定步骤以及故障部件确定步骤。本发明专利技术提供一种显示面板故障检测方法，检测故障面板的去除不同部件后的穿透率，并与标准面板去除不同部件后的穿透率分组对比，快速厘清影响因子，确定故障部件，确定故障显示面板的改进方向，提升良品率。

【技术实现步骤摘要】
一种显示面板故障检测方法
本专利技术涉及显示
，尤其涉及一种显示面板故障检测方法。
技术介绍
液晶电视的亮度是消费者第一直观感觉到的参数，直接影响观众的主观感受。液晶盒通过穿透率来影响液晶电视亮度，因此穿透率的规格对液晶盒来说很重要，是写在产品规格书中的重要参数。液晶盒的穿透率平时需要光学量测来监控。液晶盒是很复杂的系统，有很多层材料，每层材料都会影响液晶盒的穿透率，而且不同材料的影响是不同的，而且影响原理也不同。目前，当液晶面板的穿透率出现异常时，无法快速厘清影响因子以及定位影响液晶亮度的因素。
技术实现思路
本专利技术的目的在于，提供一种显示面板故障检测方法，以解决现有技术存在显示面板未达到穿透率的预设阈值时，如何识别故障部件的技术问题。为实现上述目的，本专利技术提供一种显示面板故障检测方法，包括如下步骤：实验组设置步骤，设置实验组，包括至少一实验样本；所述实验样本包括全结构样本及部分结构样本；对照组设置步骤，设置至少一对照样本，分别与每一实验样本相对应；彼此对应的对照样本与实验样本本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种显示面板故障检测方法，其特征在于，包括如下步骤：/n实验组设置步骤，设置实验组，包括至少一实验样本；所述实验样本包括全结构实验样本及部分结构实验样本；/n对照组设置步骤，设置至少一对照样本，分别与每一实验样本相对应；彼此对应的对照样本与实验样本具有相同的面板结构；/n穿透率获取步骤，分别获取每一实验样本及对照样本的穿透率；/n影响占比计算步骤，计算每一实验样本的影响占比；/n影响因子确定步骤，计算并比较每一部分结构样本的影响占比与全结构样本的影响占比的比值的绝对值，该绝对值最大的部分结构样本为影响因子；以及/n故障部件确定步骤，根据所述影响因子确定故障部件。/n

【技术特征摘要】
1.一种显示面板故障检测方法，其特征在于，包括如下步骤：
实验组设置步骤，设置实验组，包括至少一实验样本；所述实验样本包括全结构实验样本及部分结构实验样本；
对照组设置步骤，设置至少一对照样本，分别与每一实验样本相对应；彼此对应的对照样本与实验样本具有相同的面板结构；
穿透率获取步骤，分别获取每一实验样本及对照样本的穿透率；
影响占比计算步骤，计算每一实验样本的影响占比；
影响因子确定步骤，计算并比较每一部分结构样本的影响占比与全结构样本的影响占比的比值的绝对值，该绝对值最大的部分结构样本为影响因子；以及
故障部件确定步骤，根据所述影响因子确定故障部件。


2.如权利要求1所述的显示面板故障检测方法，其特征在于，
在所述穿透率获取步骤之后，还包括：
液晶效率计算步骤，根据所有实验样本的穿透率计算实验组的液晶效率；根据所有对照样本的穿透率计算对照组的液晶效率。


3.如权利要求2所述的显示面板故障检测方法，其特征在于，
在所述影响占比计算步骤中，
计算液晶效率的第二影响占比；所述第二影响占比为所述实验组与所述对照组的液晶效率差值与该对照组的液晶效率的比值。


4.如权利要求3所述的显示面板故障检测方法，其特征在于，
在所述影响因子确定步骤中，
计算并比较第二影响占比、每一部分结构样本的影响占比与全结构样本的影响占比的比值的绝对值，该绝对值最大的液晶效率或部分结构样本为影响因子。


5.如权利要求1所述的显示面板故障检测方法，其特征在于，
所述影响占比为彼此对应的一实验样本与一对照样本的穿透率差值与该对照样...

【专利技术属性】
技术研发人员：海博，
申请(专利权)人：深圳市华星光电半导体显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44