【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于确定电容器的剩余使用寿命的方法和评估单元及系统本专利技术涉及一种用于确定电容器的剩余使用寿命(servicelife)的方法和评估单元，其中电容器被充电和放电至少一次。本专利技术进一步涉及一种包括这样的评估单元以及具有至少一个待评估的电容器的电路的系统。在实践中，评估或确定组件或组装件的剩余使用寿命是具有常规重要性的。每当故障将导致间接损坏时(例如在热关键(thermallycritical)应用中就是这种情形)，这是尤其重要的。例如，如果冷却系统或这样的系统的一部分在服务器机房中发生故障，则这可造成过热和停机，或甚至造成对服务器和其他硬件的破坏。其他复杂和/或昂贵的电子系统的冷却同样是关键的。在此类应用场景中，尽早发现即将发生的故障是有用的，这样可以在故障之前及时更换有故障风险的组件。具体而言，在逆变器中存在使用寿命有限的多个组件和组装件，诸如在电动机的控制中使用的那些，例如EC(电子换向)电机。半导体(主要在功率放大器或光耦合器中)和电容器(主要在中间电路或开关电源中的电解电容器的情形中)最具有故障的风险。具体而言，电容器经受着高温相...
【技术保护点】
1.一种用于确定电容器的剩余使用寿命的方法，其中所述电容器被充电和放电至少一次，包括以下步骤：/n测量放电时间(Δt)期间跨所述电容器的电压改变(ΔU)，/n确定所述放电时间(Δt)期间的放电电流(I)，/n基于所述电压改变(ΔU)、所述放电电流(I)和所述放电时间(Δt)来确定所述电容器的实际电容(C
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20171124 DE 102017221096.61.一种用于确定电容器的剩余使用寿命的方法，其中所述电容器被充电和放电至少一次，包括以下步骤：
测量放电时间(Δt)期间跨所述电容器的电压改变(ΔU)，
确定所述放电时间(Δt)期间的放电电流(I)，
基于所述电压改变(ΔU)、所述放电电流(I)和所述放电时间(Δt)来确定所述电容器的实际电容(C测得)，
借助于误差校正从所述实际电容(C测得)确定所述电容器的经校正电容(Cx)，其中温度(T)对所述电容器的电容的影响在误差校正期间被校正，以及
基于所述经校正电容(Cx)与所述电容器的初始电容(C0)之间的差来确定所述剩余使用寿命(Lr、Lrx)。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在确定所述经校正电容(CX)的步骤期间，针对所述电容的误差校正关于在所述放电时间(Δt)期间所述放电电流(I)的频率和/或所述放电时间(Δt)期间跨所述电容器的电压(U)和/或在所述放电时间(Δt)期间的所述放电电流(I)的影响来被附加地执行。
3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述误差校正是基于所述电容器的特性曲线来执行的，其中所述特性曲线描述所述电容器的电容对相应经校正影响变量的依赖性。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述特性曲线由若干子区段来近似，其中所述子区段优选地彼此连续地合并，并且优选地能够通过一阶或二阶多项式函数来描述。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，所述电容器的温度被测量，或者所述温度是在考虑到跨所述电容器的所述电压(U)、通过所述电容器的所述放电电流(I)和/或所述放电电流的频率的情况下基于所述电容器的环境温度来估算的。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的方法，其特征在于，赞成使用寿命结束(LrE)的决定在经校正电容(CX)已下降到比所述初始电容(C0)低不止预定义比例时被做出，其中所述预定义比例优选在15％和50％之间，更优选在15％和30％之间，最优选在20％。
7.根据权利要求1至6中任一项所述的方法，其特征在于，所述放电时间(Δt)按使得所述电容器在所述放电时间(Δt)期间被准线性地放电的方式来选择。
8.根据权利要求1至7中任一项所述的方法，其特征在于，为了确定所述电压改变(ΔU)，在所述放电时间(Δt)开始时跨所述电容器的电压和在所述放电时间(Δt)结束时跨所述电容器的电压被测量，并且所述电压改变(ΔU)被计算为这两个电压之间的差。
9.根据权利要求1至8中任一项所述的方法，其特征在于，所述初始电容(C0)是在所述电容器被首次投入工作时被确定的，其中与如在确定所述经校正电容(CX)时相同的过程被使用。
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