半控型器件驱动装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种可以对半控型器件节流驱动的半控型器件驱动装置，包括电压检测开关，电压检测开关与所需驱动的半控型器件的触发极串联，电压检测开关用于检测半控型器件的触发极、半控型器件的阴极之间的电位差，本发明专利技术具有节能效果好的优点。

【技术实现步骤摘要】
半控型器件驱动装置
本专利技术涉及一种半控型器件驱动装置特别是一种可以对半控型器件节流驱动的半控型器件驱动装置。
技术介绍
由于目前普遍采用脉冲信号驱动晶闸管（半控型器件）导通，其存在晶闸管导通后仍然持续提高晶闸管的驱动电流，存在驱动能耗大的缺点。
技术实现思路
本专利技术的目的在于解决现有半控型器件脉冲驱动的不足之处，提供一种半控型器件导通后的可以关闭半控型器件驱动电流的半控型器件驱动装置。实现本专利技术的目的是通过以下技术方案来达到的：一种半控型器件驱动装置，包括电压检测开关，电压检测开关与所需驱动的半控型器件的触发极串联，电压检测开关用于检测半控型器件的触发极、半控型器件的阴极之间的电位差。一种半控型器件驱动装置，电压检测开关连接脉冲信号一种半控型器件驱动装置，电压检测开关用于检测脉冲信号的电压。一种半控型器件驱动装置，半控型器件的触发极、半控型器件的阴极之间为低电平时，输入高电平脉冲信号，电压检测开关导通；半控型器件的触发极、半控型器件的阴极之间为高电平时，输入高电平脉冲信号，电压检测开关为截止状态。一种半控型器件驱动装置，电压检测开关的工作能量由脉冲信号提供。一种半控型器件驱动装置，电压检测开关由三极管、电阻组成，或由三极管、电阻、电容组成。一种半控型器件驱动装置，半控型器件为晶闸管。一种半控型器件驱动装置，电压检测开关包括第一电压检测开关、第二电压检测开关，半控型器件包括第一半控型器件、第二半控型器件，第一半控型器件、第二半控型器件反向并联，还包括一控制单元、第一光电耦合器、第二光电耦合器，脉冲信号包括第一脉冲信号、第二脉冲信号，第一电压检测开关与第一半控型器件连接，第二电压检测开关与第二半控型器件连接，第一光电耦合器与第一电压检测开关连接，第二光电耦合器与第二电压检测开关连接，第一光电耦合器的输出信号、第二光电耦合器的输出信号传递至控制单元，控制单元提供第一脉冲信号至第一电压检测开关，控制单元提供第二脉冲信号至第二电压检测开关。一种半控型器件驱动装置，控制单元在第一半控型器件导通状态下，提供第一脉冲信号，停止提供第二脉冲信号；控制单元在第二半控型器件导通状态下，提供第二脉冲信号，停止提供第一脉冲信号。一种半控型器件驱动装置，控制单元在第一半控型器件导通状态下，提供第一脉冲信号，停止提供第二脉冲信号；控制单元在第一半控型器件导通截止时，提供第二脉冲信号，停止提供第一脉冲信号；控制单元在第二半控型器件导通状态下，提供第二脉冲信号，停止提供第一脉冲信号；控制单元在第二半控型器件导通截止时，提供第一脉冲信号，停止提供第二脉冲信号。一种半控型器件驱动装置，第一光电耦合器的工作能量由第一脉冲信号提供；第二光电耦合器的工作能量由第二脉冲信号提供。本专利技术设计合理，具有半控型器件导通后关断半控型器件触发电流、节能效果好的优点。附图说明图1是本专利技术半控型器件驱动装置实施例一电路原理图。图2是本专利技术半控型器件驱动装置实施例二电路原理图。具体实施方式本专利技术半控型器件驱动装置的实施例一，如图1所示：一种半控型器件驱动装置，包括电压检测开关A，电压检测开关A与所需驱动的半控型器件SCR1（为晶闸管，且为单向晶闸管）的触发极串联，电压检测开关A用于检测半控型器件SCR1的触发极、半控型器件SCR1的阴极之间的电位差，电压检测开关A连接脉冲信号（非限定）。电压检测开关A：其工作能量由脉冲信号提供；电压检测开关A也用于检测脉冲信号的电压（根据需要选用）；由三极管、电阻、电容（可省略）组成。工作原理：在半控型器件SCR1截止状态下，半控型器件SCR1的触发极、半控型器件SCR1的阴极之间呈现为低电平（零电压），当电压检测开关A输入高电平脉冲信号，电压检测开关A导通；半控型器件SCR1的阳极与阴极之间电压满足半控型器件SCR1导通条件时，半控型器件SCR1导通，脉冲信号为低电平时，半控型器件SCR1的触发极、半控型器件SCR1的阴极之间呈现为高电平（约1伏特左右），当输入高电平脉冲信号，电压检测开关A为截止状态，达到关闭半控型器件SCR1触发极电流的目的。本专利技术半控型器件驱动装置的实施例二，如图2所示：一种半控型器件驱动装置，包括电压检测开关（第一电压检测开关A1、第二电压检测开关A2），电压检测开关与所需驱动的半控型器件（第一半控型器件SCR1、第二半控型器件SCR2，第一半控型器件SCR1、第二半控型器件SCR2反向并联）（为晶闸管）的触发极串联，电压检测开关（A1、A2）用于检测半控型器件（SCR1、SCR2）的触发极、半控型器件（SCR1、SCR2）的阴极之间的电位差，电压检测开关（A1、A2）连接脉冲信号。电压检测开关（A1、A2）：其工作能量由脉冲信号提供；电压检测开关（A1、A2）也用于检测脉冲信号的电压（根据需要选用）；由三极管、电阻、电容（可省略）组成。还包括控制单元B、第一光电耦合器OPT1、第二光电耦合器OPT2，脉冲信号包括第一脉冲信号（驱动SCR1）、第二脉冲信号（驱动SCR2），第一电压检测开关A1与第一半控型器件SCR1连接，第二电压检测开关A2与第二半控型器件SCR2连接，第一光电耦合器OPT1与第一电压检测开关A1连接，第二光电耦合器OPT2与第二电压检测开关A2连接，第一光电耦合器OPT1的输出信号、第二光电耦合器OPT2的输出信号传递至控制单元B，控制单元B提供第一脉冲信号至第一电压检测开关A1，控制单元B提供第二脉冲信号至第二电压检测开关A1。工作原理：在半控型器件截止状态下，半控型器件的触发极、半控型器件的阴极之间呈现为低电平（零电压），当电压检测开关A输入高电平脉冲信号，电压检测开关A导通；半控型器件SCR1的阳极与阴极之间电压满足半控型器件SCR1导通条件时，半控型器件SCR1导通，脉冲信号为低电平时，半控型器件SCR1的触发极、半控型器件SCR1的阴极之间呈现为高电平（约1伏特左右），当输入高电平脉冲信号，电压检测开关A为截止状态，达到关闭半控型器件SCR1触发极电流的目的。控制单元B在第一半控型器件SCR1导通状态下，提供第一脉冲信号，停止提供第二脉冲信号；控制单元B在第二半控型器件SCR2导通状态下，提供第二脉冲信号，停止提供第一脉冲信号。控制单元B在第一半控型器件SCR1导通状态下，提供第一脉冲信号，停止提供第二脉冲信号；控制单元B在第一半控型器件SCR1导通截止时，提供第二脉冲信号，停止提供第一脉冲信号；控制单元B在第二半控型器件SCR2导通状态下，提供第二脉冲信号，停止提供第一脉冲信号；控制单元B在第二半控型器件SCR2导通截止时，提供第一脉冲信号，停止提供第二脉冲信号。第一光电耦合器OPT1的工作能量由第一脉冲信号提供；第二光电耦合器OPT2的工作能量由第二脉冲信号提供。本实施例，可以在其中一半控型器件反向并联的另一个半控型器件导通时，不提供脉冲信号，降低驱动能本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种半控型器件驱动装置，包括电压检测开关，所述电压检测开关与所需驱动的半控型器件的触发极串联，其特征是：所述电压检测开关用于检测所述半控型器件的触发极、所述半控型器件的阴极之间的电位差。/n

【技术特征摘要】
20190106 CN 20191000998801.一种半控型器件驱动装置，包括电压检测开关，所述电压检测开关与所需驱动的半控型器件的触发极串联，其特征是：所述电压检测开关用于检测所述半控型器件的触发极、所述半控型器件的阴极之间的电位差。


2.根据权利要求1所述的半控型器件驱动装置，其特征是：所述电压检测开关连接脉冲信号。


3.根据权利要求2所述的半控型器件驱动装置，其特征是：所述电压检测开关用于检测所述脉冲信号的电压。


4.根据权利要求3所述的半控型器件驱动装置，其特征是：
所述半控型器件的触发极、所述半控型器件的阴极之间为低电平时，输入高电平所述脉冲信号，所述电压检测开关导通；
所述半控型器件的触发极、所述半控型器件的阴极之间为高电平时，输入高电平所述脉冲信号，所述电压检测开关为截止状态。


5.根据权利要求2所述的半控型器件驱动装置，其特征是：所述电压检测开关的工作能量由所述脉冲信号提供。


6.根据权利要求1所述的半控型器件驱动装置，其特征是：所述电压检测开关由三极管、电阻组成，或由三极管、电阻、电容组成。


7.根据权利要求1所述的半控型器件驱动装置，其特征是：所述半控型器件为晶闸管。


8.根据权利要求1至7所述的半控型器件驱动装置，其特征是：所述电压检测开关包括第一电压检测开关、第二电压检测开关，所述半控型器件包括第一半控型器件、第二半控型器件，所述第一半控型器件、所述第二半控型...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭桥石，赖斌龙，
申请(专利权)人：广州市金矢电子有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44