一种片状样品导热系数的测试方法技术

本发明专利技术公开了一种片状样品导热系数的测试方法，如下：步骤S11、选取待测样品和A、B两个已知不同导热系数的基准样品，并将三者均加工成直径和厚度均相等的片状体；步骤S12、将所述步骤S11中的片状体放置在测试辅助装置中，采用平板稳态法导热系数测试仪，分别测量并计算所述待测样品和A、B基准样品的导热系数测试值，分别为：λ、λA和λB；步骤S13、采用线性插值的方法，由步骤S12中所述导热系数测试值，估算出所述待测样品的真实导热系数λ*。该方法以普通稳态导热系数测量仪为基础，设备投入少，费用低，测试费用降低。

【技术实现步骤摘要】
一种片状样品导热系数的测试方法
本专利技术属于热物理性能测试
，尤其涉及一种片状样品导热系数的测试方法。
技术介绍
随着大功率LED灯、IGBT等高功率电子产品的不断应用，金属基复合材料应用不断得到扩展和普及，相应地，对于导热系数等热性能的表征和测量越来越重要。目前，国内外对金属基复合材料导热系数的测量没有统一的方法或标准，而是参考金属材料的测量方法，稳态法和非稳态法都有使用和报道，后者常见的有热线法和激光闪光法。常规稳态法测试的设备简单、成本低、测试费用低，但是金属基复合材料样品制备较为困难，因为稳态法样品要求是无限大平板或者细长棒。但是，由于金属基复合材料硬度高、机械加工困难，样品制备和加工难度太大或成本太高，不适合稳态法进行导热系数的测量。热线法和激光闪光法等瞬态测试法的设备成本很高，比如国产热线法设备一般10万左右，而进口激光法设备一般在100万以上，虽然降低了样品制备和加工要求，但设备昂贵、测试费用也高，每个数据点￥300左右，而且对材质不太均匀的样品测试结果非常不稳定，这一方面对需要大量测试的科研开发或企业应用本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种片状样品导热系数的测试方法，其特征在于，该测试方法如下：/n步骤S11、选取待测样品和A、B两个已知不同导热系数的基准样品，并将三者均加工成直径和厚度均相等的片状体；/n其中，所述待测样品的预期导热系数范围值已知；在两个所述基准样品中，一个所述基准样品的真实导热系数大于所述待测样品的真实导热系数，另一个小于所述待测样品的真实导热系数；/n步骤S12、将所述步骤S11中的片状体，采用平板稳态法导热系数测试仪加热，并由其热电偶测试所述片状体上下端的温度，得出所述待测样品和A、B基准样品的导热系数测试值，分别为：λ、λ

【技术特征摘要】
1.一种片状样品导热系数的测试方法，其特征在于，该测试方法如下：
步骤S11、选取待测样品和A、B两个已知不同导热系数的基准样品，并将三者均加工成直径和厚度均相等的片状体；
其中，所述待测样品的预期导热系数范围值已知；在两个所述基准样品中，一个所述基准样品的真实导热系数大于所述待测样品的真实导热系数，另一个小于所述待测样品的真实导热系数；
步骤S12、将所述步骤S11中的片状体，采用平板稳态法导热系数测试仪加热，并由其热电偶测试所述片状体上下端的温度，得出所述待测样品和A、B基准样品的导热系数测试值，分别为：λ、λA和λB；
步骤S13、采用线性插值的方法，由步骤S12中所述导热系数测试值，估算出所述待测样品的真实导热系数λ*；
λ*＝λB0+(λ-λB)·(λA0-λB0)/(λA-λB)(1)；
其中：λA0为A基准样品的真实导热系数；λB0为B基准样品的真实导热系数。


2.根据权利要求1所述的一种片状样品导热系数的测试方法，其特征在于，各所述样品的片状体的厚度均为1mm-20mm。


3.一种标准图谱测试片状样品导热系数的方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：
步骤S21、将一已知真实导热系数的基准材料，加工成直径相同、高度不同的多个片状体状，厚度均在1mm-20mm的范围内；
步骤S22、将所述步骤S21中的各片状体，采用平板稳态法导热系数测试仪，对所述片状体加热，并由其热电偶分别测量所述片状体上下端的温度，测量并计算对应的各所述片状体的导热系数测试值；
步骤S23、以各所述片状体状的高度为横坐标、各导热系数测试值为纵坐标绘出数据点图，拟合成一条光滑曲线，得对应直径下该基准材料的导热系数测试值的曲线图；
步骤S24、选择不同的基准材料，分别重复步骤S21～步骤S23，得到相同直径下的各基准材料的导热系数测试值的曲线图，将所述各基准材料的导热系数测试值的曲线图集合，得该直径下基准材料的导热系数测试值的标准图谱；
步骤S25、依次重复步骤S21～步骤S24，不同的是，每次重复时，步骤S21中选择不同的直径值；依次得到不同直径下基准材料的导热系数测试值的标准图...

【专利技术属性】
技术研发人员：张文兴，王鑫，李高宏，王喜锋，秦亚洲，
申请(专利权)人：西安工业大学，
类型：发明
国别省市：陕西;61