可用于高磁场环境下脑功能评估的气囊式握力测量系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种可用于高磁场环境下脑功能评估的气囊式握力测量系统。包括抓握气囊、缝有两个小型圆形气囊的漏指手套、微处理器、计算机及与抓握气囊连接的气体压力传感器，计算机中安装有心理学实验操作平台，微处理器与气体压力传感器连接，用于采集气体压力传感器所产生的气体压力电信号，并将所采集到的气体压力电信号转化为握力数据后传输给计算机，再通过心理学实验操作平台进行读取。本实用新型专利技术可以实现在高磁场的环境下将气囊设备所产生的握力和数据实时地读取到心理学实验操作平台上的目的，使用者可以根据自己的需要，自由地编写高磁场环境下基于个体握力数据的心理评估工具。

【技术实现步骤摘要】
可用于高磁场环境下脑功能评估的气囊式握力测量系统
本技术涉及握力测量
，具体涉及一种可用于高磁场环境下脑功能评估的气囊式握力测量系统，用于作为心理评估工具，根据握力大小对被试进行心理行为评估。
技术介绍
现有市场上的握力设备均带有金属部件，没有一个可以做到在高磁场环境下测量握力；而且现有握力设备仅仅是可以做到单纯的测量握力，在自带的指针表盘或者LED屏幕上反馈握力数值，但无法实现与编程软件相互通讯，也不能再添加其他选择反应按键，无法满足心理学功能核磁共振实验的需要，程序也无法实时地读取到每次握力计测量到的数值，无法进行后续的评估流程和反馈基于握力所获得奖赏信息。
技术实现思路
本技术的目的在于解决上述
技术介绍
中存在的不足，提出了一种在高磁场环境下，将握力测量设备中的数据实时读取到心理学处理软件中的技术方案，解决高磁场环境下，基于个体握力指标自由定制脑功能评估方法的难题；为此，本技术提供了一种可用于高磁场环境下脑功能评估的气囊式握力测量系统。为解决上述技术问题，本技术采用如下技术方案：一种可用于高磁场环境下脑本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种可用于高磁场环境下脑功能评估的气囊式握力测量系统，其特征在于，所述系统包括抓握气囊(1)、微处理器(4)、计算机(5)及与所述抓握气囊(1)连接的气体压力传感器(3)，所述计算机(5)中安装有心理学实验操作平台，所述微处理器(4)与所述气体压力传感器(3)连接，用于采集所述气体压力传感器(3)所产生的气体压力电信号，并将所采集到的气体压力电信号转化为握力数据后传输给所述计算机(5)，再通过所述心理学实验操作平台进行读取。/n

【技术特征摘要】
1.一种可用于高磁场环境下脑功能评估的气囊式握力测量系统，其特征在于，所述系统包括抓握气囊(1)、微处理器(4)、计算机(5)及与所述抓握气囊(1)连接的气体压力传感器(3)，所述计算机(5)中安装有心理学实验操作平台，所述微处理器(4)与所述气体压力传感器(3)连接，用于采集所述气体压力传感器(3)所产生的气体压力电信号，并将所采集到的气体压力电信号转化为握力数据后传输给所述计算机(5)，再通过所述心理学实验操作平台进行读取。


2.根据权利要求1所述的可用于高磁场环境下脑功能评估的气囊式握力测量系统，其特征在于，所述系统中还设有一漏指手套(6)，所述漏指手套(6)上设有选择性按压气囊(7)，所述按压气囊(7)与所述气体压力传感器(3)连接，通过按压所述按压气囊(7)使其所产生的气体压力信号经所述微处理器(4)处理后形成脑功能评估时的选择反应数据，并传输至安装在计算机(5)上的心理学实验操作平台上显示。


3.根据权利要求2所述的可用于高磁场环境下脑功能评估的气囊式握力测量系统，其特征在于，所述按压气囊(7)包括第一气囊(71)和第二气囊(72)，所述第一气囊(71)位于手掌中且设置于拇指和食指的抓握区域，所述第二气囊(72)位于手掌中且设置于中指、无名指和小指的抓握区域。

【专利技术属性】
技术研发人员：黄佳，陈楚侨，付作振，
申请(专利权)人：中国科学院心理研究所，
类型：新型
国别省市：北京;11