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可用于高磁场环境下脑功能评估的气囊式握力测量系统技术方案
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下载可用于高磁场环境下脑功能评估的气囊式握力测量系统的技术资料
文档序号:24881374
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本实用新型公开了一种可用于高磁场环境下脑功能评估的气囊式握力测量系统。包括抓握气囊、缝有两个小型圆形气囊的漏指手套、微处理器、计算机及与抓握气囊连接的气体压力传感器,计算机中安装有心理学实验操作平台,微处理器与气体压力传感器连接,用于采集气...
该专利属于中国科学院心理研究所所有,仅供学习研究参考,未经过中国科学院心理研究所授权不得商用。
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