一种芯片性能验证方法、系统、设备及计算机存储介质技术方案

本申请公开了一种芯片性能验证方法、系统、设备及计算机存储介质，获取待测芯片的目标性能数据；基于差分进化算法及目标性能数据对待测芯片进行验证；其中，每次基于差分进化算法对目标性能数据进行变异、交叉，生成试验性能数据之后，统计试验性能数据占目标性能数据的覆盖率，基于覆盖率判断差分进化算法是否收敛，若是，则更改待测性能数据；待测性能数据为目标性能数据中，用于生成试验性能数据的性能数据。本申请中，更改待测性能数据之后，再次应用差分进化算法时，便会生成新的试验性能数据，避免差分进化算法收敛，提高了芯片性能验证的质量。本申请提供的芯片性能验证系统、设备及计算机可读存储介质也解决了相应技术问题。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片性能验证方法、系统、设备及计算机存储介质
本申请涉及计算机
，更具体地说，涉及一种芯片性能验证方法、系统、设备及计算机存储介质。
技术介绍
随着工艺技术以及应用领域的不断发展，芯片的复杂度不断提高，相对应的，芯片验证工作的复杂度也不断提高，为了快速对芯片性能进行验证，可以采用差分进化算法对芯片性能进行验证；差分进化算法是一种进化计算技术，主要用于求解连续变量的全局优化问题，其主要工作步骤包括变异(Mutation)、交叉(Crossover)、选择(Selection)三种操作。然而，在应用差分进化算法对芯片性能进行验证的过程中，往往会造成差分进化算法过早收敛，很快让种群特定同质化，无法覆盖更多的性能数据，使得芯片性能验证的质量较差。综上所述，如何提高芯片性能验证的质量是目前本领域技术人员亟待解决的问题。
技术实现思路
本申请的目的是提供一种芯片性能验证方法，其能在一定程度上解决如何提高芯片性能验证的质量的技术问题。本申请还提供了一种芯片性能验证系统、设备及计算机可读存储介质。为了实现上述目的，本申请提供如下技术方案：一种芯片性能验证方法，包括：获取待测芯片的目标性能数据；基于差分进化算法及所述目标性能数据对所述待测芯片进行验证；其中，每次基于所述差分进化算法对所述目标性能数据进行变异、交叉，生成试验性能数据之后，统计所述试验性能数据占所述目标性能数据的覆盖率，基于所述覆盖率判断所述差分进化算法是否收敛，若是，则更改待测性能数据；所述待测性能数据为所述目标性能数据中，用于生成所述试验性能数据的性能数据。优选的，所述基于所述覆盖率判断所述差分进化算法是否收敛，包括：获取包含当前次的所述覆盖率在内的、连续N个历史覆盖率；基于所述N个历史覆盖率判断所述差分进化算法是否收敛。优选的，所述基于所述N个历史覆盖率判断所述差分进化算法是否收敛，包括：判断所述N个历史覆盖率是否均小于预设值；若是，则判定所述差分进化算法收敛；若否，则判定所述差分进化算法未收敛。优选的，所述基于所述N个历史覆盖率判断所述差分进化算法是否收敛，包括：判断所述N个历史覆盖率是否随时间依次递增，若是，则判定所述差分进化算法收敛；若否，则判定所述差分进化算法未收敛。优选的，所述更改待测性能数据，包括：更改所述N个历史覆盖率所对应的待测性能数据。优选的，所述更改所述N个历史覆盖率所对应的待测性能数据，包括：统计所述N个历史覆盖率所对应的待测性能数据的数量；基于所述目标性能数据及移民策略，随机生成所述数量的移民性能数据；用所述移民性能数据替换所述N个历史覆盖率所对应的待测性能数据。优选的，所述获取包含当前次的所述覆盖率在内的、连续N个历史覆盖率之前，还包括：计算X＝(M)/6+1，将X的向上取整值作为所述N的值；其中，M表示所述目标性能数据的个数。一种芯片性能验证系统，包括：第一获取模块，用于获取待测芯片的目标性能数据；第一验证模块，用于基于差分进化算法及所述目标性能数据对所述待测芯片进行验证；其中，每次基于所述差分进化算法对所述目标性能数据进行变异、交叉，生成试验性能数据之后，统计所述试验性能数据占所述目标性能数据的覆盖率，基于所述覆盖率判断所述差分进化算法是否收敛，若是，则更改待测性能数据；所述待测性能数据为所述目标性能数据中，用于生成所述试验性能数据的性能数据。一种芯片性能验证设备，包括：存储器，用于存储计算机程序；处理器，用于执行所述计算机程序时实现如上任一所述芯片性能验证方法的步骤。一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上任一所述芯片性能验证方法的步骤。本申请提供的一种芯片性能验证方法，获取待测芯片的目标性能数据；基于差分进化算法及目标性能数据对待测芯片进行验证；其中，每次基于差分进化算法对目标性能数据进行变异、交叉，生成试验性能数据之后，统计试验性能数据占目标性能数据的覆盖率，基于覆盖率判断差分进化算法是否收敛，若是，则更改待测性能数据；待测性能数据为目标性能数据中，用于生成试验性能数据的性能数据。本申请中，通过生成的试验性能数据的覆盖率来判断差分进化算法是否收敛，若是，则更改待测性能数据，由于待测性能数据为目标性能数据中、用于生成试验性能数据的性能数据，所以更改待测性能数据之后，再次应用差分进化算法时，便会生成新的试验性能数据，避了免差分进化算法收敛，提高了芯片性能验证的质量。本申请提供的一种芯片性能验证系统、设备及计算机可读存储介质也解决了相应技术问题。附图说明为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。图1为本申请实施例提供的一种芯片性能验证方法的流程图；图2为实际应用中本申请提供的芯片性能验证方法的流程图；图3为本申请实施例提供的一种芯片性能验证系统的结构示意图；图4为本申请实施例提供的一种芯片性能验证设备的结构示意图；图5为本申请实施例提供的一种芯片性能验证设备的另一结构示意图。具体实施方式下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。随着工艺技术以及应用领域的不断发展，芯片的复杂度不断提高，相对应的，芯片验证工作的复杂度也不断提高，为了快速对芯片性能进行验证，可以采用差分进化算法对芯片性能进行验证；差分进化算法是一种进化计算技术，主要用于求解连续变量的全局优化问题，其主要工作步骤包括变异(Mutation)、交叉(Crossover)、选择(Selection)三种操作。实现差分进化算法方法需要考虑的因素和实现的配置包括：明确定义的、可参数化的随机约束，并实现其向量化；维护一个随机约束池，其中包含多组随机约束的向量；对随机约束池里的每组随机约束，都用来进行一段时间的仿真验证；变异功能模块，用于从随机约束池中随机选出两个约束向量，计算出两个向量之间的差向量，然后对差向量加权后按照一定的规则与随机选出的第三个约束向量求和而产生变异向量；交叉功能模块，用于将变异向量与随机选出的第四个约束向量进行混合，生成试验向量；应用试验向量代表的随机约束进行随机验证，统计覆盖率信息；选择功能模块，一定时间后，根据覆盖率情况决定是否用试验向量替换之前的第四个约束向量；对算法中用到的参数添加自适应的功能，根据验证的效率情况对差分进化算法中收本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片性能验证方法，其特征在于，包括：/n获取待测芯片的目标性能数据；/n基于差分进化算法及所述目标性能数据对所述待测芯片进行验证；/n其中，每次基于所述差分进化算法对所述目标性能数据进行变异、交叉，生成试验性能数据之后，统计所述试验性能数据占所述目标性能数据的覆盖率，基于所述覆盖率判断所述差分进化算法是否收敛，若是，则更改待测性能数据；所述待测性能数据为所述目标性能数据中，用于生成所述试验性能数据的性能数据。/n

【技术特征摘要】
1.一种芯片性能验证方法，其特征在于，包括：
获取待测芯片的目标性能数据；
基于差分进化算法及所述目标性能数据对所述待测芯片进行验证；
其中，每次基于所述差分进化算法对所述目标性能数据进行变异、交叉，生成试验性能数据之后，统计所述试验性能数据占所述目标性能数据的覆盖率，基于所述覆盖率判断所述差分进化算法是否收敛，若是，则更改待测性能数据；所述待测性能数据为所述目标性能数据中，用于生成所述试验性能数据的性能数据。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述覆盖率判断所述差分进化算法是否收敛，包括：
获取包含当前次的所述覆盖率在内的、连续N个历史覆盖率；
基于所述N个历史覆盖率判断所述差分进化算法是否收敛。


3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述N个历史覆盖率判断所述差分进化算法是否收敛，包括：
判断所述N个历史覆盖率是否均小于预设值；若是，则判定所述差分进化算法收敛；若否，则判定所述差分进化算法未收敛。


4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述N个历史覆盖率判断所述差分进化算法是否收敛，包括：
判断所述N个历史覆盖率是否随时间依次递增，若是，则判定所述差分进化算法收敛；若否，则判定所述差分进化算法未收敛。


5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述更改待测性能数据，包括：
更改所述N个历史覆盖率所对应的待测性能数据。


6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：李拓，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32