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本申请公开了一种芯片性能验证方法、系统、设备及计算机存储介质，获取待测芯片的目标性能数据；基于差分进化算法及目标性能数据对待测芯片进行验证；其中，每次基于差分进化算法对目标性能数据进行变异、交叉，生成试验性能数据之后，统计试验性能数据占目标...
该专利属于苏州浪潮智能科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州浪潮智能科技有限公司授权不得商用。

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