硼酸镶边衬底的XRFS分析用样片的压片方法技术

本发明专利技术公开了一种硼酸镶边衬底的XRFS分析用样片的压片方法，涉及XRFS分析压片技术领域，解决按现有压片方法速度慢、样片质量低的问题，采用的技术方案是：硼酸镶边衬底的XRFS分析用样片的压片方法，首先用硼酸加料勺将硼酸置于压片机的装样腔内，再将加料筒置于硼酸上，将布样区整平压实，得衬底层；其次，用试样勺加适量试样于加料筒内，通过刮平器刮平试样；再次，取下刮平器，装上压片机压头，加压压制成型；最后，脱模得到XRFS分析用样片。本发明专利技术用硼酸加料勺加入硼酸，用试样勺加入试样，保证加料的快速和准确，加之通过刮平器刮平试样，试样布料厚度均匀，一次布料即可，可快速刮平试样，提高了压片速度以及样片质量。

【技术实现步骤摘要】
硼酸镶边衬底的XRFS分析用样片的压片方法
本专利技术涉及XRFS分析压片
，具体涉及一种硼酸衬底的XRFS分析用样片的压片方法。
技术介绍
XRFS压片分析技术相对于熔融铸片技术而言，具有制片速度快、制样简单污染少、测量下限低、分析精度高的特点，非常适用于均匀性检验。现有的压片方法有硼酸镶边衬底法、塑料环法、铁环法、铝杯(铁杯)法等等。其中，使用较广泛的压片方法是硼酸镶边衬底和塑料环法。硼酸镶边衬底与塑料环法相比，优势在于试样用量少、不容易产生卸压剥离、样片均匀，但劣势是制片速度较慢。XRFS压片分析用于均匀性检验。由于通过均匀性检验来检出样品不均匀性的能力取决于分析方法的精度，因此，选择具有高密度特点的硼酸衬底镶边法，并提高其检验精度对于均匀性检验至关重要。影响XRFS测量结果的精度的因素包括测量仪器和制备的试样，试样表面的平整度、测量部分的体积密度对测量结果的精度都有显著的影响。目前，硼酸镶边衬底压片方法是：先取一定量的硼酸置于压样腔中，然后通过造边辅助工具，即造边器整平硼酸衬底，再在整平区域均匀布样，再在造边器外部本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.硼酸镶边衬底的XRFS分析用样片的压片方法，其特征在于：包括以下步骤：/nS1.使用硼酸加料勺将硼酸置于压片机的装样腔内，再将加料筒置于硼酸上，将布样区整平压实，得衬底层；/nS2.使用试样勺加适量试样于加料筒内；/nS3.通过刮平器刮平试样；/nS4.取下刮平器，装上压片机压头，加压压制成型；/nS5.脱模，得到XRFS分析用样片。/n

【技术特征摘要】
1.硼酸镶边衬底的XRFS分析用样片的压片方法，其特征在于：包括以下步骤：
S1.使用硼酸加料勺将硼酸置于压片机的装样腔内，再将加料筒置于硼酸上，将布样区整平压实，得衬底层；
S2.使用试样勺加适量试样于加料筒内；
S3.通过刮平器刮平试样；
S4.取下刮平器，装上压片机压头，加压压制成型；
S5.脱模，得到XRFS分析用样片。


2.如权利要求1所述的硼酸镶边衬底的XRFS分析用样片的压片方法，其特征在于：步骤S1中，硼酸加料勺的容积为2.00～3.00g硼酸，体积精度0.05g硼酸；加料筒为圆筒，圆筒的内径为36.0～37.0mm，圆筒的筒壁厚度为0.5～1.0mm，圆筒的高度为25.0～30.0mm。


3.如权利要求1所述的硼酸镶边衬底的XRFS分析用样片的压片方法，其特征在于：步骤S1中，硼酸为工业硼酸。


4.如权利要求1所述的硼酸镶边衬底的XRFS分析用样片的压片方法，其特征在于：步骤S2中，试样勺的容积为2.00～3.00g试样，体积精度0.05g试样。


5.如权利要求1所述的硼酸镶边衬底的XRFS分析用样片的压片方法，其特征在于：步骤S2中，试样为化学分析用粒度<0.1mm的粉末。

【专利技术属性】
技术研发人员：於利慧，郑小敏，
申请(专利权)人：攀钢集团研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：四川;51