【技术实现步骤摘要】
半导体器件及其形成方法
本专利技术的实施例涉及半导体器件及其形成方法。
技术介绍
由于各种电子组件(例如,晶体管、二极管、电阻器、电容器等)的集成密度的不断提高,半导体工业经历了快速的增长。大部分情况下,集成密度的改进来自最小部件尺寸的反复减小,这允许更多的组件集成到给定的区域中。随着对缩小电子器件的需求的增长,已经出现了对更小且更具创造性的半导体管芯封装技术的需求。这种封装系统的一个示例是叠层封装(PoP)技术。在PoP器件中,顶部半导体封装件堆叠在底部半导体封装件的顶部上,以提供高水平的集成和组件密度。PoP技术通常能够在印刷电路板(PCB)上生产功能增强且占用面积小的半导体器件。
技术实现思路
本专利技术的实施例提供了一种半导体器件,包括:第一封装组件,包括:第一集成电路管芯;第一密封剂,至少部分地围绕所述第一集成电路管芯;和再分布结构,位于所述第一密封剂上并且耦合至所述第一集成电路管芯;第二封装组件,接合到所述第一封装组件,所述第二封装组件包括:集成无源器件;和第二密封剂,至少部分地围绕所述集成无 ...
【技术保护点】
1.一种半导体器件,包括:/n第一封装组件,包括:/n第一集成电路管芯;/n第一密封剂,至少部分地围绕所述第一集成电路管芯;和/n再分布结构,位于所述第一密封剂上并且耦合至所述第一集成电路管芯;/n第二封装组件,接合到所述第一封装组件,所述第二封装组件包括:/n集成无源器件;和/n第二密封剂,至少部分地围绕所述集成无源器件;以及/n电源模块,通过所述第二封装组件附接到所述第一封装组件。/n
【技术特征摘要】
20181226 US 62/785,133;20191001 US 16/589,7581.一种半导体器件,包括:
第一封装组件,包括:
第一集成电路管芯;
第一密封剂,至少部分地围绕所述第一集成电路管芯;和
再分布结构,位于所述第一密封剂上并且耦合至所述第一集成电路管芯;
第二封装组件,接合到所述第一封装组件,所述第二封装组件包括:
集成无源器件;和
第二密封剂,至少部分地围绕所述集成无源器件;以及
电源模块,通过所述第二封装组件附接到所述第一封装组件。
2.根据权利要求1所述的半导体器件,还包括耦合到所述再分布结构的电连接件,所述电连接件环绕所述第二封装组件。
3.根据权利要求2所述的半导体器件,其中,所述第二封装组件不包括设置在所述第二密封剂中的有源器件。
4.根据权利要求1所述的半导体器件,其中,所述电源模块使用焊料接合而接合到所述第二封装组件。
5.根据权利要求1所述的半导体器件,其中,所述电源模块使用弹簧型接触件耦合到所述第二封装组件。
6.根据权利要求5所述的半导体器件,还包括延伸穿过所述第一封装组件的机械支架,所述机械支架接触所述电源模块,所述机械支架将所...
【专利技术属性】
技术研发人员:赖季晖,郑淑蓉,潘国龙,郭庭豪,蔡豪益,刘重希,余振华,
申请(专利权)人:台湾积体电路制造股份有限公司,
类型:发明
国别省市:中国台湾;71
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