分析装置及其控制方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种分析装置及其控制方法。分析装置(1)具备：离子化单元(11)，其将分析对象的分子进行离子化；过滤单元(13)，其形成使由离子化单元生成的离子选择性地通过的场；检测器单元(14)，其检测通过了过滤单元的离子；离子驱动电路(61)，其以电的方式驱动离子化单元；场驱动电路(62)，其以电的方式驱动过滤单元；控制单元(22)，其控制离子驱动电路和场驱动电路的输出；温度检测单元(27)，其检测离子驱动电路和场驱动电路的温度；以及校正单元(22b)，其根据由温度检测单元检测出的温度来校正离子驱动电路和场驱动电路的输出设定。

【技术实现步骤摘要】
分析装置及其控制方法(本申请是申请日为2016年11月17日、申请号为2016800674105、专利技术名称为“分析装置及其控制方法”的申请的分案申请。)
本专利技术涉及一种质谱分析器等分析装置。
技术介绍
国际公开WO2015/029449公开了一种分析装置，该分析装置具备：离子化单元，其将分析对象的分子进行离子化；过滤单元，其使由离子化单元生成的离子选择性地通过；以及检测单元，其检测通过了过滤单元的离子，其中，检测单元包括呈矩阵状地配置的多个检测元件，分析装置还具备切换包括多个检测元件中的使检测有效的检测元件的检测图案的重构单元。离子化单元包括多个离子源，分析装置还具备根据离子源的特性变化来切换多个离子源的连接的驱动控制单元。
技术实现思路
专利技术要解决的问题在质谱分析器等分析装置中，始终要求更小型、更高精度的分析装置。本专利技术的一个方式是一种分析装置，其具备：离子化单元，其将分析对象的分子进行离子化；过滤单元，其形成使由离子化单元生成的离子选择性地通过的场；检测器单元，其检测通过了过滤单元本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种分析装置，具备：/n离子化单元，其将分析对象的分子进行离子化；/n过滤单元，其形成使由所述离子化单元生成的离子选择性地通过的场；/n检测器单元，其检测通过了所述过滤单元的离子；/n离子驱动电路，其以电的方式驱动所述离子化单元；/n场驱动电路，其以电的方式驱动所述过滤单元；/n控制单元，其控制所述离子驱动电路和所述场驱动电路的输出；/n温度检测单元，其检测所述离子驱动电路和所述场驱动电路的周边的温度；以及/n校正单元，其根据由所述温度检测单元检测出的温度来校正所述离子驱动电路和所述场驱动电路的输出设定。/n

【技术特征摘要】
20151117 JP 2015-2252011.一种分析装置，具备：
离子化单元，其将分析对象的分子进行离子化；
过滤单元，其形成使由所述离子化单元生成的离子选择性地通过的场；
检测器单元，其检测通过了所述过滤单元的离子；
离子驱动电路，其以电的方式驱动所述离子化单元；
场驱动电路，其以电的方式驱动所述过滤单元；
控制单元，其控制所述离子驱动电路和所述场驱动电路的输出；
温度检测单元，其检测所述离子驱动电路和所述场驱动电路的周边的温度；以及
校正单元，其根据由所述温度检测单元检测出的温度来校正所述离子驱动电路和所述场驱动电路的输出设定。


2.根据权利要求1所述的分析装置，其特征在于，
还具备检测器电路，该检测器电路控制所述检测器单元的输出灵敏度，
所述温度检测单元具有检测所述检测器电路的周边的温度的功能，
所述校正单元包括根据由所述温度检测单元检测出的温度来校正所述检测器电路的灵敏度设定的单元。


3.一种分析装置，具备：
离子化单元，其将分析对象的分子进行离子化；
过滤单元，其形成使由所述离子化单元生成的离子选择性地通过的场；
检测器单元，其检测通过了所述过滤单元的离子；
离子驱动电路，其以电的方式驱动所述离子化单元；
场驱动电路，其以电的方式驱动所述过滤单元；
检测器电路，其控制所述检测器单元的输出灵敏度；
控制单元，其控制所述离子驱动电路和所述场驱动电路的输出；
温度检测单元，其检测所述离子驱动电路和所述场驱动电路中的至少一个电路的周边的温度；以及
校正单元，其根据由所述温度检测单元检测出的温度来校正所述至少一个电路的输出设定，
其中，所述温度检测单元具有检测所述检测器电路的周边的温度的功能，
所述校正单元包括根据由所述温度检测单元检测出的温度来校正所述检测器电路的灵敏度设定的单元。


4.根据权利要求1至3中任一项所述的分析装置，其特征在于，
还具备便携式的外壳单元，该外壳单元至少收纳所述离子驱动电路、所述场驱动电路、所述控制单...

【专利技术属性】
技术研发人员：柏拉卡斯·斯里达尔·穆尔蒂，阿弩普·R·赫格德，佐藤武，
申请(专利权)人：ATONARP株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP