一种多孔陶瓷组件孔隙率的测试方法技术

本发明专利技术涉及孔隙率测试技术领域，尤其为一种多孔陶瓷组件孔隙率的测试方法，包括以下步骤：A、制备待测样品：从多孔陶瓷组件上截取若干份长方体部分作为待测样品，分别测量各待测样品的长、宽以及高，计算出体积V；B、测量与记录：①在真空环境下，测量各待测样品的干重M，②采用比重瓶法测量各待测样品的湿重M′；C、统计与判断：①分别计算出各待测样品的真密度ρ、孔隙率％，并求取平均值，②规定孔隙率≥50％为合格品。本发明专利技术通过在真空环境下测量干重M，排除干扰；采用比重瓶法测量多组待测样品的湿重M′，进而计算出真密度ρ、孔隙率％并求取平均值，减小误差，从而提高了多孔陶瓷组件孔隙率的测试精度。

【技术实现步骤摘要】
一种多孔陶瓷组件孔隙率的测试方法
本专利技术涉及孔隙率测试
，具体为一种多孔陶瓷组件孔隙率的测试方法。
技术介绍
对于多孔陶瓷组件而言，其内部孔隙的分布率、密度等因素直接关系到其实用效果，因而在多孔陶瓷组件生产结束前或使用过程中，均需要对其孔隙率进行抽样测试，以确保其有效性。现有技术中，对于多孔陶瓷组件孔隙率的测试方法主要有气体吸附法(BET)、扫描电镜法等，其中，气体吸附法成本较低、较为常用，但往往存在环境干扰大、测试流程不规范导致测试精度降低的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种多孔陶瓷组件孔隙率的测试方法，具备提高测试精度的优点，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种多孔陶瓷组件孔隙率的测试方法，包括以下步骤：A、制备待测样品：从多孔陶瓷组件上截取若干份长方体部分作为待测样品，分别测量各待测样品的长、宽以及高，计算出体积V；B、测量与记录：①在真空环境下，测量各待测样品的干重M，②采用比重瓶法测量各待测样品的湿重M′；C、统计与判断：①分别计算出各待测样品的真密度ρ、孔隙率％，并求取平均值，②规定孔隙率≥50％为合格品。优选的，所述步骤A中体积V＝长×宽×高。优选的，所述步骤B-②中的具体流程如下，选取若干个相同规格的比重瓶，用洗液清洗、烘干，测量质量M1；将待测样品逐一放入比重瓶中，测量总质量M2；向各比重瓶中注入适量蒸馏水，水浴加热，使得待测样品充分吸水并排除气泡，继续注入蒸馏水直至满溢，测量总质量M3；倒出待测样品和蒸馏水，向各比重瓶中重新注入蒸馏水直至满溢，测量总质量M4。优选的，所述步骤C-①中真密度ρ＝(M2-M1)×ρ′/[(M4-M1)-(M3-M2)]，其中ρ′为蒸馏水的密度，≈1g/cm3。优选的，所述步骤与现有技术相比，本专利技术的有益效果如下：通过在真空环境下测量干重M，排除干扰；采用比重瓶法测量多组待测样品的湿重M′，进而计算出真密度ρ、孔隙率％并求取平均值，减小误差，从而提高了多孔陶瓷组件孔隙率的测试精度。附图说明图1为本专利技术工艺流程图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。请参阅图1，实施例：一种多孔陶瓷组件孔隙率的测试方法，包括以下步骤：A、制备待测样品：从多孔陶瓷组件上截取若干份长方体部分作为待测样品，分别测量各待测样品的长、宽以及高，计算出体积V；B、测量与记录：①在真空环境下，测量各待测样品的干重M，②采用比重瓶法测量各待测样品的湿重M′；C、统计与判断：①分别计算出各待测样品的真密度ρ、孔隙率％，并求取平均值，②规定孔隙率≥50％为合格品。所述步骤A中体积V＝长×宽×高。所述步骤B-②中的具体流程如下，选取若干个相同规格的比重瓶，用洗液清洗、烘干，测量质量M1；将待测样品逐一放入比重瓶中，测量总质量M2；向各比重瓶中注入适量蒸馏水，水浴加热，使得待测样品充分吸水并排除气泡，继续注入蒸馏水直至满溢，测量总质量M3；倒出待测样品和蒸馏水，向各比重瓶中重新注入蒸馏水直至满溢，测量总质量M4。所述步骤C-①中真密度ρ＝(M2-M1)×ρ′/[(M4-M1)-(M3-M2)]，其中ρ′为蒸馏水的密度，≈1g/cm3。所述步骤对照组一：本对照组内容和实施例内容基本相同，相同之处不再重述，不同之处在于：步骤B-①中，直接测量各待测样品的干重M。对照组二：本对照组内容和实施例内容基本相同，相同之处不再重述，不同之处在于：简化步骤B-②，仅测量M2、M3，并取消水浴加热。表一：实施例对照组一对照组二对照组三测试精度+---尽管已经示出和描述了本专利技术的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本专利技术的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本专利技术的范围由所附权利要求及其等同物限定。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种多孔陶瓷组件孔隙率的测试方法，其特征在于：包括以下步骤：/nA、制备待测样品：从多孔陶瓷组件上截取若干份长方体部分作为待测样品，分别测量各待测样品的长、宽以及高，计算出体积V；/nB、测量与记录：①在真空环境下，测量各待测样品的干重M，②采用比重瓶法测量各待测样品的湿重M′；/nC、统计与判断：①分别计算出各待测样品的真密度ρ、孔隙率％，并求取平均值，②规定孔隙率≥50％为合格品。/n

【技术特征摘要】
1.一种多孔陶瓷组件孔隙率的测试方法，其特征在于：包括以下步骤：
A、制备待测样品：从多孔陶瓷组件上截取若干份长方体部分作为待测样品，分别测量各待测样品的长、宽以及高，计算出体积V；
B、测量与记录：①在真空环境下，测量各待测样品的干重M，②采用比重瓶法测量各待测样品的湿重M′；
C、统计与判断：①分别计算出各待测样品的真密度ρ、孔隙率％，并求取平均值，②规定孔隙率≥50％为合格品。


2.根据权利要求1所述的一种多孔陶瓷组件孔隙率的测试方法，其特征在于：所述步骤A中体积V＝长×宽×高。


3.根据权利要求1所述的一种多孔陶瓷组件孔隙率的测试方法，其特征在于：所述步骤B-②中的具体流程如...

【专利技术属性】
技术研发人员：晏育权，吴硕体，
申请(专利权)人：湖南中科特种陶瓷技术开发有限公司，
类型：发明
国别省市：湖南;43