一种多孔陶瓷组件孔隙率的测试方法技术

本发明专利技术涉及孔隙率测试技术领域，尤其为一种多孔陶瓷组件孔隙率的测试方法，包括以下步骤：A、制备待测样品：从多孔陶瓷组件上截取若干份长方体部分作为待测样品，分别测量各待测样品的长、宽以及高，计算出体积V；B、测量与记录：①在真空环境下，测量各待测样品的干重M，②采用比重瓶法测量各待测样品的湿重M′；C、统计与判断：①分别计算出各待测样品的真密度ρ、孔隙率％，并求取平均值，②规定孔隙率≥50％为合格品。本发明专利技术通过在真空环境下测量干重M，排除干扰；采用比重瓶法测量多组待测样品的湿重M′，进而计算出真密度ρ、孔隙率％并求取平均值，减小误差，从而提高了多孔陶瓷组件孔隙率的测试精度。

【技术实现步骤摘要】
一种多孔陶瓷组件孔隙率的测试方法
本专利技术涉及孔隙率测试
，具体为一种多孔陶瓷组件孔隙率的测试方法。
技术介绍
对于多孔陶瓷组件而言，其内部孔隙的分布率、密度等因素直接关系到其实用效果，因而在多孔陶瓷组件生产结束前或使用过程中，均需要对其孔隙率进行抽样测试，以确保其有效性。现有技术中，对于多孔陶瓷组件孔隙率的测试方法主要有气体吸附法(BET)、扫描电镜法等，其中，气体吸附法成本较低、较为常用，但往往存在环境干扰大、测试流程不规范导致测试精度降低的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种多孔陶瓷组件孔隙率的测试方法，具备提高测试精度的优点，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种多孔陶瓷组件孔隙率的测试方法，包括以下步骤：A、制备待测样品：从多孔陶瓷组件上截取若干份长方体部分作为待测样品，分别测量各待测样品的长、宽以及高，计算出体积V；B、测量与记录：①在真空环境下，测量各待测样品的干重M，②采用比重瓶法测量各待测样品的湿重M′；本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种多孔陶瓷组件孔隙率的测试方法，其特征在于：包括以下步骤：/nA、制备待测样品：从多孔陶瓷组件上截取若干份长方体部分作为待测样品，分别测量各待测样品的长、宽以及高，计算出体积V；/nB、测量与记录：①在真空环境下，测量各待测样品的干重M，②采用比重瓶法测量各待测样品的湿重M′；/nC、统计与判断：①分别计算出各待测样品的真密度ρ、孔隙率％，并求取平均值，②规定孔隙率≥50％为合格品。/n

【技术特征摘要】
1.一种多孔陶瓷组件孔隙率的测试方法，其特征在于：包括以下步骤：
A、制备待测样品：从多孔陶瓷组件上截取若干份长方体部分作为待测样品，分别测量各待测样品的长、宽以及高，计算出体积V；
B、测量与记录：①在真空环境下，测量各待测样品的干重M，②采用比重瓶法测量各待测样品的湿重M′；
C、统计与判断：①分别计算出各待测样品的真密度ρ、孔隙率％，并求取平均值，②规定孔隙率≥50％为合格品。


2.根据权利要求1所述的一种多孔陶瓷组件孔隙率的测试方法，其特征在于：所述步骤A中体积V＝长×宽×高。


3.根据权利要求1所述的一种多孔陶瓷组件孔隙率的测试方法，其特征在于：所述步骤B-②中的具体流程如...

【专利技术属性】
技术研发人员：晏育权，吴硕体，
申请(专利权)人：湖南中科特种陶瓷技术开发有限公司，
类型：发明
国别省市：湖南;43