The invention discloses a polarization modulation depth measurement system, which includes a laser, a first polarization analyzer, a 1 / 2 wave plate and a rotating device group, a focusing lens, a second polarization analyzer, a filter assembly and a signal collecting device; the first polarization analyzer is used to change the polarization state of the laser generated exciting light, and the 1 / 2 wave plate and rotating device group are used to change the polarization angle of the laser and focus through The mirror is used to gather the signal excited from the sample, the second polarization analyzer is used to verify the polarization state of the collected signal, the filter module is used to filter out the laser signal and stray light signal, and the signal collection device is used to collect the signal spectrum. When the system is used for measurement, the sample is placed and fixed, and the polarization angle of linearly polarized light is changed by controlling the rotation of 1 / 2 wave plate to realize automatic measurement, automatic processing and saving of spectral data; the polarization state of incident light can be accurately controlled, the operation is simple, the spectrum measurement range is wide, and the measurement result has high accuracy, good stability and strong repeatability.
【技术实现步骤摘要】
一种偏振调制深度测量系统
本专利技术属于偏振测量领域,特别是一种偏振调制深度测量系统。
技术介绍
共轭聚合物材料的链形态对共轭聚合物基器件的功能有很大的影响。在探索共轭聚合物链的形态顺序和折叠机理时,可以通过对共轭聚合物材料调制深度的测量,来判断其形态。在共轭聚合物中,吸收张量表示链上所有跃迁偶极子的非相干和,M值提供了链序参数的良好表示。当更多的发色团平行排列时,M的值接近1,当它们变得更加各向同性时,M的值接近0。通过采集不同角度偏振光激发样品的光谱,利用强度轨迹与激发偏振角的函数关系I∝1+Mcos2(θ-φ),可以量化每个聚合物链的发光强度,其中θ激发偏振角,φ是最大吸收角,M为调制深度。要产生不同角度偏振光来激发样品,可采用转动激光器来实现,也可以通过转动偏振分析仪来实现。上述这两种方法都有其缺陷,转动激光器会严重影响其寿命并且实验光路难以校准;转动偏振分析仪,会使通过的激光强度发生变化,影响实验的准确性。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种偏振调制深度测量系统,可准确的控制入射光偏振状态。实现本专利技术目的的技术方案为:一种偏振调制深度测量系统,包括激光器、第一偏振分析仪、1/2波片及旋转装置组、聚焦透镜、第二偏振分析仪、滤光组件、信号收集装置和控制单元;所述激光器用于产生发射激光;所述第一偏振分析仪用于改变所述激光器产生激光的偏振状态;所述1/2波片及旋转装置组用于控制和改变通过第一偏振分析仪后出射激光的偏振角度;所述1/2波片及旋转装 ...
【技术保护点】
1.一种偏振调制深度测量系统,其特征在于,包括激光器(1)、第一偏振分析仪(3)、1/2波片及旋转装置组(4)、聚焦透镜(6)、第二偏振分析仪(7)、滤光组件(8)、信号收集装置(9)和控制单元(10);/n所述激光器(1)用于产生发射激光;/n所述第一偏振分析仪(3)用于改变所述激光器(1)产生激光的偏振状态;/n所述1/2波片及旋转装置组(4)用于控制和改变通过第一偏振分析仪(3)后出射激光的偏振角度;所述1/2波片及旋转装置组(4)包括狭缝、1/2波片、旋转支架和旋转控制器,所述1/2波片固定于旋转支架中心,旋转控制器用于控制1/2波片旋转角度,狭缝固定于旋转支架上1/2波片中心正前,不随1/2波片转动而转动;/n所述聚焦透镜(6)用于聚集从样品激发出来的信号;/n所述第二偏振分析仪(7)用于校验收集信号的偏振状态;/n所述滤光组件(8)用于滤除激光信号和杂散光信号;/n所述信号收集装置(9)用于收集信号光谱;/n所述控制单元(10)用于控制测量系统运行及数据处理保存。/n
【技术特征摘要】
1.一种偏振调制深度测量系统,其特征在于,包括激光器(1)、第一偏振分析仪(3)、1/2波片及旋转装置组(4)、聚焦透镜(6)、第二偏振分析仪(7)、滤光组件(8)、信号收集装置(9)和控制单元(10);
所述激光器(1)用于产生发射激光;
所述第一偏振分析仪(3)用于改变所述激光器(1)产生激光的偏振状态;
所述1/2波片及旋转装置组(4)用于控制和改变通过第一偏振分析仪(3)后出射激光的偏振角度;所述1/2波片及旋转装置组(4)包括狭缝、1/2波片、旋转支架和旋转控制器,所述1/2波片固定于旋转支架中心,旋转控制器用于控制1/2波片旋转角度,狭缝固定于旋转支架上1/2波片中心正前,不随1/2波片转动而转动;
所述聚焦透镜(6)用于聚集从样品激发出来的信号;
所述第二偏振分析仪(7)用于校验收集信号的偏振状态;
所述滤光组件(8)用于滤除激光信号和杂散光信号;
所述信号收集装置(9)用于收集信号光谱;
所述控制单元(10)用于控制测量系统运行及数据处理保存。
2.根据权利要求1所述的偏振调制深度测量系统,其特征在于,测量系统还包括衰减片(2),设置在激光器(1)和第一偏振分析仪(3)之间,用于调节激光照射到样品上的强度。
3.根据权利要求1或2所述的偏振调制深...
【专利技术属性】
技术研发人员:盛传祥,廖阳,胡书,王泽央,
申请(专利权)人:南京理工大学,
类型:发明
国别省市:江苏;32
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