一种碎粒型结构面及结构带抗剪强度参数获取方法技术

本发明专利技术公开了一种碎粒型结构面及结构带抗剪强度参数获取方法，包括以下步骤：进行工程地质分类；获取样本抗剪强度参数；获取样本颗分参数；获取所述碎粒型结构面及结构带的多元回归模型；当对待测区中碎粒型结构面及结构带的抗剪强度参数进行测试时，对所述待测区中碎粒型结构面及结构带进行类型判断并进行颗粒分析试验获取待测颗分参数；将所述待测颗分参数输入与所述待测区中碎粒型结构面及结构带类型相匹配的所述多元回归模型中获取待测区中碎粒型结构面及结构带的抗剪强度参数。本发明专利技术只需要对该碎粒型结构面及结构带进行简单的颗粒分析试验，就可以取代大型剪切试验获取抗剪强度，降低了成本，提高了测试效率。

A method for obtaining shear strength parameters of granular structural plane and structural zone

【技术实现步骤摘要】
一种碎粒型结构面及结构带抗剪强度参数获取方法
本专利技术涉及岩土及水电工程领域，具体涉及一种碎粒型结构面及结构带抗剪强度参数获取方法。
技术介绍
作为特殊的岩体内部缺陷，软弱结构面的力学轻度明显低于围岩，一般填充有一定厚度软弱物质的结构面。结构面的抗剪强度参数，是岩体抵抗剪切破坏能力的体现，是岩体的重要力学性质之一，也是水工建筑物及构筑物等设计的重要基础参数之一，一般主要通过现场试验(大尺寸直剪试验)来获取。这种试验需要经过选点扩帮、加工制样、仪器安装、加载试验、读数记录、统计分析等多个步骤，每一个环节都非常重要，成果来之相当不易。特别是软弱结构面，制作过程中很容易造成结构面扰动，其制样成功率较低，给试验工作带来了很大困难。因此，尽管现场大剪试验成果数据可靠性较好，但由于成本较高且周期较长，影响了工程设计中对结构面抗剪强度参数选用及时性，而基于类比试验成果的参数选用则具有准确性低和可靠性不足的弱点。基于此，有必要进行创新性探索。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是现有技术中对碎粒型结构面及结构带的抗剪强度参本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种碎粒型结构面及结构带抗剪强度参数获取方法，其特征在于，包括以下步骤：/nS1：根据碎粒型结构面及结构带的参数对样本区中碎粒型结构面及结构带进行工程地质分类；/nS2：对样本区中每一类碎粒型结构面及结构带进行现场大剪抗剪强度试验测试获取样本抗剪强度参数；对样本区中每一类碎粒型结构面及结构带进行颗粒分析试验获取样本颗分参数；/nS3：将同一类所述碎粒型结构面及结构带的样本抗剪强度参数和所述样本颗分参数进行分析获取所述碎粒型结构面及结构带的多元回归模型；/nS4：当对待测区中碎粒型结构面及结构带的抗剪强度参数进行测试时，对所述待测区中碎粒型结构面及结构带进行类型判断并进行颗粒分析试验获取待测...

【技术特征摘要】
1.一种碎粒型结构面及结构带抗剪强度参数获取方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1：根据碎粒型结构面及结构带的参数对样本区中碎粒型结构面及结构带进行工程地质分类；
S2：对样本区中每一类碎粒型结构面及结构带进行现场大剪抗剪强度试验测试获取样本抗剪强度参数；对样本区中每一类碎粒型结构面及结构带进行颗粒分析试验获取样本颗分参数；
S3：将同一类所述碎粒型结构面及结构带的样本抗剪强度参数和所述样本颗分参数进行分析获取所述碎粒型结构面及结构带的多元回归模型；
S4：当对待测区中碎粒型结构面及结构带的抗剪强度参数进行测试时，对所述待测区中碎粒型结构面及结构带进行类型判断并进行颗粒分析试验获取待测颗分参数；
将所述待测颗分参数输入与所述待测区中碎粒型结构面及结构带类型相匹配的所述多元回归模型中获取待测区中碎粒型结构面及结构带的抗剪强度参数。


2.根据权利要求1所述的一种碎粒型结构面及结构带抗剪强度参数获取方法，其特征在于，步骤S1中所述碎粒型结构面及结构带的参数包括产状、延伸、起伏、优势方向、连...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘云鹏，杨静熙，肖华波，李华，李崇标，谷虎，
申请(专利权)人：中国电建集团成都勘测设计研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：四川;51