一种圆形带平台凹曲面等厚精密零件的测量工具制造技术

本实用新型专利技术公开一种圆形带平台凹曲面等厚精密零件的测量工具，包括测量基座、连接座、锁紧螺母、若干挡块以及千分表；所述测量基座上设有连接孔，所述连接孔内设有螺纹，所述连接座为内部贯穿结构，其外表面上均设有螺纹，中部沿圆周方向设有隔板，所述连接座的一端旋转于连接孔内，隔板紧贴测量基座表面，所述千分表设置有测头的测杆穿过连接座，测头伸出测量基座，所述测杆上套设有锁紧螺母，所述锁紧螺母旋转于连接座的另一端的螺纹上，将千分表进行锁紧定位；所述测量基座以其中部为圆心，同一直径的圆周线上设有两固定孔，所述固定孔通过螺钉分别固定有挡块。本实用新型专利技术的结构简单，测量结果准确。

【技术实现步骤摘要】
一种圆形带平台凹曲面等厚精密零件的测量工具
本技术属于机械测量工具的
，具体涉及一种圆形带平台凹曲面等厚精密零件的测量工具。
技术介绍
行业内现有红外激光元件加工圆形带平台凹曲面等厚精密零件的测量装置是与其凸曲面共用测量平台；现有技术中的测量装置包括圆环和V型槽，待测零件为圆形带平台凹曲面等厚零件，设待测零件的凸曲面为A面，凹曲面为B面，则采用现有技术中的测量装置进行测量时，采用圆环(与待测零件A表面边缘接触)与V型槽(与待测零件外圆接触)来定位待测零件B表面边缘与千分表测针垂直在B表面边缘旋转一周的差值来表示；现有的测量装置在测量圆形带平台凹曲面零件时会出现待测零件的A面B面测量基准面不是同一基准表面(待测零件的平台和外圆)的问题，会导致测量结果出现较大误差，导致测量结果不准确，不能满足加工测量要求。
技术实现思路
专利技术目的：本技术目的在于针对现有技术的不足，提供一种圆形带平台凹曲面等厚精密零件的测量工具。技术方案：本技术所述一种圆形带平台凹曲面等厚精密零件的测量工具，包括测量基座、连接座、锁紧螺母、若干挡块以及千分表；所述测量基座上设有连接孔，所述连接孔内设有螺纹，所述连接座为内部贯穿结构，其外表面上均设有螺纹，中部沿圆周方向设有隔板，所述连接座的一端旋转于连接孔内，隔板紧贴测量基座表面，所述千分表设置有测头的测杆穿过连接座，测头伸出测量基座，所述测杆上套设有锁紧螺母，所述锁紧螺母旋转于连接座的另一端的螺纹上，将千分表进行锁紧定位；所述测量基座以其中部为圆心，同一直径的圆周线上设有两固定孔，所述固定孔通过螺钉分别固定有挡块，所述挡块位于测头的外侧，并与测头位于同一侧面上，所述待测零件的凹曲面朝下放置于测量基座上，所述待测零件的平台外圆与挡块紧靠，所述测头与凹曲面表面边缘接触。优选地，所述测量基座的厚度为10mm的圆形结构，其直径大于待测零件的直径。优选地，所述千分表为日本三丰0-5mm量程千分表。优选地，所述挡块与测量基座的连接面为开有长条形孔的板状结构，所述挡块通过螺钉穿过长条形孔与测量基座连接，所述板状结构靠近测头的一端固定有堵头，所述待测零件的平台外圆与堵头紧靠。优选地，所述连接孔内部成台阶状，其一端的开孔与测头的直径相匹配，另一端的开孔与连接座的外径相匹配，所述连接座的外径大于测头的直径，所述连接座内部空腔的直径与测杆的外径相匹配。优选地，所述连接座与锁紧螺母连接的端部呈圆台状，所述端部的直径小于其里侧直径，所述锁紧螺母的外端的内部开孔形状与连接座圆台状端部的匹配，所述锁紧螺母的外端设有与测杆直径相匹配的限位孔，所述千分表通过锁紧螺母在连接座上锁紧进行垂直定位。有益效果：(1)本技术所述测量装置结构简单，成本较低调整方便，操作简单，测量方便，测量精度高，测量结果准确；(2)本技术通过在挡块上设置有长条形孔，通过螺钉对挡块的相对位置进行限定，可以使本技术适用于不同直径的待测零件；本技术中的千分表伸出测量基座的测头的长度可以根据锁紧螺母进行锁定调整，通过这两个部件的相互配合，可以使本技术适用于不同直径的待测零件，提高本技术的重复利用率，节约成本。附图说明图1为本技术所述测量工具的结构示意图；图2为本技术所述测量工具的剖视图；图3为本技术所述测量基座的俯视图和侧视图；图4为本技术所述连接座的剖视图和主视图；图5为本技术所述锁紧螺母的剖视图；图6为本技术所述挡块的主视图和侧视图；图7为本技术所述螺钉的结构示意图；图8为本技术所述待测零件的结构示意图；图9为本技术所述待测零件放置于测量工具上的结构示意图。图中，1-测量基座，2-连接座，3-锁紧螺母，4-挡块，5-螺钉，6-千分表，7-待测零件。具体实施方式下面通过附图对本技术技术方案进行详细说明，但是本技术的保护范围不局限于所述实施例。实施例：一种圆形带平台凹曲面等厚精密零件的测量工具，如附图1和2所示，包括测量基座1、连接座2、锁紧螺母3、若干挡块4以及千分表6；如附图3所示，所述测量基座1的厚度为10mm的圆形结构，其直径大于待测零件的直径，所述测量基座1上设有连接孔，所述连接孔内设有螺纹，所述连接孔内部成台阶状，其一端的开孔与测头的直径相匹配，另一端的开孔与连接座2的外径相匹配，所述连接座2为内部贯穿结构，其外表面上均设有螺纹，中部沿圆周方向设有隔板，所述连接座2的外径大于测头的直径，所述连接座2内部空腔的直径与测杆的外径相匹配，所述连接座2的一端旋转于连接孔内，隔板紧贴测量基座1表面，所述千分表6为日本三丰0-5mm量程千分表6，所述千分表6设置有测头的测杆穿过连接座2，测头伸出测量基座1，所述测杆上套设有锁紧螺母3，所述锁紧螺母3旋转于连接座2的另一端的螺纹上，将千分表6进行锁紧定位；如附图4和5所示，所述连接座2与锁紧螺母3连接的端部呈圆台状，所述端部的直径小于其里侧直径，所述锁紧螺母3的外端的内部开孔形状与连接座2圆台状端部的匹配，所述锁紧螺母3的外端设有与测杆直径相匹配的限位孔，所述千分表6通过锁紧螺母3在连接座2上锁紧进行垂直定位；所述测量基座1以其中部为圆心，同一直径的圆周线上设有两固定孔，所述固定孔通过螺钉5分别固定有挡块4，如附图6和7所示，所述挡块4与测量基座1的连接面为开有长条形孔的板状结构，所述挡块4通过螺钉5穿过长条形孔与测量基座1连接，所述板状结构靠近测头的一端固定有堵头，所述待测零件的平台外圆与堵头紧靠，所述挡块4位于测头的外侧，并与测头位于同一侧面上，所述待测零件的凹曲面朝下放置于测量基座1上，所述待测零件的平台外圆与挡块4紧靠，所述测头与凹曲面表面边缘接触。本技术可以根据待测零件的直径进行调节挡块的相对位置，并通过锁紧螺母进行调节千分表的测头的伸出长度，测量基座也可根据待测零件的直径进行调整，本技术在进行安装时，首先将千分表6垂直安装于连接座2上，根据待测零件进行调整千分表测头与测量基座工作表面的间距，然后将挡块用螺钉固定在测量基座工作表面上，根据待测零件直径和凹曲面表面边缘(0.5-1mm)与千分表的测头接触，通过长条形孔进行调节堵头的位置，进行锁紧挡块，测量工具装配调整完成。如附图8和9所示，待测零件的平台的外圆靠着挡块，待测零件的凹曲面侧即B面的平台面紧贴测量基座工作平面，完成以外圆和平台为基准面零件B表面边缘与千分表的测头垂直在B表面边缘旋转一周的测量；千分表跳动差值为凹曲面偏心的测量值。下面我们将现有技术中的测量装置与本技术所述测量工具对两种不同规格的待测零件分别进行三次测量，该测试试验的试验数据如下表所示：由以上两种不同规格待测零件的三次测试试验数据可知，本技术所述测量工具的凹曲面中心偏检测数据的精准度明显高于现有测量装置的精准度。如上所述，尽管参照特定的优选实施例已经表示和表述了本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种圆形带平台凹曲面等厚精密零件的测量工具，其特征在于，包括测量基座、连接座、锁紧螺母、若干挡块以及千分表；所述测量基座上设有连接孔，所述连接孔内设有螺纹，所述连接座为内部贯穿结构，其外表面上均设有螺纹，中部沿圆周方向设有隔板，所述连接座的一端旋转于连接孔内，隔板紧贴测量基座表面，所述千分表设置有测头的测杆穿过连接座，测头伸出测量基座，所述测杆上套设有锁紧螺母，所述锁紧螺母旋转于连接座的另一端的螺纹上，将千分表进行锁紧定位；所述测量基座以其中部为圆心，同一直径的圆周线上设有两固定孔，所述固定孔通过螺钉分别固定有挡块，所述挡块位于测头的外侧，并与测头位于同一侧面上，待测零件的凹曲面朝下放置于测量基座上，待测零件的平台外圆与挡块紧靠，所述测头与凹曲面表面边缘接触。/n

【技术特征摘要】
1.一种圆形带平台凹曲面等厚精密零件的测量工具，其特征在于，包括测量基座、连接座、锁紧螺母、若干挡块以及千分表；所述测量基座上设有连接孔，所述连接孔内设有螺纹，所述连接座为内部贯穿结构，其外表面上均设有螺纹，中部沿圆周方向设有隔板，所述连接座的一端旋转于连接孔内，隔板紧贴测量基座表面，所述千分表设置有测头的测杆穿过连接座，测头伸出测量基座，所述测杆上套设有锁紧螺母，所述锁紧螺母旋转于连接座的另一端的螺纹上，将千分表进行锁紧定位；所述测量基座以其中部为圆心，同一直径的圆周线上设有两固定孔，所述固定孔通过螺钉分别固定有挡块，所述挡块位于测头的外侧，并与测头位于同一侧面上，待测零件的凹曲面朝下放置于测量基座上，待测零件的平台外圆与挡块紧靠，所述测头与凹曲面表面边缘接触。


2.根据权利要求1所述的一种圆形带平台凹曲面等厚精密零件的测量工具，其特征在于，所述测量基座的厚度为10mm的圆形结构，其直径大于待测零件的直径。


3.根据权利要求1所述的一种圆形带平台凹曲面等厚精密零件的测量工...

【专利技术属性】
技术研发人员：李刚，陶成，聂平，
申请(专利权)人：中锗科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32