用于给待检测物照明的光源装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术属于视觉检测技术领域，具体涉及一种用于给待检测物照明的光源装置。本实用新型专利技术提供的光源装置，包括发光元件和反光元件。其中，反光元件自所述光源装置向待检测物位置延伸，且面向待检测物的一侧表面为源自所述发光元件光线的反射面。对于产品有处于被遮挡部位或狭小空间的内的待检测物，该光源装置的反光元件根据待检测区域的结构空间设置以能够伸入待检测区域并面向待检测物，反光元件作为源自发光组件光线的反射面，以将待检测物照亮，从而实现与待检测项其它面展现同样的效果，有效解决了现有的AOI光源因难以在产品被遮挡部位或狭小空间内架设而无法进行光学检测的难题。

【技术实现步骤摘要】
用于给待检测物照明的光源装置
本技术属于视觉检测
，具体涉及一种用于给待检测物照明的光源装置。
技术介绍
自动光学检测(AutomaticOpticalInspection，AOI)是基于光学原理对晶圆、芯片或其它被检测对象在生产过程中遇到的常见缺陷进行快速、无损伤检测的技术，该技术广泛应用于PCB、LED、TFT、集成电路以及太阳能面板等领域。AOI的工作原理是用特定的光源照射被检测对象，通过光学成像系统采集被检测对象的图像信息，然后通过计算机将采集的图像信息与参考图像信息进行比较，以识别出被检测对象的表面缺陷，然后通过显示器或自动标志把缺陷显示/标识出来。光源是自动检测设备的重要组成部分，国内现有的AOI光源均采用整圆形设计。但此种设计方案在实际应用中存在一些缺陷，如在检测汽车马达PCB板与PIN焊接处的焊点饱和度时，由于产品的焊点附近已经存在成型的零部件(如塑胶件)，已成型的零部件会遮挡焊点的一个侧面，从而造成该侧面无法进行饱和度的检测；而且，已成型的零部件距焊点很近，再加上其它零部件的干扰，空间极其狭小，仅有5mm左右，从而无法架设整圆形光源。因而，对产品处于被遮挡部位或狭小空间内的待检测物进行光学检测成为一大难题。
技术实现思路
因此，本技术要解决的技术问题在于克服现有的AOI光源整圆形结构不适于对处于产品被遮挡部位或狭小空间的被检测物进行光学检测的缺陷，从而提出一种适于产品狭小空间检测并能够对被检测物进行全面照射的光源装置。为解决上述技术问题，本技术采用的技术方案是：本技术提供一种用于给待检测物照明的光源装置，包括：发光元件；反光元件，自所述光源装置向待检测物位置延伸，且面向待检测物的一侧表面为源自所述发光元件光线的反射面。优选地，该结构的光源装置，所述反光元件包括两个所述反射面，两个所述反射面相背设置，以反射不同位置处的源自所述发光元件的光线。优选地，该结构的光源装置，所述反射面呈矩形，其长度和宽度能够使所述发光元件的光线被反射后部分照射待检测物。进一步优选地，该结构的光源装置，包括可拆卸安装的发光组件和反光组件，所述发光组件包括至少一个所述发光元件，所述反光组件包括所述反光元件；所述反光组件还包括将所述反光元件固定在所述发光组件上的第一固定件。进一步优选地，该结构的光源装置，所述第一固定件为刚性矩形板状结构，所述反光元件为柔性反光膜。进一步优选地，该结构的光源装置，所述第一固定件的一端固定在所述发光组件上，所述柔性反光膜设置在所述第一固定件的两表面。进一步优选地，该结构的光源装置，所述反光组件还包括刚性板状结构的第二固定件，所述第一固定件固定在所述第二固定件上，所述第二固定件的两端固定在所述发光组件上。进一步优选地，该结构的光源装置，所述发光元件的横截面为C型。进一步优选地，该结构的光源装置，所述发光组件包括三个层叠设置的所述发光元件以围成内腔，且所述内腔内径由底层朝向顶层方向逐渐减小。进一步优选地，该结构的光源装置，每个所述发光元件为半圆环型，包括一个圆弧段和两个自由端，所述第二固定件固定在顶层的所述发光元件的自由端端面，所述第一固定件沿所有所述发光元件圆心所在的轴线方向并朝向所述发光组件的底层设置。本技术技术方案，具有如下优点：1.本技术提供的用于给待检测物照明的光源装置，包括发光元件和反光元件。其中，反光元件自光源装置向待检测物位置延伸，且面向待检测物的一侧表面为源自发光元件光线的反射面。对于产品有处于被遮挡部位或狭小空间的内的待检测物，该光源装置的反光元件根据待检测区域的结构空间设置以能够伸入待检测区域并面向待检测物，反光元件作为源自发光元件光线的反射面，以将待检测物照亮，从而实现与待检测物其它面展现同样的效果，有效解决了现有的AOI光源因难以在产品被遮挡部位或狭小空间内架设而无法进行光学检测的难题。2.本技术提供的用于给待检测物照明的光源装置，第一固定件的固定端设置有至少一个长腰孔，第一固定件通过穿设在长腰孔内的第一紧固件以将反光元件固定在发光组件上。该结构的光源装置，通过长腰孔设计即可调节第一固定件与发光组件的相对位置，继而实现对反光元件相对于发光组件位置的调节，以适应不同结构或空间各异的待检测区域的光学检测。3.本技术提供的用于给待检测物照明的光源装置，第一固定件上设置有至少一个减重孔，能够减轻第一固定件的重量，以保护该光源装置，且反光元件覆盖所有该减重孔，保证了反光元件作为光线反射面面积不会因减重孔的设置而减小。而且，反光元件凸出于第一固定件的悬空端设置，避免了在光学检测过程中第一固定件对待检测产品的损坏。4.本技术提供的用于给待检测物照明的光源装置，发光组件包括至少一个横截面为C型的发光元件，反光组件设置在C型的发光元件的开口区域。该结构的光源装置，C型发光元件的开口结构为在待检测产品上的架设提供了更大空间，更有利于反光组件伸入待检测区域。5.本技术提供的用于给待检测物照明的光源装置，C型的发光元件上至少设置有两个调节孔，可实现反光元件在C型发光元件开口区域固定位置的调节；该调节孔配合长腰孔，实现反光元件相对于发光组件位置的调节，改善发光组件对反光元件的入射角度以及发光元件光线的出射角度，从而改善对待检测物的照亮效果。附图说明为了更清楚地说明本技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术实施例1提供的光源装置主视图；图2为本技术实施例1提供的光源装置右视图；图3为本技术实施例1提供的光源装置俯视图；图4为本技术实施例1提供的第一固定件和反光元件结构示意图；附图标记说明：1-发光组件；11-第一发光元件；111-调节孔；12-第二发光元件；13-第三发光元件；14-开口区域；2-反光组件；21-反光元件；22-第一固定件；221-减重孔；222-长腰孔；23-第二固定件。具体实施方式下面将结合附图对本专利技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。在本专利技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于给待检测物照明的光源装置，其特征在于，包括：/n发光元件；/n反光元件，自所述光源装置向待检测物位置延伸，且面向待检测物的一侧表面为源自所述发光元件光线的反射面。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于给待检测物照明的光源装置，其特征在于，包括：
发光元件；
反光元件，自所述光源装置向待检测物位置延伸，且面向待检测物的一侧表面为源自所述发光元件光线的反射面。


2.根据权利要求1所述的光源装置，其特征在于，所述反光元件包括两个所述反射面，两个所述反射面相背设置，以反射不同位置处的源自所述发光元件的光线。


3.根据权利要求1所述的光源装置，其特征在于，所述反射面呈矩形，其长度和宽度能够使所述发光元件的光线被反射后部分照射待检测物。


4.根据权利要求2所述的光源装置，其特征在于，包括可拆卸安装的发光组件和反光组件，所述发光组件包括至少一个所述发光元件，所述反光组件包括所述反光元件；所述反光组件还包括将所述反光元件固定在所述发光组件上的第一固定件。


5.根据权利要求4所述的光源装置，其特征在于，所述第一固定件为刚性矩形板状结构，所述反光元件为柔性反光膜。<...

【专利技术属性】
技术研发人员：王其福，沈栋慧，赵立勇，刘运飞，葛大伟，
申请(专利权)人：苏州德创测控科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32