获取圆槽理论值的方法、装置、计算机设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了获取圆槽理论值的方法、装置、计算机设备及存储介质，方法包括：获取被测工件模型的原始面A的类型，当所述原始面A为平面时，执行平面测量流程；当所述原始面A为样条曲面时，将所述样条曲面拟合为平面，若拟合成功则执行平面测量流程；当所述原始面A为圆柱面时，执行圆柱面测量流程。本发明专利技术可以任意选择圆槽一面，然后直接获取圆槽理论值，同时可以排除圆槽平面中的凸起或者凹槽等误差因素干扰。

【技术实现步骤摘要】
获取圆槽理论值的方法、装置、计算机设备及存储介质
本专利技术涉及坐标测量领域领域，尤其涉及获取圆槽理论值的方法、装置、计算机设备及存储介质。
技术介绍
现有技术中，进行坐标测量时，测量特征的理论值是生成测量路径以及指导测量机实际测量的重要参数，同时也是对测量结果进行误差判定的重要数据。对于圆槽测量，需要满足：选取圆槽任意一面，需要自动关联整个圆槽特征，并自动获取各种测量参数。但现有技术中，还无法实现上述测量效果。鉴于现有技术存在的上述问题，因此有必要对现有技术进行优化和改进。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了获取圆槽理论值的方法、装置、计算机设备及存储介质，旨在解决现有技术无法满足针对圆槽任意一面均能自动测量的问题。本专利技术实施例提供一种在测量过程中获取圆槽理论值的方法，包括：获取被测工件模型的原始面A的类型，当所述原始面A为平面时，执行平面测量流程；当所述原始面A为样条曲面时，将所述样条曲面拟合为平面，若拟合成功则执行平面测量流程；当所述原始面A为圆柱面时，执行圆柱面测量流程；所述平面测量流程的步骤包括：S1、获取原始面A的法向量Va和中心点Pa；S2、以所述中心点Pa为起点，沿所述法向量Va方向射出并构成射线lin，求出射线lin在所述法向量Va方向上与被测工件模型的第一个交点，并将交点设置为点Pc；S3、将原始面A作为起始面并执行创建相邻面的集合的流程，得到面的集合PlaneAs，并去除其中非圆柱类型的面；其中，所述创建相邻面的集合的流程包括：获取起始面最外环的所有直边，并组成边的集合；获取与起始面相邻并共享有同一条边的面，并将所有的面加入面的集合；S4、将所述集合PlaneAs中的每一个面作为起始面执行所述创建相邻面的集合的流程，获取多个集合TPS，将所有集合TPS中的元素放入面的集合PlaneBs中，并去除重复项、原始面A和非平面类型的面；S5、在集合PlaneBs中找到Pc点所在的面并将此面设置为平面C，以平面C作为起始面执行所述创建相邻面的集合的流程，获取面的集合PlaneCs，并去除其中非圆柱类型的面；S6、获取所述集合PlaneAs和所述集合PlaneCs的交集PlaneBDs；在集合PlaneBDs中，获取轴线平行且不重合的2个圆柱面，分别作为圆柱面B和圆柱面D；S7、计算中心点Pa到点Pc的距离并作为圆槽的长度，以及分别获取圆柱面B和圆柱面D的轴线上的点centerB和点centerD，以及获取圆柱面B的半径R。优选的，所述圆柱面测量流程的步骤包括：T1、将原始面A作为起始面并执行创建相邻面的集合的流程，得到面的集合PlaneAs，并去除PlaneAs中非平面类型的面；T2、循环遍历PlaneAs中的面，取得法向量反向的2个平面，分别为平面B和平面D；T3、以平面B作为起始面执行所述创建相邻面的集合的流程，获取面的集合PlaneBs，并去除PlaneBs中非圆柱类型的面；以及以平面D作为起始面执行所述创建相邻面的集合的流程，获取面的集合PlaneDs，并去除PlaneDs中非圆柱类型的面；T4、获取所述集合PlaneBs和所述集合PlaneDs的交集PlaneBDs，从中得到除原始面A之外的圆柱面C；T5、以平面B上的中心点Pb为起点，沿平面B的法向量Vb方向射出并构成射线lin，求出射线lin在所述法向量Vb方向上与被测工件模型的第一个交点，并将交点设置为点Pd；T6、计算中心点Pb到点Pd并作为圆槽的长度，以及分别获取原始面A和圆柱面C的轴线上的点centerA和点centerC，以及获取圆柱面A的半径R。优选的，所述当所述原始面A为样条曲面时，将所述样条曲面拟合为平面，若拟合成功则执行平面测量流程，包括：若原始面A为样条曲面，则将原始面A按照等面积方法离散成点的集合Pas，在容差Tol范围内用最小二乘法拟合集合Pas成平面，并获取平面的法向量Va和中心点Pa。优选的，所述以所述中心点Pa为起点，沿所述法向量Va方向构成射线lin，包括：先将中心点Pa沿法向量Va方向平移并获得点Pa1，再由所述点Pa1沿所述法向量Va方向构成射线lin。优选的，所述获取起始面最外环的所有直边，并组成边的集合，包括：过滤起始面的内部孔或者干扰线。优选的，所述步骤S7之后，还包括：S8、根据所述中心点Pa和所述法向量Va记录空间几何平面，并将该空间几何平面作为圆槽的一个平面，并记录点Pc所在的面作为圆槽的另外一个平面。优选的，所述步骤T6之后，还包括：T7、根据所述中心点Pb和所述法向量Vb记录空间几何平面，并将该空间几何平面作为圆槽的一个平面，并记录点Pd所在的面作为圆槽的另外一个平面。本专利技术实施例还提供一种在测量过程中获取圆槽理论值的装置，包括：平面执行单元，用于获取被测工件模型的原始面A的类型，当所述原始面A为平面时，执行平面测量流程；当所述原始面A为样条曲面时，将所述样条曲面拟合为平面，若拟合成功则执行平面测量流程；圆柱面执行单元，用于当所述原始面A为圆柱面时，执行圆柱面测量流程；所述平面执行单元包括：获取单元，用于获取原始面A的法向量Va和中心点Pa；射线单元，用于以所述中心点Pa为起点，沿所述法向量Va方向射出并构成射线lin，求出射线lin在所述法向量Va方向上与被测工件模型的第一个交点，并将交点设置为点Pc；第一平面集合创建单元，用于将原始面A作为起始面并执行创建相邻面的集合的流程，得到面的集合PlaneAs，并去除其中非圆柱类型的面；其中，所述创建相邻面的集合的流程包括：获取起始面最外环的所有直边，并组成边的集合；获取与起始面相邻并共享有同一条边的面，并将所有的面加入面的集合；圆柱面集合创建单元，用于将所述集合PlaneAs中的每一个面作为起始面执行所述创建相邻面的集合的流程，获取多个集合TPS，将所有集合TPS中的元素放入面的集合PlaneBs中，并去除重复项、原始面A和非平面类型的面；第二平面集合创建单元，用于在集合PlaneBs中找到Pc点所在的面并将此面设置为平面C，以平面C作为起始面执行所述创建相邻面的集合的流程，获取面的集合PlaneCs，并去除其中非圆柱类型的面；交集单元，用于获取所述集合PlaneAs和所述集合PlaneCs的交集PlaneBDs；在集合PlaneBDs中，获取轴线平行且不重合的2个圆柱面，分别作为圆柱面B和圆柱面D；计算单元，用于计算中心点Pa到点Pc的距离并作为圆槽的长度，以及分别获取圆柱面B和圆柱面D的轴线上的点centerB和点centerD，以及获取圆柱面B的半径R。本专利技术实施例还提供一种计算机设备，其中，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上所述的在本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种在测量过程中获取圆槽理论值的方法，其特征在于，包括：/n获取被测工件模型的原始面A的类型，当所述原始面A为平面时，执行平面测量流程；当所述原始面A为样条曲面时，将所述样条曲面拟合为平面，若拟合成功则执行平面测量流程；当所述原始面A为圆柱面时，执行圆柱面测量流程；/n所述平面测量流程的步骤包括：/nS1、获取原始面A的法向量Va和中心点Pa；/nS2、以所述中心点Pa为起点，沿所述法向量Va方向射出并构成射线lin，求出射线lin在所述法向量Va方向上与被测工件模型的第一个交点，并将交点设置为点Pc；/nS3、将原始面A作为起始面并执行创建相邻面的集合的流程，得到面的集合PlaneAs，并去除其中非圆柱类型的面；/n其中，所述创建相邻面的集合的流程包括：获取起始面最外环的所有直边，并组成边的集合；获取与起始面相邻并共享有同一条边的面，并将所有的面加入面的集合；/nS4、将所述集合PlaneAs中的每一个面作为起始面执行所述创建相邻面的集合的流程，获取多个集合TPS，将所有集合TPS中的元素放入面的集合PlaneBs中，并去除重复项、原始面A和非平面类型的面；/nS5、在集合PlaneBs中找到Pc点所在的面并将此面设置为平面C，以平面C作为起始面执行所述创建相邻面的集合的流程，获取面的集合PlaneCs，并去除其中非圆柱类型的面；/nS6、获取所述集合PlaneAs和所述集合PlaneCs的交集PlaneBDs；在集合PlaneBDs中，获取轴线平行且不重合的2个圆柱面，分别作为圆柱面B和圆柱面D；/nS7、计算中心点Pa到点Pc的距离并作为圆槽的长度，以及分别获取圆柱面B和圆柱面D的轴线上的点centerB和点centerD，以及获取圆柱面B的半径R。/n...

【技术特征摘要】
1.一种在测量过程中获取圆槽理论值的方法，其特征在于，包括：
获取被测工件模型的原始面A的类型，当所述原始面A为平面时，执行平面测量流程；当所述原始面A为样条曲面时，将所述样条曲面拟合为平面，若拟合成功则执行平面测量流程；当所述原始面A为圆柱面时，执行圆柱面测量流程；
所述平面测量流程的步骤包括：
S1、获取原始面A的法向量Va和中心点Pa；
S2、以所述中心点Pa为起点，沿所述法向量Va方向射出并构成射线lin，求出射线lin在所述法向量Va方向上与被测工件模型的第一个交点，并将交点设置为点Pc；
S3、将原始面A作为起始面并执行创建相邻面的集合的流程，得到面的集合PlaneAs，并去除其中非圆柱类型的面；
其中，所述创建相邻面的集合的流程包括：获取起始面最外环的所有直边，并组成边的集合；获取与起始面相邻并共享有同一条边的面，并将所有的面加入面的集合；
S4、将所述集合PlaneAs中的每一个面作为起始面执行所述创建相邻面的集合的流程，获取多个集合TPS，将所有集合TPS中的元素放入面的集合PlaneBs中，并去除重复项、原始面A和非平面类型的面；
S5、在集合PlaneBs中找到Pc点所在的面并将此面设置为平面C，以平面C作为起始面执行所述创建相邻面的集合的流程，获取面的集合PlaneCs，并去除其中非圆柱类型的面；
S6、获取所述集合PlaneAs和所述集合PlaneCs的交集PlaneBDs；在集合PlaneBDs中，获取轴线平行且不重合的2个圆柱面，分别作为圆柱面B和圆柱面D；
S7、计算中心点Pa到点Pc的距离并作为圆槽的长度，以及分别获取圆柱面B和圆柱面D的轴线上的点centerB和点centerD，以及获取圆柱面B的半径R。


2.根据权利要求1所述的在测量过程中获取圆槽理论值的方法，其特征在于，所述圆柱面测量流程的步骤包括：
T1、将原始面A作为起始面并执行创建相邻面的集合的流程，得到面的集合PlaneAs，并去除PlaneAs中非平面类型的面；
T2、循环遍历PlaneAs中的面，取得法向量反向的2个平面，分别为平面B和平面D；
T3、以平面B作为起始面执行所述创建相邻面的集合的流程，获取面的集合PlaneBs，并去除PlaneBs中非圆柱类型的面；以及以平面D作为起始面执行所述创建相邻面的集合的流程，获取面的集合PlaneDs，并去除PlaneDs中非圆柱类型的面；
T4、获取所述集合PlaneBs和所述集合PlaneDs的交集PlaneBDs，从中得到除原始面A之外的圆柱面C；
T5、以平面B上的中心点Pb为起点，沿平面B的法向量Vb方向射出并构成射线lin，求出射线lin在所述法向量Vb方向上与被测工件模型的第一个交点，并将交点设置为点Pd；
T6、计算中心点Pb到点Pd并作为圆槽的长度，以及分别获取原始面A和圆柱面C的轴线上的点centerA和点centerC，以及获取圆柱面A的半径R。


3.根据权利要求1所述的在测量过程中获取圆槽理论值的方法，其特征在于，所述当所述原始面A为样条曲面时，将所述样条曲面拟合为平面，若拟合成功则执行平面测量流程，包括：
若原始面A为样条曲面，则将原始面A按照等面积方法离散成点的集合Pas，在容差Tol范围内用最小二乘法拟合集合Pas成平面，并获取平面的法向量Va和中心点Pa。


4.根据权利要求1或3所述的在测量过程中获取圆槽理论值的方法，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：李成，杜二宝，高学海，姚水永，倪江华，
申请(专利权)人：深圳力合精密装备科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44