【技术实现步骤摘要】
一种基于太赫兹技术的材料检测装置及检测方法
本申请涉及材料检测领域，特别涉及一种基于太赫兹技术的材料检测装置及检测方法。
技术介绍
太赫兹作为一种特殊的电磁波具有易穿透非极性材料，具有易被极性分子吸收，能在金属表面产生全发射等优点。基于这些优点，可以将太赫兹应用于材料检测领域。针对待测材料，可以利用太赫兹脉冲与待测物质发生相互作用形成太赫兹时域光谱，根据太赫兹时域光谱得到太赫兹电场强度信息，从太赫兹电场强度信息可以提取待测材料的相关信息。但是，上述检测过程容易受到环境的影响，比如，环境中温度和颗粒度的容易导致太赫兹时域光谱产生偏差，进而降低了待测材料的检测精度。基于此，目前亟需一种基于太赫兹技术的材料检测方法，用于解决现有技术中环境中温度和颗粒度的影响，导致太赫兹时域光谱产生偏差，进而降低了待测材料的检测精度的问题。
技术实现思路
本申请提供了一种基于太赫兹技术的材料检测装置及检测方法，可用于解决在现有技术中环境中温度和颗粒度的影响，导致太赫兹时域光谱产生偏差，进而降低了待测材料的检测精度
【技术保护点】
1.一种基于太赫兹技术的材料检测方法，其特征在于，所述方法包括：/n获取待测材料所处环境的初始环境属性值，所述初始环境属性值包括初始温度值和初始颗粒度值；/n根据所述初始温度值和所述初始颗粒度值，从预设数据库中确定出目标环境修正值；所述预设数据库中存储有温度值、颗粒度值与环境修正值的对应关系；/n获取待测材料的初始太赫兹时域光谱图；/n根据所述目标环境修正值，对初始太赫兹时域光谱图进行修正，得到修正后的太赫兹时域光谱图；/n根据所述修正后的太赫兹时域光谱图，确定待测材料的属性信息。/n
【技术特征摘要】
1.一种基于太赫兹技术的材料检测方法，其特征在于，所述方法包括：
获取待测材料所处环境的初始环境属性值，所述初始环境属性值包括初始温度值和初始颗粒度值；
根据所述初始温度值和所述初始颗粒度值，从预设数据库中确定出目标环境修正值；所述预设数据库中存储有温度值、颗粒度值与环境修正值的对应关系；
获取待测材料的初始太赫兹时域光谱图；
根据所述目标环境修正值，对初始太赫兹时域光谱图进行修正，得到修正后的太赫兹时域光谱图；
根据所述修正后的太赫兹时域光谱图，确定待测材料的属性信息。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设的温度值、所述预设颗粒度值与所述环境修正值的对应关系按照以下步骤确定：
采用人工模拟装置，模拟出多个温度值和多个颗粒度值；
在模拟出的第一温度值和第一颗粒度值的环境中，获取第一太赫兹时域光谱图和第二太赫兹时域光谱图；所述第一太赫兹时域光谱图是太赫兹信号接收单元位于太赫兹信号发射单元第一距离处得到的；所述第二太赫兹时域光谱图是太赫兹信号接收单元位于太赫兹信号发射单元的第二距离处得到的；所述第一温度值是所述多个温度值中的任一温度值，所述第一颗粒度值是所述多个颗粒度值中的任一颗粒度值；
确定第一太赫兹时域光谱图的峰值，以及确定第二太赫兹时域光谱图的峰值；
根据所述第一太赫兹时域光谱图的峰值和所述第二太赫兹时域光谱图的峰值，确定第一环境修正值；
建立所述第一温度值、所述第一颗粒度值与所述第一环境修正值的对应关系。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述目标环境修正值对初始太赫兹时域光谱图进行修正的方法，包括：
确定所述初始太赫兹时域光谱图的初始峰值；
根据所述初始峰值和所述目标环境修正值，确定目标峰值；
采用所述目标峰值替换所述初始太赫兹时域光谱图的初始峰值，得到所述修正后的太赫兹时域光谱图。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述初始环境属性还包括初始湿度值；
根据所述初始温度值和所述初始颗粒度值，从预设数据库中确定出目标环境修正值，包括：
根据所述初始温度值、所述初始颗粒度值和所述初始湿度值，从所述预设数据库中确定出目标环境修正值；所述预设数据库中还存储有温度值、颗粒度值、湿度值与环境修正值的对应关系。
5.一种基于太赫兹技术的材料检测装置，其特征在于，所述装置包括：
温度...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘荣海，孔旭晖，郑欣，郭新良，王洪武，蔡晓斌，赵现平，杨迎春，周年荣，许宏伟，周静波，虞鸿江，何运华，焦宗寒，胡昌斌，杨雪滢，代克顺，陈国坤，宋玉锋，程雪婷，彭詠涛，李宗红，
申请(专利权)人：云南电网有限责任公司电力科学研究院，
类型：发明
国别省市：云南;53
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