【技术实现步骤摘要】
一种光谱检测方法及系统
本专利技术涉及光学应用领域，尤其涉及一种光谱检测方法及系统。
技术介绍
光谱仪器是应用光学技术、电子技术及计算机技术对物质的成分及结构等进行分析和测量的基本设备，广泛应用于环境监测、工业控制、化学分析、食品品质检测、材料分析、临床检验、航空航天遥感及科学教育等领域。目前，传统光谱仪存在着结构复杂、使用环境受限、不便携带及价格昂贵等不足，无法满足现场检测和实时监控的需求。
技术实现思路
本专利技术实施例为了解决传统光谱仪所存在的种种问题，创造性地提出了一种光谱检测方法及系统。根据本专利技术第一方面，提供了一种光谱检测方法，该方法包括：通过小孔光阑对被检测物体表面的散射光进行空间滤波，得到球面波光场信号；利用色散元件对所述球面波光场信号进行分光处理，形成多阶光学信号；所述多阶光学信号经成像系统成像，并成像至光信号探测器；所述光信号探测器根据成像结果进行光谱检测，得到光谱检测结果。根据本专利技术一实施方式，利用所述光信号探测器根据成像结果进行光谱检测，得到光谱检测...
【技术保护点】
1.一种光谱检测方法，其特征在于，所述方法包括：/n通过小孔光阑对被检测物体表面的散射光进行空间滤波，得到球面波光场信号；/n利用色散元件对所述球面波光场信号进行分光处理，形成多阶光学信号；/n将所述多阶光学信号经成像系统成像，并成像至光信号探测器；/n所述光信号探测器根据成像结果进行光谱检测，得到光谱检测结果。/n
【技术特征摘要】
1.一种光谱检测方法，其特征在于，所述方法包括：
通过小孔光阑对被检测物体表面的散射光进行空间滤波，得到球面波光场信号；
利用色散元件对所述球面波光场信号进行分光处理，形成多阶光学信号；
将所述多阶光学信号经成像系统成像，并成像至光信号探测器；
所述光信号探测器根据成像结果进行光谱检测，得到光谱检测结果。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用所述光信号探测器根据成像结果进行光谱检测，得到光谱检测结果，包括：
基于所述光信号探测器的不同位置对成像结果进行检测，得到不同波长的光学信号；
根据不同波长的光学信号的信号强度进行光谱分析，得到球面波光场信号的光谱成分及各光谱成分的相对强度。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据不同波长的光学信号的信号强度进行光谱分析，得到球面波光场信号的光谱成分及各光谱成分的相对强度，包括：
根据不同波长的光学信号的信号强度进行光谱分析，得到多阶光学信号中的光谱成分及各光谱的相对强度；
结合所述色散元件的光学特性，进一步根据多阶光学信号中的光谱成分及各光谱的相对强度确定球面波光场信号的光谱成分及各光谱成分的相对强度。
4.根据权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，所述小孔光阑包括如下形状至少之一的通光孔：单独圆形、方形、长条形及其他异形。
5.根据权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，所述色散元件包括如下光学元件至少之一：光栅元件、闪耀光栅元件、衍射光...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨琦，许一力，
申请(专利权)人：杭州谱析光晶半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33
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