【技术实现步骤摘要】
硬件木马版图检测方法、装置、电子设备和可读存储介质
本申请涉及集成电路
，特别是涉及一种硬件木马版图检测方法、装置、电子设备和可读存储介质。
技术介绍
集成电路(IntegratedCircuit，IC)作为现代信息化装备的核心，随着集成电路制造工艺的不断进步，近年来其安全性受到国内外广泛关注。由于集成电路的设计过程与制造过程相互分离，集成电路的芯片制造可能会不受设计方控制，如竞争对手在制造过程中往芯片中植入额外的恶意电路(也被称为硬件木马)，从而使整个集成电路的系统功能瘫痪。目前，用来检测集成电路实物版图是否存在硬件木马病毒的方法往往误差较大，准确性较低。
技术实现思路
本申请实施例提供了一种硬件木马版图检测方法、装置、电子设备、计算机可读存储介质，可以提高检测集成电路版图中硬件病毒信息的准确性。本申请提供一种硬件木马版图检测方法，包括：获取集成电路的实物版图对应的第一图像和设计版图对应的第二图像，所述第一图像和所述第二图像为同质图；对所述第一图像进行分割处理得到多...
【技术保护点】
1.一种硬件木马版图检测方法，其特征在于，包括：/n获取集成电路的实物版图对应的第一图像和设计版图对应的第二图像，所述第一图像和所述第二图像为同质图；/n对所述第一图像进行分割处理得到多个第一布局结构图像，对所述第二图像进行分割处理得到多个第二布局结构图像；/n对多个所述第一布局结构图像进行特征提取得到第一形状特征信息；对多个所述第二布局结构图像进行特征提取得到第二形状特征信息；/n根据所述第一形状特征信息和所述第二形状特征信息获取版图检测信息。/n
【技术特征摘要】
1.一种硬件木马版图检测方法，其特征在于，包括：
获取集成电路的实物版图对应的第一图像和设计版图对应的第二图像，所述第一图像和所述第二图像为同质图；
对所述第一图像进行分割处理得到多个第一布局结构图像，对所述第二图像进行分割处理得到多个第二布局结构图像；
对多个所述第一布局结构图像进行特征提取得到第一形状特征信息；对多个所述第二布局结构图像进行特征提取得到第二形状特征信息；
根据所述第一形状特征信息和所述第二形状特征信息获取版图检测信息。
2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述根据所述第一形状特征信息和所述第二形状特征信息获取版图检测信息，包括：
利用距离度量算法获取所述第一形状特征信息和所述第二形状特征信息的相似度；
根据所述相似度获取所述版图检测信息。
3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述版图检测信息包括硬件木马信息和版图合格信息，所述根据所述相似度获取所述版图检测信息，包括：
当所述相似度小于相似度阈值，根据所述第一形状特征信息、所述第二形状特征信息和预存病毒信息获取所述硬件木马信息；
当所述相似度大于或等于所述相似度阈值时，生成所述版图合格信息。
4.根据权利要求3所述的检测方法，其特征在于，所述根据所述第一形状特征信息、所述第二形状特征信息和预存的病毒特征信息获取所述硬件木马信息，包括：
根据所述第一形状特征信息和所述第二形状特征信息的差异提取所述实物版图中的病毒特征信息；
将所述实物版图中的病毒特征信息和所述预存病毒信息进行对比确定出所述硬件木马信息。
5.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述获取集成电路的实物版图对应的第一图像和设计版图对应的第二图像，包括：
利用扫描电子显微镜采集所述集成电路的实物版图对应的微观图像；
基于循环一致性生成式对抗网络获取所述微观图像和所述设计版图各自对应的互连线特征，基于...
【专利技术属性】
技术研发人员：王力纬，侯波，雷登云，孙宸，恩云飞，
申请(专利权)人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所工业和信息化部电子第五研究所中国赛宝实验室，
类型：发明
国别省市：广东;44
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