一种红外测温仪外置温度参考源校正系统及方法技术方案

技术编号:24677573 阅读:44 留言:0更新日期:2020-06-27 06:34
本发明专利技术涉及一种红外测温仪外置温度参考源校正系统及方法,其系统包括位移装置和内置有温度传感器的金属挡片;位移装置用于带动金属挡片移动至红外测温仪的镜头前遮蔽镜头,并在镜头前停留预设时间后带动金属挡片从镜头前移除;金属挡片用于作为外部温度测量参考源,并通过内置的温度传感器测量其内部温度;红外测温仪用于获取温度传感器输出的内部温度,并根据内部温度对基准温度重新进行标定。本发明专利技术不仅可以周期性对红外测温仪进行温度校正,同时可以实现红外测温仪在不使用外置黑体设备的前提下仍可对出现的温度漂移现象进行温度校正,避免了购买黑体的较大成本以及布置黑体对使用空间的较高需求,并且能够节省整体测温系统的工作能耗。

A correction system and method of external temperature reference source of infrared thermometer

【技术实现步骤摘要】
一种红外测温仪外置温度参考源校正系统及方法
本专利技术涉及红外测温领域,具体涉及一种红外测温仪外置温度参考源校正系统及方法。
技术介绍
针对如SARS和新冠肺炎等恶性传染病而言,对感染者及时进行识别及妥善处理是阻止疫情持续蔓延的重要手段。由于该类疾病的感染人群常伴有发烧、高热症状,对人群中体温异常者进行筛查就成为识别感染者的主要方法之一。红外测温仪可在不影响行人通行效率的情况下实现对大量人群进行无接触体温测量,该设备适用于机场、火车站、地铁站等人群密度和人流量较大的场所。由于环境影响和红外测温仪器件自身的特性,红外测温仪不可避免的会出现温度漂移,即体温测量错误,进而导致对体温异常者的漏报或者误报。解决上述技术问题的现有技术方案为利用检测视场内固定位置放置的黑体对红外测温仪进行温度的重新标定(固定温度校正),即重新校正红外测温仪基准温度,校正漂移温度。但是该现有技术方案要求在红外测温仪视场内固定位置安放黑体设备,且黑体设备需安置在最佳测温范围内,对使用空间、环境具有严格要求,在供电不便的野外或狭小空间都不便使用此种方案;此外,由于所用黑体设备需额本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种红外测温仪外置温度参考源校正系统,其特征在于:包括位移装置和内置有温度传感器的金属挡片,所述位移装置与红外测温仪配合设置,所述金属挡片安装在所述位移装置上;/n所述位移装置用于在所述红外测温仪进行温度重新标定时,带动所述金属挡片移动至所述红外测温仪的镜头前遮蔽所述镜头,并在所述镜头前停留预设时间后带动所述金属挡片从所述镜头前移除;/n所述金属挡片用于作为外部温度测量参考源,并通过内置的温度传感器测量其内部温度;/n所述红外测温仪用于获取所述温度传感器输出的所述内部温度,并根据所述内部温度对基准温度重新进行标定。/n

【技术特征摘要】
1.一种红外测温仪外置温度参考源校正系统,其特征在于:包括位移装置和内置有温度传感器的金属挡片,所述位移装置与红外测温仪配合设置,所述金属挡片安装在所述位移装置上;
所述位移装置用于在所述红外测温仪进行温度重新标定时,带动所述金属挡片移动至所述红外测温仪的镜头前遮蔽所述镜头,并在所述镜头前停留预设时间后带动所述金属挡片从所述镜头前移除;
所述金属挡片用于作为外部温度测量参考源,并通过内置的温度传感器测量其内部温度;
所述红外测温仪用于获取所述温度传感器输出的所述内部温度,并根据所述内部温度对基准温度重新进行标定。


2.根据权利要求1所述的红外测温仪外置温度参考源校正系统,其特征在于:所述位移装置固定设置在所述红外测温仪的外壳上。


3.根据权利要求1所述的红外测温仪外置温度参考源校正系统,其特征在于:所述位移装置具体为舵机。


4.根据权利要求1至3任一项所述的红外测温仪外置温度参考源校正系统,其特征在于:所述红外测温仪内设有计时器,所述位移装置具体用于当所述计时器累计计时达到预设周期时,带动所述金属挡片移动至所述红外测温仪的镜头前遮蔽所述镜头,并在所述镜头前停留预设时间后,所述计时器清零重新计时,且带动所述金属挡片从所述镜头前移除复位。


5.根据权利要求1至3任一项所述的红外测温仪外置温度参考源校正系统,其特征在于:所述红外测温仪具体用于,当所述金属挡片遮蔽所述镜头时测量所述金属挡片的表面温度,同时获取所述温度传感器当前输出的所述内部温度,根据所述表面温度和所述内部温度之间的相对温度关系重新标定所述基准温度。


6.一种红外测温仪外置温度参考源校正方法,...

【专利技术属性】
技术研发人员:祁海军刘智嘉赵金博高旭辉张浩吴金浩
申请(专利权)人:北京波谱华光科技有限公司
类型:发明
国别省市:北京;11

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